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公開番号
2025065863
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-04-22
出願番号
2023175356
出願日
2023-10-10
発明の名称
凹部付き基板、セラミックス配線基板及びパワーモジュール
出願人
デンカ株式会社
代理人
弁理士法人IPX
主分類
H01L
23/12 20060101AFI20250415BHJP(基本的電気素子)
要約
【課題】半導体素子の周縁部と凹部との間に十分な接合強度が得られる凹部付き基板並びにかかる凹部付き基板を備えるセラミックス配線基板及びパワーモジュールを提供する。
【解決手段】パワーモジュールにおいて、凹部81付きセラミックス配線基板は、第1の金属層8を有する。凹部81は、第1の金属層8の表面800から基板の厚さ方向に凹没して形成される。凹部81は、表面に連続する壁面811と、平坦な底面812と、壁面と底面とに連続し、底面から厚さ方向に窪んだ窪み813と、を有する。
【選択図】図3
特許請求の範囲
【請求項1】
凹部付き基板であって、
前記基板は、表面を有し、
前記凹部は、前記表面から前記基板の厚さ方向に凹没して形成され、
前記凹部は、前記表面に連続する壁面と、平坦な底面と、前記壁面と前記底面とに連続し、前記底面から前記厚さ方向に窪んだ窪みとを有する、凹部付き基板。
続きを表示(約 940 文字)
【請求項2】
請求項1に記載の凹部付き基板において、
前記基板の前記厚さ方向に対する前記壁面の傾斜角度は、前記厚さ方向に沿って略一定である、凹部付き基板。
【請求項3】
請求項2に記載の凹部付き基板において、
前記基板の前記厚さ方向に対する前記壁面の傾斜角度は、10°以上40°以下である、凹部付き基板。
【請求項4】
請求項1に記載の凹部付き基板において、
前記基板の前記厚さ方向に沿った断面で見たとき、前記凹部の開口の幅は、5mm以上20mm以下である、凹部付き基板。
【請求項5】
請求項1に記載の凹部付き基板において、
前記凹部の開口から前記底面までの深さをD1[mm]とし、前記凹部の開口から前記窪みまでの最大深さをD2[mm]としたとき、D2/D1は、1.05以上1.25以下である、凹部付き基板。
【請求項6】
請求項1に記載の凹部付き基板において、
前記凹部の開口から前記底面までの深さをD1[mm]とし、前記基板の厚さをT[mm]としたとき、D1/Tは、0.5以上0.9以下である、凹部付き基板。
【請求項7】
請求項6に記載の凹部付き基板において、
前記基板の厚さTは、0.6mm以上1mm以下である、凹部付き基板。
【請求項8】
請求項1に記載の凹部付き基板において、
前記基板の前記厚さ方向に沿った断面で見たとき、前記底面の幅をW1[mm]とし、前記窪みの最大幅をW2[mm]としたとき、W2/W1は、0.3以上0.6以下である、凹部付き基板。
【請求項9】
請求項1に記載の凹部付き基板において、
前記基板は、金属板である、凹部付き基板。
【請求項10】
セラミックス配線基板であって、
セラミックス板と、
前記セラミックス板の一方の面側に設けられ、請求項9に記載の凹部付き基板で構成された第1の金属層と、
前記セラミックス板の他方の面側に設けられた第2の金属層とを備える、セラミックス配線基板。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、凹部付き基板、セラミックス配線基板及びパワーモジュールに関する。
続きを表示(約 1,800 文字)
【背景技術】
【0002】
電鉄用、発電用、電気自動車/ハイブリッド自動車用モーター等の高出力モーターを制御するインバータには、IGBTモジュール等のパワーモジュールが使用される(特許文献1参照)。
このパワーモジュールは、セラミックス基材の両面に金属層が設けられたセラミックス絶縁基板と、セラミックス絶縁基板の金属層上に接合された半導体素子とを備えている。
また、金属層に対する半導体素子の位置決めの精度を高めるべく、金属層の表面に半導体素子を収容する凹部を形成することも行われる。
【0003】
凹部は、金属層の表面に、例えば、ウェットエッチングにより形成される。
図5は、従来の凹部を形成する方法を説明するための図である。図6は、図5に示す方法で形成された凹部の構成を示す断面図である。なお、図5中、上側の図は、平面図であり、下側の図は、断面図である。
具体的には、まず、金属層80'を用意し(図5(a)参照)、凹部81'を形成すべき領域を除いて、金属層80'の表面にマスクM'を形成する(図5(b)参照)。次に、このマスクM'を使用して金属層80'に対してウェットエッチングを行なう。これにより、マスクM'から露出する金属層80'がエッチング液に溶解することにより除去されて、凹部81'が形成される。
【0004】
その後、マスクM'を除去することにより、表面に凹部81'が形成された金属層80'が得られる(図5(c)参照)。
しかしながら、かかる方法では、図6に示すように、凹部81'の角部に、裾を引くような形状(いわゆる「ダレ89'」)が生じ易い。この場合、凹部81'内に接合剤を供給すると、接合剤が凹部81'の中央部に集まってしまう。その結果、半導体素子の周縁部と金属層80'との間に十分な接合強度を得ることが困難となる。
半導体素子は、熱膨張することにより、中央部より周縁部の伸縮が大きくなる傾向にあるが、周縁部と金属層80'との間の接合強度が十分でないと、当該部分から剥離し易くなる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
特開2021-185639号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
本発明では上記事情に鑑み、半導体素子の周縁部と凹部との間に十分な接合強度が得られる凹部付き基板、並びに、かかる凹部付き基板を備えるセラミックス配線基板及びパワーモジュールを提供することとした。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明の一態様によれば、凹部付き基板が提供される。この基板における基板は、表面を有する。凹部は、表面から基板の厚さ方向に凹没して形成される。凹部は、表面に連続する壁面と、平坦な底面と、壁面と底面とに連続し、底面から厚さ方向に窪んだ窪みとを有する。
【0008】
かかる態様によれば、半導体素子の周縁部と金属層との間に十分な接合強度が得られる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
本発明のパワーモジュールの一実施形態の構成を示す断面図である。
図1に示す第1の金属層の一部の構成を示す平面図である。
図2中のA-A線断面図である。
図3に示す第1の金属層を形成する方法を説明するための図である。
従来の凹部を形成する方法を説明するための図である。
図5に示す方法で形成された凹部の構成を示す断面図である。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、図面を用いて本発明の一実施形態について説明する。以下に示す実施形態中で示した各種特徴事項は、互いに組み合わせ可能である。
まず、本発明のパワーモジュールの一実施形態について説明する。
図1は、本発明のパワーモジュールの一実施形態の構成を示す断面図である。
以下の説明では、図1中の上側を「上」又は「上方」と言い、下側を「下」又は「下方」と言う。
図1に示すパワーモジュール1は、ベース板2と、ベース板2上に第1の半田3を介して接合されたセラミックス配線基板4と、セラミックス配線基板4上に第2の半田5を介して接合された半導体素子6とを備えている。
(【0011】以降は省略されています)
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