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公開番号2025150084
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-10-09
出願番号2024050784
出願日2024-03-27
発明の名称測定装置、測定方法及びプログラム
出願人ソフトバンク株式会社
代理人個人,個人
主分類G01R 27/28 20060101AFI20251002BHJP(測定;試験)
要約【課題】現実的な過渡変化を伴う正弦波の信号が入力されたときの過渡応答を含む特性を測定することができる測定装置を提供する。
【解決手段】測定装置は、正弦波からなる搬送波をランプパルス波で変調したランプパルス変調波を生成する変調波生成部と、変調波生成部で生成したランプパルス変調波の信号を出力する出力部と、ランプパルス変調波の信号が供給されている前記被測定対象からの出力信号が入力される入力部と、出力部から出力されるランプパルス変調波と被測定対象からの出力信号とに基づいて、被測定対象の特性を推定する特性推定部と、を備える。前記変調波生成部は、ランプパルス変調波における搬送波の周波数を連続的に又は段階的に変化させ、前記特性推定部は、被測定対象の周波数特性を推定してもよい。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項１】
被測定対象の特性を測定する測定装置であって、
正弦波からなる搬送波をランプパルス波で変調したランプパルス変調波を生成する変調波生成部と、
前記変調波生成部で生成した前記ランプパルス変調波を被測定対象に向けて出力する出力部と、
前記ランプパルス変調波の信号が供給されている前記被測定対象からの出力信号が入力される入力部と、
前記出力部から出力される前記ランプパルス変調波の信号と前記入力部に入力された前記被測定対象からの出力信号とに基づいて、前記被測定対象の特性を推定する特性推定部と、
を備える、ことを特徴とする測定装置。
続きを表示（約 1,600 文字）【請求項２】
請求項１の測定装置において、
前記変調波生成部は、前記ランプパルス変調波における前記搬送波の周波数を連続的に又は段階的に変化させ、
前記特性推定部は、前記被測定対象の周波数特性を推定する、ことを特徴とする測定装置。
【請求項３】
請求項１の測定装置において、
前記搬送波の周波数ｆｃ、前記ランプパルス変調波のランプパルス部分の終端電力Ｐｆｉｎ、前記ランプパルス変調波のランプパルス部分の始端電力Ｐｓｔ（≠Ｐｆｉｎ）、前記ランプパルス変調波の繰り返し周期に対してランプパルス部分の時間が占めるデューティー比Ｄ及び前記ランプパルス変調波における前記ランプパルス部分の繰り返し周期Ｔのうち、少なくとも一つを変更するように、前記変調波生成部を制御する制御部を、備える、ことを特徴とする測定装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれかの測定装置において、
前記被測定対象は、搬送波を変調した変調波を利用するデバイス、装置、機器又は回路である、ことを特徴とする測定装置。
【請求項５】
被測定対象の特性を測定する測定方法であって、
正弦波からなる搬送波をランプパルス波で変調したランプパルス変調波を生成することと、
前記ランプパルス変調波の信号を出力して被測定対象に供給することと、
前記被測定対象に供給される前記ランプパルス変調波の信号と前記ランプパルス変調波の信号が供給されている前記被測定対象からの出力信号とに基づいて、前記被測定対象の特性を推定することと、
を含む、ことを特徴とする測定方法。
【請求項６】
請求項５の測定方法において、
前記ランプパルス変調波における前記搬送波の周波数を連続的に又は段階的に変化させることと、
前記被測定対象の周波数特性を推定することと、
を含む、ことを特徴とする測定方法。
【請求項７】
請求項５の測定方法において、
前記搬送波の周波数ｆｃ、前記ランプパルス変調波のランプパルス部分の終端電力Ｐｆｉｎ、前記ランプパルス変調波のランプパルス部分の始端電力Ｐｓｔ（≠Ｐｆｉｎ）、前記ランプパルス変調波の繰り返し周期に対してランプパルス部分の時間が占めるデューティー比Ｄ及び前記ランプパルス変調波における前記ランプパルス部分の繰り返し周期Ｔのうち、少なくとも一つを変更すること、
を含む、ことを特徴とする測定方法。
【請求項８】
請求項５乃至７のいずれかの測定方法において、
前記被測定対象は、搬送波を変調した変調波を利用するデバイス、装置、機器又は回路である、ことを特徴とする測定方法。
【請求項９】
被測定対象の特性を測定する測定装置に設けられたコンピュータ又はプロセッサで実行されるプログラムであって、
正弦波からなる搬送波をランプパルス波で変調したランプパルス変調波を生成するためのプログラムコードと、
前記ランプパルス変調波の信号を出力して被測定対象に供給するためのプログラムコードと、
前記被測定対象に供給される前記ランプパルス変調波の信号と前記ランプパルス変調波の信号が供給されている前記被測定対象からの出力信号とに基づいて、前記被測定対象の特性を推定するためのプログラムコードと、
を含む、ことを特徴とするプログラム。
【請求項１０】
請求項９のプログラムにおいて、
前記ランプパルス変調波における前記搬送波の周波数を連続的に又は段階的に変化させるためのプログラムコードと、
前記被測定対象の周波数特性を推定するためのプログラムコードと、
を含む、ことを特徴とするプログラム。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、正弦波を入力して利用可能な被測定対象の特性の測定に関するものである。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、正弦波の信号を被測定対象に供給して被測定対象の周波数特性を測定する測定装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０２０－１６５７９５号公報
【非特許文献】
【０００４】
T. Hirakawa, N. Hasegawa, Y. Nakamoto, and Y. Ohta, "Calculation methods for the characteristics of rectifiers with modulated inputs using cw characteristics and amplitude probability distribution," in 2022 Wireless Power Week (WPW). IEEE, 2022, pp. 396-399.
N. Ayir, T. Riihonen, and M. Heino, "Practical waveform-to-energy harvesting model and transmit waveform optimization for rf wireless power transfer systems," IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 2023.
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記被測定対象の特性を測定する測定装置において、現実的な過渡変化を伴う正弦波の信号が被測定対象に入力されたときの過渡応答を含む被測定対象の特性を測定したい、という課題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様に係る装置は、被測定対象の特性を測定する測定装置である。この測定装置は、正弦波からなる搬送波をランプパルス波で変調したランプパルス変調波を生成する変調波生成部と、前記変調波生成部で生成した前記ランプパルス変調波の信号を出力する出力部と、前記ランプパルス変調波の信号が供給されている前記被測定対象からの出力信号が入力される入力部と、前記出力部から出力される前記ランプパルス変調波の信号と前記入力部に入力された前記被測定対象からの出力信号とに基づいて、前記被測定対象の特性を推定する特性推定部と、を備える。
【０００７】
前記測定装置において、前記変調波生成部は、前記ランプパルス変調波における前記搬送波の周波数を連続的に又は段階的に変化させ、前記特性推定部は、前記被測定対象の周波数特性を推定してもよい。
【０００８】
前記測定装置において、前記搬送波の周波数ｆｃ、前記ランプパルス変調波のランプパルス部分の終端電力Ｐｆｉｎ、前記ランプパルス変調波のランプパルス部分の始端電力Ｐｓｔ（≠Ｐｆｉｎ）、前記ランプパルス変調波の繰り返し周期に対してランプパルス部分の時間が占めるデューティー比Ｄ及び前記ランプパルス変調波における前記ランプパルス部分の繰り返し周期Ｔのうち、少なくとも一つを変更するように、前記変調波生成部を制御する制御部を、備えてもよい。
【０００９】
本発明の他の態様に係る方法は、被測定対象の特性を測定する測定方法である。この方法は、正弦波からなる搬送波をランプパルス波で変調したランプパルス変調波を生成することと、前記ランプパルス変調波の信号を出力して被測定対象に供給することと、前記被測定対象に供給される前記ランプパルス変調波の信号と前記ランプパルス変調波の信号が供給されている前記被測定対象からの出力信号とに基づいて、前記被測定対象の特性を推定することと、
を含む。
【００１０】
前記測定方法において、前記ランプパルス変調波における前記搬送波の周波数を連続的に又は段階的に変化させることと、前記被測定対象の周波数特性を推定することと、
を含んでもよい。
（【００１１】以降は省略されています）

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