特許ウォッチ

公開番号2025068265
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-04-28
出願番号2023178043
出願日2023-10-16
発明の名称センサコントローラ、電子機器及びセンサコントローラの制御方法
出願人株式会社ワコム
代理人個人,個人
主分類G06F 3/041 20060101AFI20250421BHJP(計算;計数)
要約【課題】タッチセンサに送信する送信信号の電磁ノイズのレベルを高効率で低減できるセンサコントローラを提供する。
【解決手段】センサコントローラは、所定周期で、電磁ノイズを測定するための第1期間及びタッチセンサによるパッシブポインタの位置検出を行うための第2期間を含む第3期間に送信信号をタッチセンサに送信する送信部と、第1期間及び第2期間において、各期間に対応付けられている周波数の電磁ノイズのレベルを測定する測定部と、第3期間毎に、測定部の測定結果に基づいて、第1所定数個の周波数のうち一の周波数を第2期間における送信信号の周波数であるスキャン周波数として選択し、第1所定数個の周波数のうちスキャン周波数と異なる周波数から第1所定数より少ない第2所定数個の周波数を第1期間における送信信号の周波数である予備周波数として選択する周波数選択部とを備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
タッチセンサによるパッシブポインタの位置検出の動作制御を行うセンサコントローラであって、
所定周期で、電磁ノイズを測定するための第１期間及び前記位置検出を行うための第２期間を含む第３期間に送信信号を前記タッチセンサに送信する送信部と、
前記第１期間及び前記第２期間において、各期間に対応付けられている周波数の電磁ノイズのレベルを測定する測定部と、
前記第３期間毎に、前記測定部の測定結果に基づいて、第１所定数個の周波数のうち一の周波数を前記第２期間における前記送信信号の周波数であるスキャン周波数として選択し、前記第１所定数個の周波数のうち前記スキャン周波数と異なる周波数から前記第１所定数より少ない第２所定数個の周波数を前記第１期間における前記送信信号の周波数である予備周波数として選択する周波数選択部と、
を備えるセンサコントローラ。
続きを表示（約 1,600 文字）【請求項２】
前記周波数選択部は、前記第３期間毎に順番に、前記第１所定数個の周波数のうち前記スキャン周波数と異なる周波数から前記第２所定数個の周波数を前記予備周波数として選択する、
請求項１に記載のセンサコントローラ。
【請求項３】
前記周波数選択部は、前記測定部による前記第２期間における電磁ノイズの測定結果が所定値以上である場合、前回選択した前記スキャン周波数と異なる一の周波数を今回の前記スキャン周波数として選択する、
請求項２に記載のセンサコントローラ。
【請求項４】
前記周波数選択部は、前記測定結果が前記所定値以上である場合、前記測定結果が前記測定部による前記第１期間における電磁ノイズの測定結果以下であるか否かを判定し、当該判定が肯定判定である場合に前回選択した前記スキャン周波数を再び今回の前記スキャン周波数として選択する、
請求項３に記載のセンサコントローラ。
【請求項５】
前記周波数選択部は、前記測定結果が前記所定値以上である場合、前記測定結果が前記測定部による複数の前記第１期間における電磁ノイズの各測定結果以下であるか否かを判定し、当該判定が肯定判定である場合に前回選択した前記スキャン周波数を再び今回の前記スキャン周波数として選択する、
請求項３に記載のセンサコントローラ。
【請求項６】
前記周波数選択部は、前記測定結果が前記所定値以上である場合、前記測定結果が前記測定部による複数の前記第１期間における電磁ノイズの各測定結果以下であるか否かを判定し、当該判定が否定判定である場合に複数の前記第１期間における電磁ノイズの各測定結果のうち最小値である測定結果に対応する周波数を今回の前記スキャン周波数として選択する、
請求項３に記載のセンサコントローラ。
【請求項７】
前記周波数選択部は、前記測定結果が前記所定値以上である場合、前記測定結果が前記測定部による複数の前記第１期間における電磁ノイズの各測定結果以下であるか否かを判定し、当該判定が否定判定である場合に、前記第１所定数個の周波数のうち前記スキャン周波数と異なる周波数から、電磁ノイズのレベルに関する事前の測定結果によって予め定められた優先順位に関して最も優先順位が高い周波数を今回の前記スキャン周波数として選択する、
請求項３に記載のセンサコントローラ。
【請求項８】
前記周波数選択部は、前記測定結果が前記所定値以上である場合、前記測定結果が前記測定部による複数の前記第１期間における電磁ノイズの各測定結果以下であるか否かを判定し、当該判定が否定判定である場合に、複数の前記第１期間における電磁ノイズの各測定結果のうち前記所定値よりも小さい測定結果に対応する周波数から、前回選択した前記スキャン周波数に対して最も離れた値である周波数を今回の前記スキャン周波数として選択する、
請求項３に記載のセンサコントローラ。
【請求項９】
前記周波数選択部は、前記測定結果が前記所定値以上である場合、前記測定結果が前記測定部による複数の前記第１期間における電磁ノイズの各測定結果以下であるか否かを判定し、当該判定が否定判定である場合に、複数の前記第１期間における電磁ノイズの各測定結果のうち前記所定値よりも小さい測定結果に対応する周波数から、前回選択した前記スキャン周波数に対して最も近い値である周波数を今回の前記スキャン周波数として選択する、
請求項３に記載のセンサコントローラ。
【請求項１０】
前記第２所定数は、１である、
請求項１～９のいずれか一項に記載のセンサコントローラ。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、センサコントローラに関し、特に、センサコントローラ、電子機器及び電子機器の制御方法に関する。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
従来から、指やスタイラスなどによる位置指示を検出するタッチセンサ、及びタッチセンサの検出動作を制御するセンサコントローラが知られている。このようなタッチセンサ及びセンサコントローラを備える電子機器は、位置検出にあたって、センサコントローラからタッチセンサに対してスキャン周波数を有する送信信号を送信することによって位置を検出する。
【０００３】
これに関し、特許文献１には、互いに交差する方向に配置された複数の導体パターン（タッチセンサ）と、第１の方向に配置された導体パターンに信号を送信する信号供給回路と、第２の方向に配置された導体パターンが受信したノイズ信号に対して周波数分析を行いさらにノイズ成分を検出し分析するノイズ分析回路とを備える指示体位置検出装置（センサコントローラ）が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特許第５４９６７３５号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１に記載の技術では、センサコントローラは、ノイズ成分を分析するために周波数分析を行う必要があった。したがって、特許文献１に記載の技術では、周波数分析をおこなうための回路の分、回路規模や製造コストが増大してしまう可能性がある。
【０００６】
また、特許文献１に記載の技術において、仮にセンサコントローラが周波数分析を行うことなくノイズ成分を分析するようにしたとしても、特許文献１に記載のセンサコントローラは、１つの周波数における周波数分析の結果に基づいて送信信号の周波数を決定するため、分析した周波数におけるノイズのレベルが他の周波数におけるノイズのレベルよりも小さい場合においても、送信信号の周波数を他の周波数に変更してしまう。したがって、特許文献１に記載の技術では、センサコントローラは、タッチセンサに対する送信信号の周波数をノイズのレベルが高い周波数に変更してしまう可能性がある。
【０００７】
本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、タッチセンサに送信する送信信号の電磁ノイズのレベルを高効率で低減できるセンサコントローラを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、第一の本発明に係るセンサコントローラは、タッチセンサによるパッシブポインタの位置検出の動作制御を行うセンサコントローラであって、所定周期で、電磁ノイズを測定するための第１期間及び前記位置検出を行うための第２期間を含む第３期間に送信信号を前記タッチセンサに送信する送信部と、前記第１期間及び前記第２期間において、各期間に対応付けられている周波数の電磁ノイズのレベルを測定する測定部と、前記第３期間毎に、前記測定部の測定結果に基づいて、第１所定数個の周波数のうち一の周波数を前記第２期間における前記送信信号の周波数であるスキャン周波数として選択し、前記第１所定数個の周波数のうち前記スキャン周波数と異なる周波数から前記第１所定数より少ない第２所定数個の周波数を前記第１期間における前記送信信号の周波数である予備周波数として選択する周波数選択部とを備える。
【０００９】
また、第二の本発明に係るセンサコントローラでは、前記周波数選択部は、前記第３期間毎に順番に、前記第１所定数個の周波数のうち前記スキャン周波数と異なる周波数から前記第２所定数個の周波数を前記予備周波数として選択する。
【００１０】
また、第三の本発明に係るセンサコントローラでは、前記周波数選択部は、前記測定部による前記第２期間における電磁ノイズの測定結果が所定値以上である場合、前回選択した前記スキャン周波数と異なる一の周波数を今回の前記スキャン周波数として選択する。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許