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公開番号
2025085951
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-06-06
出願番号
2023199674
出願日
2023-11-27
発明の名称
分析試料
出願人
愛三工業株式会社
代理人
弁理士法人岡田国際特許事務所
主分類
G01N
1/28 20060101AFI20250530BHJP(測定;試験)
要約
【課題】電解エッチング用の分析試料を容易に形成できるようにする。
【解決手段】導電性の試料12と、その試料12を埋め込む樹脂15とから所定サイズに成形された成形品10fであり、その成形品10fの一部を研磨することで試料12の露出した観察面12kが形成されており、その観察面12kを電解エッチング可能に構成された分析試料であって、成形品10fには、試料12の観察面12kから離れた位置を研磨することにより、電解エッチング用の電極25が当接可能に構成された試料12の電極面12eが形成されている。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
導電性の試料と、その試料を埋め込む樹脂とから所定サイズに成形された成形品であり、その成形品の一部を研磨することで前記試料の露出した観察面が形成されており、その観察面を電解エッチング可能に構成された分析試料であって、
前記成形品には、前記試料の観察面から離れた位置を研磨することにより、電解エッチング用の電極が当接可能に構成された前記試料の電極面が形成されている分析試料。
続きを表示(約 210 文字)
【請求項2】
導電性の試料と、その試料に電気的に接続された導体とを埋め込む樹脂とから所定サイズに成形された成形品であり、その成形品の一部を研磨することで前記試料の露出した観察面が形成されており、その観察面を電解エッチング可能に構成された分析試料であって、
前記成形品には、前記試料の観察面から離れた位置を研磨することにより、電解エッチング用の電極が当接可能に構成された前記導体の電極面が形成されている分析試料。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本技術は、導電性の試料と、その試料を埋め込む樹脂とから所定サイズに成形された成形品であり、その成形品の一部を研磨することで前記試料の露出した観察面が形成されており、その観察面を電解エッチング可能に構成された分析試料に関する。
続きを表示(約 1,700 文字)
【背景技術】
【0002】
上記した分析試料に関する技術が特許文献1に記載されている。特許文献1に記載の分析試料100は、図7に示すように、導電性の試料102と、その試料102を埋め込む樹脂104とから所定サイズに形成された成形品101である。分析試料100(成形品101)の下面は、研磨機(図示省略)で研磨されており、これにより試料102の一部が露出して、観察面102sが形成されている。分析試料100の観察面102sは、その観察面102sの観察を可能にするために電解エッチング処理が行われる。
【0003】
電解エッチング処理では、図7に示すように、分析試料100は電解エッチング装置の溶液(図示省略)内に浸漬される。そして、分析試料100の観察面102sに溶液を介して対向する位置には、電解エッチング装置の負電極105mが配置される。また、試料102の中央部には、リード線105rが巻き付けられて固定されており、そのリード線105rが成形品101の樹脂104の上方に引き出され、電解エッチング装置の正電極に接続される。これにより、電解エッチング装置の正電極と負電極105m間に電圧が加えられると、溶液を介して試料102の観察面102sに電流が流れ、試料102の観察面102sの電解エッチングが行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開平8-271677号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
上記した分析試料100では、成形品101を成形する前段階、即ち、試料102を樹脂104に埋め込む前に、試料102の中央部にリード線105rを巻き付けて固定する工程が必要になる。さらに、前記リード線105rを樹脂104の成形型(図示省略)の外側に引き出すため、前記成形型にリード線105rの引き出し用の穴等を加工する必要がある。このため、電解エッチング用の分析試料の成形に手間が掛かる。
【0006】
本技術は、上記問題点を解決するためになされたものであり、本発明が解決しようとする課題は、電解エッチング用の分析試料を容易に形成できるようにすることである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
上記した課題は、各技術によって解決される。第1の技術は、導電性の試料と、その試料を埋め込む樹脂とから所定サイズに成形された成形品であり、その成形品の一部を研磨することで前記試料の露出した観察面が形成されており、その観察面を電解エッチング可能に構成された分析試料であって、前記成形品には、前記試料の観察面から離れた位置を研磨することにより、電解エッチング用の電極が当接可能に構成された前記試料の電極面が形成されている。
【0008】
第1の技術によると、電解エッチング用の電極が当接する試料の電極面は、成形品において試料の観察面から離れた位置を研磨することにより形成できる。即ち、試料と、その試料を埋め込む樹脂とから所定サイズに形成された成形品の二か所を研磨することで、試料の観察面と電極面とを形成できる。このため、電解エッチング用の分析試料の作成が容易になる。
【0009】
第2の技術は、導電性の試料と、その試料に電気的に接続された導体とを埋め込む樹脂とから所定サイズに成形された成形品であり、その成形品の一部を研磨することで前記試料の露出した観察面が形成されており、その観察面を電解エッチング可能に構成された分析試料であって、前記成形品には、前記試料の観察面から離れた位置を研磨することにより、電解エッチング用の電極が当接可能に構成された前記導体の電極面が形成されている。このため、成形品の二か所を研磨することで、試料の観察面と電極面とを形成でき、電解エッチング用の分析試料を容易に作成できる。
【発明の効果】
【0010】
本願の技術によると、電解エッチング用の分析試料の形成が容易になる。
【図面の簡単な説明】
(【0011】以降は省略されています)
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