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公開番号
2025102314
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-07-08
出願番号
2023219666
出願日
2023-12-26
発明の名称
点検装置および点検方法
出願人
日新電機株式会社
代理人
弁理士法人 HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
主分類
G01M
99/00 20110101AFI20250701BHJP(測定;試験)
要約
【課題】検出精度を向上できる点検装置を提供する。
【解決手段】点検装置(1)は、圧電素子(11)と、前記圧電素子に交流電圧を印加する印加部(12)と、入力電圧と、出力電流とを演算し、演算結果に応じて前記点検対象の設備の異常を検出する制御部(14)とを備え、前記制御部は、測定された前記入力電圧および前記出力電流に基づいて、前記演算結果の温度補正を行う。
【選択図】図4
特許請求の範囲
【請求項1】
点検対象の設備に設けられる圧電素子と、
前記圧電素子に交流電圧を所定の周波数幅で周波数掃引して印加する印加部と、
前記印加部によって前記圧電素子に印加される電圧値と、前記圧電素子に流れる電流値とを演算し、演算結果に応じて前記点検対象の設備の異常を検出する制御部とを備え、
前記制御部は、測定された前記電圧値および前記電流値に基づいて、前記演算結果の温度補正を行う、点検装置。
続きを表示(約 830 文字)
【請求項2】
前記制御部は、前記電流値を前記電圧値で割ったアドミタンス実部のピーク値に応じて、前記点検対象の設備の異常を検出する、請求項1に記載の点検装置。
【請求項3】
前記制御部は、前記電圧値と前記電流値とをフーリエ変換し、各周波数成分において計算したアドミタンス実部のピーク値に応じて、前記点検対象の設備の異常を検出する、請求項2に記載の点検装置。
【請求項4】
前記制御部は、前記温度補正として、第1周波数範囲における前記アドミタンス実部の値に基づいて、前記第1周波数範囲とは異なる第2周波数範囲における前記アドミタンス実部の値の補正を行い、
前記第1周波数範囲における前記アドミタンス実部の最大値と最小値との差は、前記第2周波数範囲における前記アドミタンス実部の最大値と最小値との差より小さい、請求項3に記載の点検装置。
【請求項5】
前記制御部は、前記温度補正として、前記アドミタンス実部の周波数特性を示す近似曲線が、所定の曲線に近づくように、前記アドミタンス実部の値の補正を行う、請求項3に記載の点検装置。
【請求項6】
前記制御部は、前記温度補正として、前記アドミタンス実部の周波数特性を示す近似曲線が、所定の曲線に近づくように、前記電圧値の調整を行う、請求項3に記載の点検装置。
【請求項7】
点検対象の設備に設けられる圧電素子に電圧を所定の周波数幅で周波数掃引して印加する印加ステップと、
前記圧電素子に印加される電圧値と、前記圧電素子に流れる電流値とを演算し、演算結果に応じて前記点検対象の設備の異常を検出する検出ステップと、を含む点検方法であって、
前記印加ステップの後、かつ、前記検出ステップの前に、測定された前記電圧値および前記電流値に基づいて、前記演算結果の温度補正を行う温度補正ステップをさらに含む、点検方法。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、点検装置および点検方法に関する。
続きを表示(約 1,600 文字)
【背景技術】
【0002】
従来、点検対象の設備に振動を加えたときの、当該設備の共振特性を検出することにより、当該設備の異常の有無を検出する技術が知られている。例えば、特許文献1には、点検対象に設けた圧電素子に電圧を周波数掃引して印加したとき(すなわち、当該設備に振動を加えたとき)に得られる、(当該設備の共振特性を示す)圧電素子のアドミタンス実部から、当該設備の異常を検出する点検装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2022-65534号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、特許文献1の技術においては、圧電素子の周囲温度の変化に伴って、圧電素子の出力値(アドミタンス実部)が変化することが考慮されていない。すなわち、周囲温度によっては、点検装置の検出精度が低下してしまう可能性がある。
【0005】
本発明の一態様は、検出精度を向上できる点検装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る点検装置は、点検対象の設備に設けられる圧電素子と、前記圧電素子に交流電圧を所定の周波数幅で周波数掃引して印加する印加部と、前記印加部によって前記圧電素子に印加される電圧値と、前記圧電素子に流れる電流値とを演算し、演算結果に応じて前記点検対象の設備の異常を検出する制御部とを備え、前記制御部は、測定された前記電圧値および前記電流値に基づいて、前記演算結果の温度補正を行う。
【0007】
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る点検方法は、点検対象の設備に設けられる圧電素子に電圧を所定の周波数幅で周波数掃引して印加する印加ステップと、前記圧電素子に印加される電圧値と、前記圧電素子に流れる電流値とを演算し、演算結果に応じて前記点検対象の設備の異常を検出する検出ステップと、を含む点検方法であって、前記印加ステップの後、かつ、前記検出ステップの前に、測定された前記電圧値および前記電流値に基づいて、前記演算結果の温度補正を行う温度補正ステップをさらに含む。
【発明の効果】
【0008】
本発明の一態様によれば、点検装置の検出精度を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
本発明の一実施形態に係る点検装置が設置されるガス遮断器の内部構造を示す図である。
上記ガス遮断器の外観例を示す図である。
上記点検装置の圧電素子が設置される位置を示す図である。
上記点検装置の機能的構成を示すブロック図である。
周囲温度が0℃および20℃である場合の、アドミタンス実部の値の周波数特性を示すグラフである。
アドミタンス実部の測定値の周波数特性を示すグラフである。
アドミタンス実部の値の温度特性を示すグラフである。
アドミタンス実部の測定値およびアドミタンス実部の補正値の周波数特性を示すグラフである。
周囲温度が基準温度である場合のアドミタンス実部の値およびアドミタンス実部の補正値の周波数特性を示すグラフである。
上記点検装置が上記ガス遮断器の異常を検出する処理の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0010】
〔実施形態1〕
以下、本発明の一実施形態について、詳細に説明する。なお、説明の便宜上、同一の部材には同一の符号を付し、それらの名称および機能も同一である。したがって、それらの詳細な説明は繰り返さない。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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