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公開番号2025147400
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-10-07
出願番号2024047634
出願日2024-03-25
発明の名称位置測定システム、位置測定方法及びプログラム
出願人カシオ計算機株式会社
代理人弁理士法人光陽国際特許事務所
主分類G01B 11/00 20060101AFI20250930BHJP(測定;試験)
要約【課題】複数の撮像装置がなくとも、対象物の測位を可能とする。
【解決手段】位置測定システムは、空間50における設置位置及び撮影方向が既知であるカメラ30(撮像装置)により取得された画像から、空間50を移動可能な発光装置20からの光を直接受光する直接像の位置、及び、発光装置20により発せられた光が空間50内の床面51(所定の平面)で反射された反射光による反射像の位置を取得し、画像における直接像の位置、及び、反射像の位置に基づいて、空間50における発光装置20の3次元位置を取得する。
【選択図】図4
特許請求の範囲【請求項１】
空間における設置位置及び撮影方向が既知である撮像装置により取得された画像から、前記空間を移動可能な発光装置からの光を直接受光する直接像の位置、及び、前記発光装置により発せられた光が前記空間内の所定の平面で反射された反射光による反射像の位置を取得し、
前記画像における前記直接像の位置、及び、前記反射像の位置に基づいて、前記空間における前記発光装置の３次元位置を取得する、
制御部を備える位置測定システム。
続きを表示（約 1,000 文字）【請求項２】
前記制御部は、
前記画像における前記直接像の位置から、前記所定の平面に直交し前記撮像装置及び前記発光装置を含む仮想平面に含まれる、前記所定の平面に平行な直線と、前記撮像装置と前記発光装置とを結ぶ線分とのなす角度である第１角度を求め、
前記画像における前記反射像の位置から、前記直線と、前記撮像装置と前記所定の平面上の前記発光装置により発せられた光の反射位置とを結ぶ線分とのなす角度である第２角度を求め、
前記第１角度及び前記第２角度から、前記直線に平行な方向における前記撮像装置と前記発光装置との距離である第１距離、及び、前記所定の平面に直交する方向における前記撮像装置と前記発光装置との距離である第２距離を算出し、
前記第１距離及び前記第２距離に基づいて、前記空間における前記発光装置の３次元位置を取得する、
請求項１に記載の位置測定システム。
【請求項３】
前記発光装置は、可視光領域の光を変調して当該発光装置の識別情報を発信するものであり、
前記制御部は、前記画像から同一の識別情報に対応する前記直接像の位置及び前記反射像の位置を取得する、
請求項１又は２に記載の位置測定システム。
【請求項４】
空間における設置位置及び撮影方向が既知である撮像装置により取得された画像から、前記空間を移動可能な発光装置からの光を直接受光する直接像の位置、及び、前記発光装置により発せられた光が前記空間内の所定の平面で反射された反射光による反射像の位置を取得する工程と、
前記画像における前記直接像の位置、及び、前記反射像の位置に基づいて、前記空間における前記発光装置の３次元位置を取得する工程と、
を含む位置測定方法。
【請求項５】
コンピュータを、
空間における設置位置及び撮影方向が既知である撮像装置により取得された画像から、前記空間を移動可能な発光装置からの光を直接受光する直接像の位置、及び、前記発光装置により発せられた光が前記空間内の所定の平面で反射された反射光による反射像の位置を取得する手段、
前記画像における前記直接像の位置、及び、前記反射像の位置に基づいて、前記空間における前記発光装置の３次元位置を取得する手段、
として機能させるためのプログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、位置測定システム、位置測定方法及びプログラムに関する。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、複数のカメラでマーカを撮像し、空間におけるマーカの位置を測定する技術が知られている（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
国際公開第２００５／１２４６８７号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記特許文献１に記載の技術では、複数のカメラ（撮像装置）が必要なため、測位の状況によって対象物の測位ができないおそれがあった。
【０００５】
本発明は、上記の従来技術における問題に鑑みてなされたものであって、複数の撮像装置がなくとも、対象物の測位を可能とすることを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため、本発明に係る位置測定システムは、空間における設置位置及び撮影方向が既知である撮像装置により取得された画像から、前記空間を移動可能な発光装置からの光を直接受光する直接像の位置、及び、前記発光装置により発せられた光が前記空間内の所定の平面で反射された反射光による反射像の位置を取得し、前記画像における前記直接像の位置、及び、前記反射像の位置に基づいて、前記空間における前記発光装置の３次元位置を取得する、制御部を備える。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、複数の撮像装置がなくとも、対象物の測位が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
本発明の実施形態における位置測定システムの構成を示す図である。
発光装置の構成を示すブロック図である。
サーバの構成を示すブロック図である。
カメラを利用した３次元測位について説明するための図である。
サーバにおいて実行される位置測定処理を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明に係る位置測定システム、位置測定方法及びプログラムの実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、以下に述べる実施形態には、本発明を実施するために技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の技術的範囲を以下の実施形態及び図示例に限定するものではない。
【００１０】
図１に示すように、本実施形態における位置測定システム１は、フォークリフト１０ａ，１０ｂ，１０ｃと、発光装置２０ａ，２０ｂ，２０ｃと、撮像装置としてのカメラ３０ａ，３０ｂ，３０ｃと、ハブ３１と、サーバ４０と、から構成される。位置測定システム１が適用される空間５０は、互いに直交するＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸の座標によって、３次元位置が特定される。Ｘ軸及びＹ軸は水平面を含む方向に取られており、ＸＹ平面は空間５０の床面５１（図４参照）と平行である。Ｚ軸は、鉛直方向に沿った軸である。なお、図１では、空間５０の上面図を模式的に示しているが、フォークリフト１０ａ，１０ｂ，１０ｃについては、空間５０の床面５１を走行する姿を側面から見た図（上下方向がＺ軸方向に相当する図）となっており、実際の向きと異なっている。
（【００１１】以降は省略されています）

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