特許ウォッチ

公開番号2025077659
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-05-19
出願番号2023190025
出願日2023-11-07
発明の名称検査用ソケット
出願人エム・アイ・エステクノロジー株式会社
代理人個人
主分類G01R 31/26 20200101AFI20250512BHJP(測定;試験)
要約【課題】本発明は、それぞれサイズの異なる被検査対象の電子部品に対応可能な検査用ソケットを提供する。
【解決手段】本発明は、本体基板4と、電子部品5の一方の電極面51に接触する固定電極端子6を具備し、前記固定電極端子6が前記電子部品載置溝7に突出すると共に、前記本体基板4に固定される固定ブロック部8と、他方の電極部3と電気的に接続され、前記固定電極端子6に対峙するように前記電子部品載置溝7に対して延出すると共に、前記電子部品5の他方の電極面52に接触する移動電極端子9を具備し、前記固定ブロック部8に対して摺動自在に移動可能な移動ブロック部10と、前記移動ブロック部10を前記固定ブロック部8に対して付勢する付勢手段としてスプリング11とを具備し、前記電子部品載置溝7が、下方を頂点とする直角二等辺三角形状の底面とする略三角柱形状であることにある。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
長手方向両端に電極面を有する直方体形状の電子部品の検査を行うためのソケットにおいて、
検査用基板上の配線端子に接続される一対の電極部が固定される本体基板と、
前記一方の電極部と電気的に接続され、前記電子部品の一方の電極面に接触する固定電極端子を具備し、前記電子部品を載置するためのＶ字型断面を有する電子部品載置溝が形成され、前記固定電極端子が前記電子部品載置溝に突出すると共に、前記本体基板に固定される固定ブロック部と、
前記他方の電極部と電気的に接続され、前記固定電極端子に対峙するように前記電子部品載置溝に対して延出すると共に、前記電子部品の他方の電極面に接触する移動電極端子を具備し、前記固定ブロック部に対して摺動自在に移動可能な移動ブロック部と、
前記移動ブロック部を前記固定ブロック部に対して付勢する付勢手段とを具備することを特徴とする検査用ソケット。
続きを表示（約 240 文字）【請求項２】
前記電子部品載置溝は、直角二等辺三角形状の底面とする略三角柱形状であることを特徴とする請求項1記載の検査用ソケット。
【請求項３】
前記固定電極端子及び前記移動電極端子は、上下に並設された接触部からなる双頭先端部を有し、それぞれの双頭先端部は、お互いに対峙することを特徴とする請求項１又は２記載の検査用ソケット。
【請求項４】
前記電子部品は、コンデンサであることを特徴とする請求項１～３のいずれか1つに記載の検査用ソケット。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、長手方向の一方の端部に正電極、他方端部に負電極を有する電子部品を検査するために、検査用のソケットであって、電子部品の大きさにかかわらず汎用的に電子部品を装着可能な検査用ソケットに関する。
続きを表示（約 2,200 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１（特開２００８－９６３９０号公報）に開示されるコンタクトプローブユニット及び検査用ソケットは、複数のコンタクトプローブと、前記各コンタクトプローブを相互に間隔を開けて一体的に支持する支持部材とを備えるものである。また、特許文献１は、前記支持部材は基板を含み、前記基板上に電子部品を搭載し、前記各コンタクトプローブを前記電子部品に接続したことを開示する。ここで、前記電子部品は、コンデンサであることも開示される。特許文献１には、また前記コンタクトプローブユニットと、単体のコンタクトプローブとが共に組み込まれた検査用ソケットも開示する。
【０００３】
特許文献２（特開２００９－８５９４８号公報）は、チップコンデンサなどの部品を実装可能な構造を有する検査用ソケットを開示する。この検査用ソケットは、第１面、該第１面と反対側の第２面、及び前記第１面と前記第２面を連通する第１貫通孔及び第２貫通孔を有し、前記第１面、前記第２面、前記第１貫通孔及び前記第２貫通孔は、導電性のメッキ被膜で覆われ、絶縁性材料からなる支持ブロックと、前記第１面側に設けられる被検査デバイスの端子と前記第２面側に設けられる検査装置に接続された端子とを電気的に接続するための、前記第１貫通孔に設けられ前記第１貫通孔のメッキ被膜と導通する第１プローブ及び第２貫通孔に設けられ前記第２貫通孔の前記メッキ被膜と導通する第２プローブと、弟子部品と、を有し、前記メッキ被膜を介して第１プローブと導通する第１領域と、前記メッキ被膜を介して前記第２プローブと導通し、前記第１領域と電気的に隔てられた第２領域と、に固定するパターンは、前記第１面及び第２面の前記メッキ被膜を部分的に除去することにより形成され、前記電子部品の電極は、前記第１領域及び前記第２領域のそれぞれと接続されるものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２００８－９６３９０号公報
特開２００９－８５９４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述した特許文献１及び２は、チップコンデンサなどの部品を実装可能な構造を有し、信頼性及び耐久性に優れた検査用ソケットを提供するものである。現在、積層セラミックチップコンデンサ（ＭＬＣＣ）については、サイズ０４０２（０．４×０．２ｍｍ）、０６０３（０．６×０．３ｍｍ）、１００５（１．０×０．５ｍｍ）、１６０８（１．６～０．８ｍｍ）、２０１２（２．０×１．２５ｍｍ）、３２１６（３．２×１．６ｍｍ）及び５０２５（５．０×２．５ｍｍ）があり、それぞれについて検査を行うには、それぞれ専用のソケットが必要になる。
【０００６】
このため、本発明は、それぞれサイズの異なる被検査対象の電子部品に対応可能な検査用ソケットを提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る検査用ソケットは、長手方向両端に電極面を有する直方体形状の電子部品の検査を行うためのソケットにおいて、検査用基板上の配線端子に接続される一対の電極部が固定される本体基板と、前記一方の電極部と電気的に接続され、前記電子部品の一方の電極面に接触する固定電極端子を具備し、前記電子部品を載置するためのＶ字型断面を有する電子部品載置溝が形成され、前記固定電極端子が前記電子部品載置溝に突出すると共に、前記本体基板に固定される固定ブロック部と、前記他方の電極部と電気的に接続され、前記固定電極端子に対峙するように前記電子部品載置溝に対して延出すると共に、前記電子部品の他方の電極面に接触する移動電極端子を具備し、前記固定ブロック部に対して摺動自在に移動可能な移動ブロック部と、前記移動ブロック部を前記固定ブロック部に対して付勢する付勢手段とを具備することにある。尚、前記電子部品載置溝は、下方を頂点とする直角二等辺三角形状の底面とする略三角柱形状であることが望ましい。
【０００８】
これによって、移動ブロック部を、固定ブロック部に対して、前記移動電極端子を前記固定電極端子から離す方向に、付勢手段に抗して移動させ、前記電子部品載置溝に検査対象である電子部品を載置し、移動ブロック部への付勢を解除することによって電子部品を前記固定電極端子と前記移動電極端子によって挟み込むことができるため、電子部品の大きさに対応させることができるものである。
【０００９】
また、前記電子部品載置溝は、下方を頂点とする直角二等辺三角形状を底面とする略三角柱形状としたことによって、直方体形状の電子部品を載置した場合、大きさの異なる電子部品のそれぞれの電極面の対角線の１つが鉛直方向に重なり合うので、電子部品の電極面に移動電極端子及び固定電極端子を確実に接触させることができるものである。
【００１０】
前記固定電極端子及び前記移動電極端子は、上下に並設された接触部からなる双頭先端部を有し、それぞれの双頭先端部は、お互いに対峙することが好ましい。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許