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公開番号2025093729
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-06-24
出願番号2023209550
出願日2023-12-12
発明の名称画像処理装置およびその制御方法
出願人キヤノン株式会社
代理人弁理士法人大塚国際特許事務所
主分類G06T 7/00 20170101AFI20250617BHJP(計算;計数)
要約【課題】高精度の画像処理を可能とするパラメータをより低い処理負荷で決定する。
【解決手段】画像解析部を用いて画像に対する解析処理を実行する画像処理装置は、画像が所定のサイズ以上であるか否かを判定する判定手段と、画像解析部が使用するパラメータを変更した複数回の解析処理を画像に対して行う試行手段と、複数回の解析処理に対応する複数の解析結果を表示部に表示する表示制御手段と、を備える。試行手段は、判定手段により画像が所定のサイズ以上であると判定された場合、画像内の部分領域画像に対して複数回の解析処理を行うよう制御する。
【選択図】図10
特許請求の範囲【請求項１】
画像解析部を用いて画像に対する解析処理を実行する画像処理装置であって、
画像が所定のサイズ以上であるか否かを判定する判定手段と、
前記画像解析部が使用するパラメータを変更した複数回の解析処理を前記画像に対して行う試行手段と、
前記複数回の解析処理に対応する複数の解析結果を表示部に表示する表示制御手段と、
を備え、
前記試行手段は、前記判定手段により前記画像が前記所定のサイズ以上であると判定された場合、前記画像内の部分領域画像に対して前記複数回の解析処理を行うよう制御する
ことを特徴とする画像処理装置。
続きを表示（約 1,000 文字）【請求項２】
前記複数の解析結果に含まれる１つの解析結果の選択を受け付ける受付手段と、
前記１つの解析結果を出力したときに前記画像解析部が使用したパラメータを使用して、前記画像に対する解析処理を実行するよう制御する制御手段と、
をさらに備え、
前記制御手段は、前記画像の全域に対して前記解析処理を行うよう制御する
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記１つの解析結果を出力したときに前記画像解析部が使用したパラメータを使用して、前記画像以外の他の画像に対する解析処理を実行するようさらに制御する
ことを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記表示制御手段は、前記複数の解析結果を、それぞれの解析結果を出力したときに前記画像解析部が使用したパラメータと関連付けて前記表示部に表示する
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記部分領域画像の領域指定を受け付ける領域受付手段をさらに備える
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記領域受付手段は、変状の実寸サイズに基づいて設定された固定サイズの選択領域により前記部分領域画像の領域指定を受け付ける
ことを特徴とする請求項５に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記領域受付手段は、前記複数の解析結果に基づいて前記部分領域画像の候補領域を提示し、前記候補領域に対する修正を受け付ける
ことを特徴とする請求項５に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記画像は、構造物を撮影した撮影画像であり、
前記解析処理は、前記構造物に生じている変状を検知する処理である
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記解析処理は、前記構造物に生じている複数の変状種別の変状を検知する処理であり、
前記試行手段は、前記判定手段により前記画像が前記所定のサイズ以上であると判定された場合、前記部分領域画像を前記複数の変状種別の各々に対して個別に指定する
ことを特徴とする請求項８に記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記所定のサイズは、画素数で示される
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像解析技術に関するものである。
続きを表示（約 1,800 文字）【背景技術】
【０００２】
構造物の写真画像に対して画像解析を行うことにより構造物の変状を検出する技術が知られている。特許文献１では、学習済みの人工知能（ＡＩ）モデルを用意しておき、画像解析をＡＩモデルを用いて実行する手法が開示されている。また、ＡＩモデルを用いた画像解析においては、様々な入力画像に応じて、画像ごとに好適な出力結果を得るために、ＡＩモデルに使用するパラメータを可変とし、複数のパラメータそれぞれによる画像解析を試行することがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０２３－６３１１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
道路や橋梁などの社会インフラ構造物の点検で用いる画像においては、対象の構造物の種類や、構造物を撮影する際の条件（日照状態など）が、画像ごとにばらばらとなりやすい。そのため、変状の検知精度を向上させる（誤検知や未検知を低減させる）ためには、画像ごとに、ＡＩモデルのパラメータを適切に調整する必要がある。
【０００５】
しかしながら、多数のパラメータ（およびパラメータの組み合わせ）について画像解析を試行すると、試行回数が増大し処理負荷が増大することになる。また、構造物の点検に用いる画像は、デジタルカメラで撮影した複数の画像を合成して生成される場合があり、非常に大きなサイズの画像（例えば、数万×数万画素）になることがある。そのため、適切なパラメータを決定すべく多数のパラメータについて画像解析を試行すると、処理負荷が大きく増大するという課題がある。
【０００６】
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであり、高精度の変状検知を可能とする画像処理パラメータをより低い処理負荷で決定する技術を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述の問題点を解決するため、本発明に係る画像処理装置は以下の構成を備える。すなわち、画像解析部を用いて画像に対する解析処理を実行する画像処理装置は、
画像が所定のサイズ以上であるか否かを判定する判定手段と、
前記画像解析部が使用するパラメータを変更した複数回の解析処理を前記画像に対して行う試行手段と、
前記複数回の解析処理に対応する複数の解析結果を表示部に表示する表示制御手段と、
を備え、
前記試行手段は、前記判定手段により前記画像が前記所定のサイズ以上であると判定された場合、前記画像内の部分領域画像に対して前記複数回の解析処理を行うよう制御する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、高精度の変状検知を可能とする画像処理パラメータをより低い処理負荷で決定可能とする技術を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
画像処理装置のハードウェア構成を示す図である。
画像処理装置の機能構成を示す図である。
画像一覧のＧＵＩ画面を示す図である。
検知実行のＧＵＩ画面を示す図である。
検知結果のＧＵＩ画面を示す図である。
パラメータ比較結果のＧＵＩ画面を示す図である。
パラメータ試行のＧＵＩ画面を示す図である。
パラメータ試行の他のＧＵＩ画面を示す図である。
パラメータ比較結果のＧＵＩ画面を示す図である。
画像解析の全体処理を説明するフローチャート。
パラメータ試行のＧＵＩ画面を示す図である。
複数の変状種別の試行処理を説明するフローチャートである。
検知実行のＧＵＩ画面を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。
（【００１１】以降は省略されています）

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