TOP
|
特許
|
意匠
|
商標
特許ウォッチ
Twitter
他の特許を見る
10個以上の画像は省略されています。
公開番号
2025076203
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-05-15
出願番号
2023188034
出願日
2023-11-01
発明の名称
ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法
出願人
株式会社島津製作所
代理人
個人
,
個人
主分類
G01N
27/82 20060101AFI20250508BHJP(測定;試験)
要約
【課題】ワイヤロープの欠陥に起因するピーク波形とワイヤロープの欠陥以外の状態に起因するピーク波形とを区別することによって、ワイヤロープの欠陥を精度良く判定することが可能なワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法を提供する。
【解決手段】このワイヤロープ検査システム100は、ワイヤロープ検査装置101と、ワイヤロープWの欠陥を判定する処理装置102とを備え、ワイヤロープ検査装置101は、励磁部20と、検出信号を取得する検出部30とを含み、処理装置102は、検出部30により取得された検出信号に基づく信号波形に対して検査対象の異なる位置の信号値の差分に基づいて差分処理を実行することによって差分波形1を取得するとともに、取得した差分波形1におけるピーク波形の高さ2およびピーク波形の幅4に基づいて、ワイヤロープWの欠陥であるか否かを判定する。
【選択図】図8
特許請求の範囲
【請求項1】
検査対象であるワイヤロープの磁束の変化を検出するワイヤロープ検査装置と、
前記ワイヤロープ検査装置による前記ワイヤロープの測定結果に基づいて、前記ワイヤロープの欠陥を判定する処理装置と、を備え、
前記ワイヤロープ検査装置は、前記ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、前記ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、前記励磁部により磁界が印加された前記ワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得する検出部と、を含み、
前記処理装置は、前記検出部により取得された前記検出信号に基づく信号波形に対して前記検査対象の異なる位置の信号値の差分に基づいて差分処理を実行することによって差分波形を取得するとともに、取得した前記差分波形におけるピーク波形の高さおよび前記ピーク波形の幅に基づいて、前記ワイヤロープの欠陥であるか否かを判定する、ワイヤロープ検査システム。
続きを表示(約 1,300 文字)
【請求項2】
前記処理装置は、前記差分波形における前記ピーク波形の高さが高さ閾値よりも大きい場合に、前記差分波形における前記ピーク波形の幅に基づいて前記ワイヤロープの欠陥であるか否かを判定する、請求項1に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項3】
前記処理装置は、前記差分波形における前記ピーク波形の高さが高さ閾値よりも大きく、かつ、前記差分波形における前記ピーク波形の幅が所定の範囲にある場合に、前記ワイヤロープの欠陥であると判定する、請求項1に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項4】
前記処理装置は、前記差分波形における前記ピーク波形の高さが高さ閾値よりも大きく、かつ、前記差分波形における前記ピーク波形の幅が第1幅閾値よりも小さい範囲にある場合に、前記ワイヤロープの欠陥としての前記ワイヤロープの素線断線であると判定する、請求項3に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項5】
前記処理装置は、前記差分波形における前記ピーク波形の高さが高さ閾値よりも大きく、かつ、前記差分波形における前記ピーク波形の幅が第1幅閾値よりも大きい第2幅閾値よりも大きい範囲にある場合に、前記ワイヤロープの欠陥としての回復不能な塑性変形である前記ワイヤロープのキンクであると判定する、請求項3に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項6】
前記ワイヤロープの欠陥は、前記ワイヤロープの素線断線と、回復不能な塑性変形である前記ワイヤロープのキンクとを含み、
前記処理装置は、前記差分波形における前記ピーク波形の幅が第1幅閾値と前記第1幅閾値よりも大きい第2幅閾値との間である場合に、前記ワイヤロープの欠陥ではないと判定する、請求項3に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項7】
前記差分波形における前記ピーク波形の高さは、前記ピーク波形の両端部の谷の底部に基づく値から前記ピーク波形のピークに基づく値までの実効高さである、請求項1に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項8】
前記差分波形における前記ピーク波形の幅は、前記実効高さの範囲内の高さ位置における前記ピーク波形の幅である、請求項7に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項9】
前記差分波形における前記ピーク波形の幅は、前記ピーク波形における前記実効高さの半値幅である、請求項8に記載のワイヤロープ検査システム。
【請求項10】
前記処理装置は、前記検出部により取得された前記検出信号に基づく前記信号波形に対して移動平均処理を実行することによって移動平均波形を取得し、取得した前記移動平均波形に対して前記差分処理を実行することによって前記差分波形を取得するとともに、取得した前記差分波形における前記ピーク波形の高さおよび前記ピーク波形の幅に基づいて、前記ワイヤロープの欠陥であるか否かを判定する、請求項1に記載のワイヤロープ検査システム。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法に関する。
続きを表示(約 2,200 文字)
【背景技術】
【0002】
従来、ワイヤロープ検査システムが知られている(たとえば、特許文献1参照)。
【0003】
上記特許文献1に記載されている過流探傷装置(ワイヤロープ検査システム)は、励磁コイルおよび検出コイルと、コントローラとを備える。励磁コイルは、ワイヤロープに対してワイヤロープの長手方向に磁界を印加するように構成されている。検出コイルは、ワイヤロープから生じるワイヤロープの長手方向の漏洩磁化を検出して検出信号を出力するように構成されている。コントローラは、検出信号に基づくピーク波形の有無によりワイヤロープの欠陥を判定するように構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2003-302379号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
ここで、本願発明者は、たとえば使用期間が長いワイヤロープの検査において、生成された信号波形に基づくピーク波形の高さが高い位置に対応する部分のワイヤロープにおいて、素線断線などの欠陥が生じている場合と、上記欠陥が生じていない場合とがあるという知見を見出した。すなわち、本願発明者は、ワイヤロープに上記欠陥が生じていない部分においても、上記欠陥が生じている部分と同様にピーク波形として検出される場合があるという知見を見出した。そして、本願発明者は、検出されたピーク波形が、ワイヤロープの欠陥に起因するピーク波形であるか、ワイヤロープの欠陥以外の状態に起因するピーク波形であるか区別することが困難であるという問題点を見出した。よって、ワイヤロープの欠陥に起因するピーク波形とワイヤロープの欠陥以外の状態に起因するピーク波形とを区別することによって、ワイヤロープの欠陥を精度良く判定することが望まれている。
【0006】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、ワイヤロープの欠陥に起因するピーク波形とワイヤロープの欠陥以外の状態に起因するピーク波形とを区別することによって、ワイヤロープの欠陥を精度良く判定することが可能なワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
この発明の第1の局面におけるワイヤロープ検査システムは、検査対象であるワイヤロープの磁束の変化を検出するワイヤロープ検査装置と、ワイヤロープ検査装置によるワイヤロープの測定結果に基づいて、ワイヤロープの欠陥を判定する処理装置と、を備え、ワイヤロープ検査装置は、ワイヤロープに対して磁界を印加する励磁部と、ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、励磁部により磁界が印加されたワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得する検出部と、を含み、処理装置は、検出部により取得された検出信号に基づく信号波形に対して検査対象の異なる位置の信号値の差分に基づいて差分処理を実行することによって差分波形を取得するとともに、取得した差分波形におけるピーク波形の高さおよびピーク波形の幅に基づいて、ワイヤロープの欠陥であるか否かを判定する。
【0008】
この発明の第2の局面におけるワイヤロープ検査方法は、検査対象であるワイヤロープに対して磁界を印加するステップと、ワイヤロープに対して相対的に移動しながら、磁界が印加されたワイヤロープの磁束の変化を検出することによって検出信号を取得するステップと、取得した検出信号に基づく信号波形に対して検査対象の異なる位置の信号値の差分に基づいて差分処理を実行することによって差分波形を取得するステップと、取得した差分波形におけるピーク波形の高さおよびピーク波形の幅に基づいて、ワイヤロープの欠陥であるか否かを判定するステップとを備える。
【発明の効果】
【0009】
本願発明者は、ワイヤロープの磁束の変化を検出する検出コイルの検出信号に基づく信号波形を差分処理した差分波形において、ピーク波形の高さだけでなく、ピーク波形の幅にも着目した。そして、本願発明者は、鋭意検討した結果、信号波形を差分処理した差分波形におけるピーク波形の高さおよび差分波形におけるピーク波形の幅の両方に基づくことにより、ワイヤロープの欠陥であるか否かを精度良く判定することができることを見出し、本願発明を想到するに至った。
【0010】
すなわち、上記第1の局面におけるワイヤロープ検査システムおよび上記第2の局面におけるワイヤロープ検査方法では、取得された検出信号に基づく信号波形に対して検査対象の異なる位置の信号値の差分に基づいて差分処理を実行することによって差分波形を取得するとともに、取得した差分波形におけるピーク波形の高さおよびピーク波形の幅に基づいて、ワイヤロープの欠陥であるか否かを判定する。これにより、差分波形におけるピーク波形の高さおよびピーク波形の幅に基づいて、ワイヤロープの欠陥に起因するピーク波形とワイヤロープの欠陥以外の状態に起因するピーク波形とを区別することができる。そのため、ワイヤロープの欠陥を精度良く判定することができる。
【図面の簡単な説明】
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPatで参照する
関連特許
株式会社島津製作所
ガスクロマトグラフ質量分析システム
2日前
株式会社島津製作所
水中光通信システムおよび水中光通信方法
2日前
株式会社島津製作所
ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法
2日前
個人
粒子分析装置
23日前
株式会社イシダ
計量装置
17日前
日本精機株式会社
表示装置
3日前
個人
準結晶の解析方法
9日前
株式会社エビス
水準器
2日前
日本精機株式会社
アセンブリ
9日前
個人
アクセサリー型テスター
24日前
株式会社豊田自動織機
自動走行体
8日前
東レ株式会社
シート状物の検査方法
1か月前
株式会社テイエルブイ
振動検出装置
23日前
日本碍子株式会社
ガスセンサ
2日前
株式会社ミツトヨ
画像測定機
25日前
栄進化学株式会社
浸透探傷用濃縮液
1か月前
エイブリック株式会社
電流検出回路
1か月前
株式会社チノー
放射光測温装置
1か月前
トヨタ自動車株式会社
検査装置
17日前
ダイハツ工業株式会社
試料セル
23日前
GEE株式会社
光学特性測定装置
8日前
大和製衡株式会社
計量装置
1か月前
トヨタ自動車株式会社
電気自動車
24日前
日本特殊陶業株式会社
ガスセンサ
1か月前
日本特殊陶業株式会社
ガスセンサ
1か月前
株式会社 キョーワ
食品搬送装置
1か月前
日本特殊陶業株式会社
ガスセンサ
9日前
株式会社不二越
X線測定装置
3日前
大成建設株式会社
画像表示システム
1か月前
富士電機株式会社
エンコーダ
1か月前
東ソー株式会社
簡易型液体クロマトグラフ
19日前
株式会社TISM
センサ部材
8日前
株式会社不二越
X線測定装置
3日前
日本碍子株式会社
ガスセンサ
1か月前
理研計器株式会社
ガス検出器
25日前
理研計器株式会社
ガス検出器
25日前
続きを見る
他の特許を見る