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公開番号2025079727
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-05-22
出願番号2023192581
出願日2023-11-10
発明の名称前処理装置または分析装置
出願人株式会社島津製作所
代理人個人,個人,個人
主分類G01N 35/10 20060101AFI20250515BHJP(測定;試験)
要約【課題】取付対象物から除去対象物を除去するためのティーチングの精度を緩和することが可能な前処理装置または分析装置を提供する。
【解決手段】前処理装置200または分析装置は、取付対象物、除去装置100および搬送装置220を含む。取付対象物には、除去対象物が取り付けられる。取付対象物は、試料の前処理または分析に用いられる。除去装置100は、X方向に摺動可能に設けられた摺動部を有する。搬送装置220は、ティーチングにより定められた移動経路に従って取付対象物と除去装置100とを相対的に搬送する。摺動部は、除去部21aおよびガイド部21bを有する。ガイド部21bは、取付対象物と接触することにより、取付対象物と除去部21aとがX方向に交差するY方向に並ぶように当該摺動部をX方向に摺動させる。除去部21aは、取付対象物から除去対象物を除去する。
【選択図】図7
特許請求の範囲【請求項１】
試料の前処理または分析に用いられるとともに、除去対象物が取り付けられる取付対象物と、
第１の方向に摺動可能に設けられた摺動部を有する除去装置と、
ティーチングにより定められた移動経路に従って前記取付対象物と前記除去装置とを相対的に搬送する搬送装置とを備え、
前記摺動部は、
前記取付対象物から前記除去対象物を除去するための除去部と、
前記取付対象物と接触することにより、前記取付対象物と前記除去部とが前記第１の方向に交差する第２の方向に並ぶように当該摺動部を前記第１の方向に摺動させるガイド部とを有する、前処理装置または分析装置。
続きを表示（約 840 文字）【請求項２】
前記摺動部には、スリットが形成され、
前記除去部は、前記第１の方向において、前記除去対象物の外形よりも小さい幅を有する前記スリットの部分である、請求項１記載の前処理装置または分析装置。
【請求項３】
前記ガイド部は、前記第１の方向における前記幅を大きくしつつ前記除去部から前記第２の方向に延びる前記スリットの部分である、請求項２記載の前処理装置または分析装置。
【請求項４】
前記除去部は、前記第２の方向に延びる形状を有する、請求項１～３のいずれか一項に記載の前処理装置または分析装置。
【請求項５】
前記除去装置は、
固定部と、
前記摺動部を前記第１の方向に摺動可能に前記固定部に保持する連結部とをさらに有する、請求項１～３のいずれか一項に記載の前処理装置または分析装置。
【請求項６】
前記摺動部には、前記連結部が挿通される貫通孔が形成され、
前記貫通孔は、前記第１の方向において前記第２の方向よりも大きい寸法を有する、請求項５記載の前処理装置または分析装置。
【請求項７】
前記摺動部には、前記連結部が挿通される貫通孔が形成され、
前記貫通孔は、前記連結部の外形の寸法よりも一定値以上大きい寸法を有する、請求項５記載の前処理装置または分析装置。
【請求項８】
前記固定部および前記摺動部は、金属材料により形成される、請求項５記載の前処理装置または分析装置。
【請求項９】
前記除去装置は、前記固定部と前記摺動部との間に配置され、かつ非金属材料により形成されるワッシャをさらに有する、請求項５記載の前処理装置または分析装置。
【請求項１０】
前記除去装置は、前記第１の方向における前記摺動部の位置を示す位置提示部をさらに有する、請求項１～３のいずれか一項に記載の前処理装置または分析装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、前処理装置または分析装置に関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
試料の前処理装置においては、所定の容器から試料または試薬を吸引して別の容器に吐出する分注処理が行われる。例えば、特許文献１には、分注機構を有する前処理装置が記載されている。分注機構のチップ脱着部には、チップが装着される。また、前処理装置には、薄い板状のカバー部材が設けられる。また、カバー部材には、チップを引っ掛けるための引っ掛け部が複数設けられている。
【０００３】
分注機構により分注処理が実行された後、チップはチップ脱着部に取り付けられた状態で、カバー部材に設けられた所定の引っ掛け位置に搬送される。次に、チップ脱着部がカバー部材から離間することにより、カバー部材の引っ掛け部がチップの上端面に引っ掛かり、チップ脱着部からチップが取り外される。取り外されたチップは、廃棄される。その後、チップ脱着部に別のチップが装着され、同様の分注処理が繰り返される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
国際公開第２０２３／０３７６３９号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１の前処理装置においては、カバー部材の引っ掛け部にチップの上端面を引っ掛けるために、チップを引っ掛け部に正確に搬送する必要がある。しかしながら、高い精度でチップの位置を前処理装置にティーチングすることは容易ではない。ティーチングの精度が低い場合、分注機構が前処理装置の他の部品と衝突することが多発する。また、衝突により分注機構に損傷が発生すると、分注の精度が低下する。
【０００６】
本発明の目的は、取付対象物から除去対象物を除去するためのティーチングの精度を緩和することが可能な前処理装置または分析装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様は、試料の前処理または分析に用いられるとともに、除去対象物が取り付けられる取付対象物と、第１の方向に摺動可能に設けられた摺動部を有する除去装置と、ティーチングにより定められた移動経路に従って前記取付対象物と前記除去装置とを相対的に搬送する搬送装置とを備え、前記摺動部は、前記取付対象物から前記除去対象物を除去するための除去部と、前記取付対象物と接触することにより、前記取付対象物と前記除去部とが前記第１の方向に交差する第２の方向に並ぶように当該摺動部を前記第１の方向に摺動させるガイド部とを有する、前処理装置または分析装置に関する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、取付対象物から除去対象物を除去するためのティーチングの精度を緩和することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
本発明の一実施の形態に係る前処理装置を示す斜視図である。
除去装置の分解斜視図である。
摺動プレートの構成を示す平面図である。
除去装置の断面図である。
除去装置によるチップの除去動作を説明するための図である。
除去装置によるチップの除去動作を説明するための図である。
除去装置によるチップの除去動作を説明するための図である。
位置決め孔の用途を説明するための図である。
位置決め孔の用途を説明するための図である。
位置決め孔の用途を説明するための図である。
本発明の他の実施の形態に係る分析装置を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
１．前処理装置
以下、本発明の実施の形態に係る前処理装置について図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の一実施の形態に係る前処理装置を示す斜視図である。図１に示すように、前処理装置２００においては、水平面内で互いに直交するＸ方向およびＹ方向が定義されるとともに、水平面に直交するＺ方向が定義される。Ｘ方向が第１の方向の例であり、Ｙ方向が第２の方向の例である。図１および以降の図においては、Ｘ方向、Ｙ方向およびＺ方向が、矢印Ｘ，Ｙ，Ｚにより適宜示される。
（【００１１】以降は省略されています）

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