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公開番号2025078340
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-05-20
出願番号2023190829
出願日2023-11-08
発明の名称電流センス回路
出願人ルネサスエレクトロニクス株式会社
代理人個人
主分類G01R 19/00 20060101AFI20250513BHJP(測定;試験)
要約【課題】劣化または破壊から保護した電流センス回路を提供する。
【解決手段】電流センス回路は、カレントミラー回路QN1、QN2と、ベース同士を接続したQP1、QP2及びQP3、QP4のダイオード接続側(QN1、QP1、QP3)を揃えて積み重ねQP2のエミッタとQP4のコレクタを接続する。また、QN2とQP2のコレクタにMP1とMP2のゲートが接続される。また、MP1のソースはMP2のソースからドレインを介してMP3のドレインに接続されると共にSense MOSのソースに接続される。また、QP4のエミッタはR1経由でMP4のソースに接続され、MP4のドレインは、Main MOSのソース(OUT端子)に接続される。また、MP3とMP4のゲートはQN1とQN2のエミッタに接続される。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項1】
BIAS電流を出力するエミッタと、ベースに接続されたコレクタと、を備える第1のNPNバイポーラトランジスタと、
前記第1のNPNバイポーラトランジスタの前記エミッタに接続されたエミッタと、前記第1のNPNバイポーラトランジスタの前記ベースに接続されたベースと、を備える第2のNPNバイポーラトランジスタと、
前記第1のNPNバイポーラトランジスタの前記コレクタに接続されたコレクタと、前記コレクタに接続されたベースと、を備える第1のPNPバイポーラトランジスタと、
前記第2のNPNバイポーラトランジスタのコレクタに接続されたコレクタと、前記第1のPNPバイポーラトランジスタの前記ベースに接続されたベースと、を備える第2のPNPバイポーラトランジスタと、
前記第1のPNPバイポーラトランジスタのエミッタに接続されたコレクタと、前記コレクタに接続されたベースと、を備える第3のPNPバイポーラトランジスタと、
前記第2のPNPバイポーラトランジスタのエミッタに接続されたコレクタと、前記第3のPNPバイポーラトランジスタのベースに接続されたベースと、を備える、第4のPNPバイポーラトランジスタと、
前記第2のNPNバイポーラトランジスタの前記コレクタに接続されたゲートと、SENSE電流を出力するドレインと、を備える第1のPチャネル型トランジスタと、
前記第2のNPNバイポーラトランジスタの前記コレクタに接続されたゲートと、前記第1のPチャネル型トランジスタのソースに接続されたソースと、を備える第2のPチャネル型トランジスタと、
前記第1のNPNバイポーラトランジスタの前記エミッタに接続されたゲートと、第3のPNPバイポーラトランジスタのエミッタに接続されたソースと、を備える第3のPチャネル型トランジスタと、
前記第1のNPNバイポーラトランジスタの前記エミッタに接続されたゲートと、前記第4のPNPバイポーラトランジスタのエミッタに接続されたソースと、を備える第4のPチャネル型トランジスタと、
前記第4のPチャネル型トランジスタのドレインに接続された第1の端子を備える抵抗と、
前記第3のPチャネル型トランジスタのドレイン及び前記第2のPチャネル型トランジスタのドレインと接続されたソースを備えるNチャネル型Sense MOS(Metal Oxide Semiconductor)トランジスタと、
前記抵抗の第2の端子及び出力と接続されるソースを備えるNチャネル型Main MOSトランジスタと、を備え、
前記Sense MOSトランジスタのゲートは、前記Main MOSトランジスタのゲートと接続され、
前記Sense MOSトランジスタのドレインは、前記Main MOSトランジスタのドレイン及びバッテリ電圧と接続される、電流センス回路。
続きを表示(約 3,100 文字)【請求項2】
前記第3のPNPバイポーラトランジスタのベースに接続された第1の端子と、前記第4のPNPバイポーラトランジスタのエミッタに接続された第2の端子と、を備える第1の容量素子と、
前記第1のPチャネル型トランジスタのゲートに接続された第1の端子と、前記第4のPNPバイポーラトランジスタのエミッタに接続された第2の端子と、を備える第2の容量素子と、を備える請求項1に記載の電流センス回路。
【請求項3】
BIAS電流を出力するエミッタと、ベースに接続されたコレクタと、を備える第1のPNPバイポーラトランジスタと、
前記第1のPNPバイポーラトランジスタの前記エミッタに接続されたエミッタと、前記第1のPNPバイポーラトランジスタのベースに接続されたベースと、を備える第2のPNPバイポーラトランジスタと、
前記第1のPNPバイポーラトランジスタの前記コレクタに接続されたコレクタと、前記コレクタに接続されたベースと、を備える第1のNPNバイポーラトランジスタと、
前記第2のPNPバイポーラトランジスタのコレクタに接続されたコレクタと、前記第1のNPNバイポーラトランジスタの前記ベースに接続されたベースと、を備える第2のNPNバイポーラトランジスタと、
前記第1のNPNバイポーラトランジスタのエミッタに接続されたコレクタと、前記コレクタに接続されたベースと、を備える第3のNPNバイポーラトランジスタと、
前記第2のNPNバイポーラトランジスタのエミッタに接続されたコレクタと、前記第3のNPNバイポーラトランジスタのベースに接続されたベースと、を備える第4のNPNバイポーラトランジスタと、
前記第2のPNPバイポーラトランジスタの前記コレクタに接続されたゲートと、SENSE電流を出力するドレインと、を備える第1のNチャネル型トランジスタと、
前記第2のPNPバイポーラトランジスタの前記コレクタに接続されたゲートと、前記第1のNチャネル型トランジスタのソースに接続されたソースと、を備える、第2のNチャネル型トランジスタと、
前記第1のPNPバイポーラトランジスタのエミッタに接続されたゲートと、前記第3のNPNバイポーラトランジスタのエミッタに接続されたソースと、を備える第3のNチャネル型トランジスタと、
前記第1のPNPバイポーラトランジスタのエミッタに接続されたゲートと、前記第4のNPNバイポーラトランジスタのエミッタに接続されたソースと、を備える第4のNチャネル型トランジスタと、
前記第4のNチャネル型トランジスタのドレインに接続された第1の端子を備える抵抗と、
前記第3のNチャネル型トランジスタのドレイン及び前記第2のNチャネル型トランジスタのドレインと接続されたソースを備えるPチャネル型Sense MOSトランジスタと、
前記抵抗の第2の端子及び出力と接続されるソースを備えるPチャネル型Main MOSトランジスタと、を備え、
前記Sense MOSトランジスタのゲートは、前記Main MOSトランジスタのゲートと接続され、
前記Sense MOSトランジスタのドレインは、前記Main MOSトランジスタのドレイン及びグランド電圧と接続される、電流センス回路。
【請求項4】
前記第3のNPNバイポーラトランジスタのベースに接続された第1の端子と、前記第4のNPNバイポーラトランジスタのエミッタに接続された第2の端子と、を備える第1の容量素子と、
前記第1のNチャネル型トランジスタのゲートに接続された第1の端子と、前記第4のNPNバイポーラトランジスタのエミッタと、を備える第2の容量素子と、を備える請求項3に記載の電流センス回路。
【請求項5】
BIAS電流を出力するソースと、ゲートが接続されたドレインを備える第1のNチャネル型トランジスタと、
前記第1のNチャネル型トランジスタの前記ソースに接続されたソースと、前記第1のNチャネル型トランジスタの前記ゲートに接続されたゲートと、を備える第2のNチャネル型トランジスタと、
前記第1のNチャネル型トランジスタの前記ドレインに接続されたドレインと、前記ドレインに接続されたゲートと、を備える第1のPチャネル型トランジスタと、
前記第2のNチャネル型トランジスタのドレインに接続されたドレインと、前記第1のPチャネル型トランジスタの前記ゲートに接続されたゲートと、を備える第2のPチャネル型トランジスタと、
前記第1のPチャネル型トランジスタのソースに接続されたドレインと、前記ドレインに接続されたゲートと、を備える第3のPチャネル型トランジスタと、
前記第2のPチャネル型トランジスタのソースに接続されたドレインと、前記第3のPチャネル型トランジスタの前記ゲートに接続されたゲートと、を備える第4のPチャネル型トランジスタと、
前記第2のNチャネル型トランジスタのドレインに接続されたゲートと、SENSE電流を出力するドレインと、を備える第5のPチャネル型トランジスタと、
前記第2のNチャネル型トランジスタのドレインに接続されたゲートと、前記第5のPチャネル型トランジスタのソースに接続されたソースと、を備える第6のPチャネル型トランジスタと、
前記第1のNチャネル型トランジスタのソースに接続されたゲートと、第3のPチャネル型トランジスタのソースに接続されたソースと、を備える第7のPチャネル型トランジスタと、
前記第1のNチャネル型トランジスタのソースに接続されたゲートと、前記第4のPチャネル型トランジスタのソースに接続されたソースと、を備える第8のPチャネル型トランジスタと、
前記第8のPチャネル型トランジスタのドレインに接続された第1の端子を備える抵抗と、
前記第7のPチャネル型トランジスタのドレイン及び前記第6のPチャネル型トランジスタのドレインと接続されたソースを備えるNチャネル型Sense MOSトランジスタと、
前記抵抗の第2の端子及び出力と接続されるソースを備えるNチャネル型Main MOSトランジスタと、を備え、
前記Sense MOSトランジスタのゲートは、前記Main MOSトランジスタのゲートと接続され、
前記Sense MOSトランジスタのドレインは、前記Main MOSトランジスタのドレイン及びバッテリ電圧と接続される、電流センス回路。
【請求項6】
前記第3のPチャネル型トランジスタのゲートに接続された第1の端子と、前記第4のPチャネル型トランジスタのソースに接続された第2の端子と、を備える第1の容量素子と、
前記第5のPチャネル型トランジスタのゲートに接続された第1の端子と、前記第4のPチャネル型トランジスタのソースに接続された第2の端子と、を備える第2の容量素子と、を備える請求項5に記載の電流センス回路。
【請求項7】
前記Nチャネル型がPチャネル型に置き換えられ、
前記Pチャネル型がNチャネル型に置き換えられ、
前記バッテリ電圧がグランド電圧に置き換えられた、請求項5に記載の電流センス回路。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本開示は電流センス回路に関する。
続きを表示(約 1,900 文字)【背景技術】
【0002】
電流センス機能付きパワーMOS(Metal Oxide Semiconductor)トランジスタからセンス電流を取り出すことが行われている。パワーMOSトランジスタは、メインMOS(以下、Main MOS)とセンスMOS(以下、Sense MOS)を備え、これらのVDSを合わせる。特許文献1には、オペアンプを用いて電圧及び電流の負帰還制御回路を構成する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2020-145219号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
特許文献1に開示されているようにオペアンプを用いる場合は、オペアンプ用の電源生成が必要なことから回路規模が大きくなった。また、自動車用途において、劣化したバッテリを用いて低温下でエンジン始動するとき、低電圧のため動作が困難であった。また、自動車用途において、バッテリ逆接続時の保護が求められる。そこで本開示の目的は、回路規模を小さく、低電圧でも動作し、バッテリ逆接続時に回路を保護する電流センス回路を提供することである。
【0005】
その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【0006】
一実施の形態によれば、正常な電源極性状態では、トランジスタがオンして抵抗体として働き、逆接続時においては、トランジスタがオフして電流が流れない電流センス回路である。
【発明の効果】
【0007】
前記一実施の形態によれば、劣化または破壊から保護した電流センス回路を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
実施の形態1にかかる電流センス回路の回路図である。
実施の形態2にかかる電流センス回路の回路図である。
実施の形態3にかかる電流センス回路の回路図である。
実施の形態4にかかる電流センス回路の回路図である。
関連する第1の電流センス回路の回路図である。
関連する第2の電流センス回路の回路図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略、及び簡略化がなされている。また、様々な処理を行う機能ブロックとして図面に記載される各要素は、例えば、ハードウェア的には、CPU(Central Processing Unit)、メモリ、その他の回路によって構成でき、ソフトウェア的には、メモリにロードされたプログラムなどによって実現される。従って、これらの機能ブロックがハードウェア、ハードウェア上で動作するソフトウェア、又はそれらの組合せによって実現できる。なお、各図面において、同一の要素には同一の符号が付されており、必要に応じて重複説明は省略されている。
【0010】
また、上述したプログラムは、様々なタイプの非一時的なコンピュータ可読媒体(non-transitory computer readable medium)を用いて格納され、コンピュータに供給することができる。非一時的なコンピュータ可読媒体は、様々なタイプの実体のある記録媒体(tangible storage medium)を含む。非一時的なコンピュータ可読媒体の例は、磁気記録媒体(例えばフレキシブルディスク、磁気テープ、ハードディスクドライブ)、光磁気記録媒体(例えば光磁気ディスク)、CD-ROM(Read Only Memory)CD-R、CD-R/W、半導体メモリ(例えば、マスクROM、PROM(Programmable ROM)、EPROM(Erasable PROM)、フラッシュROM、RAM(Random Access Memory))を含む。また、プログラムは、様々なタイプの一時的なコンピュータ可読媒体(transitory computer readable medium)によってコンピュータに供給されてもよい。一時的なコンピュータ可読媒体の例は、電気信号、光信号、及び電磁波を含む。一時的なコンピュータ可読媒体は、電線及び光ファイバ等の有線通信路、又は無線通信路を介して、プログラムをコンピュータに供給できる。
(【0011】以降は省略されています)

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