特許ウォッチ

公開番号2025143735
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-10-02
出願番号2024043125
出願日2024-03-19
発明の名称産業用X線CT制御装置、産業用X線CT制御方法及び産業用X線CTシステム
出願人株式会社日立ハイテク
代理人ポレール弁理士法人
主分類G01N 23/046 20180101AFI20250925BHJP(測定;試験)
要約【課題】
本発明の目的は、検体サイズに応じて効率よく撮影可能な産業用X線CT制御装置、産業用X線CT制御方法及び産業用X線CTシステムを提供することにある。
【解決手段】
本発明の産業用X線CT制御装置は、検体を回転テーブルに配置し、前記回転テーブルを回転制御してX線CT撮像する産業用X線CTシステムの産業用X線CT制御装置において、前記回転テーブルに対する前記検体の撮影断面の大きさに応じて、前記回転テーブルの回転を制御することを特徴とする。また、産業用X線CTシステムは、回転テーブルの回転を制御する回転テーブル制御装置と、回転テーブルに対する検体の撮影断面の大きさに応じて回転テーブルの回転角度を算出する撮影制御装置とを備え、回転テーブル制御装置は、撮影制御装置で算出された回転角度で回転テーブルの回転を制御することを特徴とする。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
検体を回転テーブルに配置し、前記回転テーブルを回転制御してＸ線ＣＴ撮像する産業用Ｘ線ＣＴシステムの産業用Ｘ線ＣＴ制御装置において、
前記回転テーブルに対する前記検体の撮影断面の大きさに応じて、前記回転テーブルの回転を制御することを特徴とする産業用Ｘ線ＣＴ制御装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
請求項１に記載の産業用Ｘ線ＣＴ制御装置において、
前記検体の撮影断面の大きさが、円状の前記回転テーブルの半円内に収まる場合と収まらない場合とで前記回転テーブルの回転制御を異ならしめることを特徴とする産業用Ｘ線ＣＴ制御装置。
【請求項３】
請求項１に記載の産業用Ｘ線ＣＴ制御装置において、
前記検体が配置された撮影視野に応じて、前記回転テーブルの回転角度を制御する産業用Ｘ線ＣＴ制御装置。
【請求項４】
請求項１に記載の産業用Ｘ線ＣＴ制御装置において、
前記検体が配置された撮影視野の範囲のみ、Ｘ線ＣＴ撮像の画像を再構築することを特徴とする産業用Ｘ線ＣＴ制御装置。
【請求項５】
請求項１に記載の産業用Ｘ線ＣＴ制御装置において、
前記回転テーブルに前記検体の位置を把握するための検体設置位置ガイドを備え、前記回転テーブルに撮影視野の中心角Ａ°が最小となるように定められた位置に前記検体を設置することを特徴とする産業用Ｘ線ＣＴ制御装置。
【請求項６】
請求項１に記載の産業用Ｘ線ＣＴ制御装置において、
前記回転テーブルの上部に配置され、前記検体の設置範囲を識別して撮影視野を測定するカメラを備えることを特徴とする産業用Ｘ線ＣＴ制御装置。
【請求項７】
請求項１に記載の産業用Ｘ線ＣＴ制御装置において、
連続して複数断面をＣＴ撮影する場合、一回目撮影で一方向に回転制御し、２回目以降、順次回転方向を変えて回転制御することを特徴とする産業用Ｘ線ＣＴ制御装置。
【請求項８】
検体を回転テーブルに配置し、前記回転テーブルを回転制御してＸ線ＣＴ撮像する産業用Ｘ線ＣＴ制御方法において、
前記回転テーブルに対する前記検体の撮影断面の大きさに応じて、前記回転テーブルの回転を制御することを特徴とする産業用Ｘ線ＣＴ制御方法。
【請求項９】
Ｘ線を照射するＸ線源と、検体が配置される回転テーブルと、前記検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出装置とを備えた産業用Ｘ線ＣＴシステムにおいて、
前記回転テーブルの回転を制御する回転テーブル制御装置と、
前記回転テーブルに対する前記検体の撮影断面の大きさに応じて前記回転テーブルの回転角度を算出する撮影制御装置とを備え、
前記回転テーブル制御装置は、前記撮影制御装置で算出された回転角度で前記回転テーブルの回転を制御することを特徴とする産業用Ｘ線ＣＴシステム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、産業用Ｘ線ＣＴ制御装置、産業用Ｘ線ＣＴ制御方法及び産業用Ｘ線ＣＴシステムに関する。
続きを表示（約 1,400 文字）【背景技術】
【０００２】
産業用Ｘ線ＣＴは、Ｘ線源から検体にＸ線を照射し、検体内部の構造により減衰し透過したＸ線強度を測定することにより、検体内部の構造を評価する技術である。
【０００３】
特許文献１では、産業用Ｘ線ＣＴ装置、すなわち工業用ＣＴ装置として「工業用Ｘ線ＣＴ装置は、医療用とは異なり、物体の内部形状を観察，計測するために、非常に有用な装置である。開発品の形状計測や、鋳造品の巣の分布計測などに利用される。工業用Ｘ線ＣＴ装置では、大型鋳造品などの断層像を撮影するためには、透過力の高い高エネルギーＸ線（約１ＭｅＶ以上）を発生する加速器をＸ線源に用い、短冊形のシリコン半導体センサがＸ線検出器に用いられる。このような工業用Ｘ線ＣＴ装置は、撮像物をＸ線ファンビームに垂直な軸周りに１回転させて断層像を撮影する、いわゆる第３世代方式のＣＴ装置である。」と説明されている。
【０００４】
一方で大きいサイズの検体のＣＴ撮影を行う場合には、特許文献２に示すようにＸ線を対象の中心からオフセットした状態で撮像する方法がある。例えば、図４に示すようにＸ線源１１と、回転テーブル１２の回転軸と、Ｘ線検出装置１３の右縁部をＹ軸上に並ぶように配置する。検体１５を設置した回転テーブル１２を回転させながらＸ線を照射し、検体１５を透過したＸ線をＸ線検出装置１３で検出し、投影データを得ることで検体の断面を再構成する。
【０００５】
この撮影方式では、撮影視野つまり回転テーブル１２が大きく、大きな検体を設置できるが、回転テーブル１２の半分しか照射野１４に入らない。そのため、撮影視野全体の全投影データを得るためには、回転テーブル１２を３６０°まで回転させる必要があるため、撮影時間に多くを要する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
国際公開第２００７／０７７７９９号
特開２００５－００６７７２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１及び特許文献２の撮影方式では、撮影可能な検体サイズと、撮影時間がトレードオフの関係にある。産業用Ｘ線ＣＴ装置には、高画質で、短時間に、大きいサイズの検体まで撮影できることが求められている。そのため、１台のＸ線ＣＴ装置で、撮影可能な検体のサイズと、撮影時間の両立ができないという課題がある。
【０００８】
本発明の目的は、検体サイズに応じて効率よく撮影可能な産業用Ｘ線ＣＴ制御装置、産業用Ｘ線ＣＴ制御方法及び産業用Ｘ線ＣＴシステムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の産業用Ｘ線ＣＴ制御装置は、検体を回転テーブルに配置し、前記回転テーブルを回転制御してＸ線ＣＴ撮像する産業用Ｘ線ＣＴシステムの産業用Ｘ線ＣＴ制御装置において、前記回転テーブルに対する前記検体の撮影断面の大きさに応じて、前記回転テーブルの回転を制御することを特徴とする。
【００１０】
又は、本発明の産業用Ｘ線ＣＴ制御方法は、検体を回転テーブルに配置し、前記回転テーブルを回転制御してＸ線ＣＴ撮像する産業用Ｘ線ＣＴ制御方法において、前記回転テーブルに対する前記検体の撮影断面の大きさに応じて、前記回転テーブルの回転を制御することを特徴とする。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許