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公開番号2025109134
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-07-24
出願番号2024002868
出願日2024-01-11
発明の名称プログラム、および、データ処理装置
出願人ブラザー工業株式会社
代理人鳳国際弁理士法人
主分類G01N 21/898 20060101AFI20250716BHJP(測定;試験)
要約【課題】物体の読取画像を使用して物体の欠陥を検出する。
【解決手段】
複数の読取画像のそれぞれを使用して、物体のうちの欠陥を表す部分である欠陥部分を検出する。検出される第1欠陥部分と第2欠陥部分とが併合条件を満たす場合に第1欠陥部分と第2欠陥部分とを1つの欠陥部分として併合する併合処理を実行する。併合処理は、第1欠陥部分と第2欠陥部分とが第1併合条件を満たす場合に第1欠陥部分と第2欠陥部分とを併合する処理を含む。第1併合条件は、第1欠陥部分によって表される第1欠陥の延びる方向である第1欠陥方向と第2欠陥部分によって表される第2欠陥の延びる方向である第2欠陥方向とがなす角度が第1角度閾値以下であることと、第1欠陥部分と第2欠陥部分との間の距離が第1距離閾値以下であることと、を含む。
【選択図】図5
特許請求の範囲【請求項１】
プログラムであって、
物体の互いに異なる部分を読取装置によって読み取ることによって得られる複数の読取画像のそれぞれを使用して、前記物体のうちの欠陥を表す部分である欠陥部分を検出する処理である欠陥検出処理を実行する機能と、
前記欠陥検出処理によって検出される第１欠陥部分と第２欠陥部分とが併合条件を満たす場合に前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを１つの欠陥部分として併合する併合処理を実行する機能と、
を、コンピュータに実現させ、
前記併合処理は、前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とが第１併合条件を満たす場合に前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを併合する処理を含み、
前記第１併合条件は、
前記第１欠陥部分によって表される第１欠陥の延びる方向である第１欠陥方向と前記第２欠陥部分によって表される第２欠陥の延びる方向である第２欠陥方向とがなす角度が第１角度閾値以下であることと、
前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分との間の距離が第１距離閾値以下であることと、
を含む、
プログラム。
続きを表示（約 2,500 文字）【請求項２】
請求項１に記載のプログラムであって、
前記第１併合条件が満たされる場合に前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを併合する処理は、
前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分との間の前記距離が前記第１距離閾値より大きい場合には、前記第１欠陥方向と前記第２欠陥方向とを算出する方向算出処理を実行せずに、前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分との間の前記距離が前記第１距離閾値以下である場合に、前記方向算出処理を実行する処理を含む、プログラム。
【請求項３】
請求項１または２に記載のプログラムであって、
前記第１併合条件は、前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とのそれぞれが、線状の欠陥を表すと判断されていることを含む、
プログラム。
【請求項４】
請求項１または２に記載のプログラムであって、
前記欠陥検出処理によって検出される前記欠陥部分は、前記欠陥部分によって表される前記欠陥に対応付けられるバウンディングボックスを含み、
前記併合処理は、併合される前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とのそれぞれのバウンディングボックスを１つのバウンディングボックスとして併合する処理を含む、
プログラム。
【請求項５】
請求項１または２に記載のプログラムであって、
前記欠陥検出処理によって検出される前記欠陥部分は、前記欠陥部分によって表される前記欠陥の領域であるマスクを含み、
前記併合処理は、前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とが第２併合条件を満たす場合に前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを併合する処理を含み、
前記第２併合条件は、前記第１欠陥部分の前記第１欠陥の延びる方向と前記第２欠陥部分の前記第２欠陥の延びる方向とがなす角度に拘わらずに、前記第１欠陥部分のマスクと前記第２欠陥部分のマスクとの間の距離が第２距離閾値以下であることを含む、
プログラム。
【請求項６】
請求項１または２に記載のプログラムであって、
前記欠陥検出処理によって検出される前記欠陥部分は、前記欠陥部分によって表される前記欠陥に対応付けられるバウンディングボックスを含み、
前記併合処理は、前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とが第３併合条件を満たす場合に前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを併合する処理を含み、
前記第３併合条件は、前記第１欠陥部分の前記第１欠陥の延びる方向と前記第２欠陥部分の前記第２欠陥の延びる方向とがなす角度に拘わらずに、前記第１欠陥部分のバウンディングボックスと前記第２欠陥部分のバウンディングボックスとの間の距離が第３距離閾値以下であることを含む、
プログラム。
【請求項７】
請求項１または２に記載のプログラムであって、
前記欠陥検出処理によって検出される前記欠陥部分は、
前記欠陥部分によって表される前記欠陥に対応付けられるバウンディングボックスと、
前記欠陥部分によって表される前記欠陥の領域であるマスクと、
を含み、
前記併合処理は、
前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とが第２併合条件を満たす場合に前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを併合する処理と、
前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とが第３併合条件を満たす場合に前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを併合する処理と、
を含み、
前記第２併合条件は、前記第１欠陥部分の前記第１欠陥の延びる方向と前記第２欠陥部分の前記第２欠陥の延びる方向とがなす角度に拘わらずに、前記第１欠陥部分のマスクと前記第２欠陥部分のマスクとの間の距離が第２距離閾値以下であることを含み、
前記第３併合条件は、前記第１欠陥部分の前記第１欠陥の延びる方向と前記第２欠陥部分の前記第２欠陥の延びる方向とがなす角度に拘わらずに、前記第１欠陥部分のバウンディングボックスと前記第２欠陥部分のバウンディングボックスとの間の距離が第３距離閾値以下であることを含み、
前記併合処理は、
前記第１併合条件と前記第２併合条件と前記第３併合条件との判断を、前記第３併合条件、前記第２併合条件、前記第１併合条件の順に進行する処理と、
前記第１併合条件と前記第２併合条件と前記第３併合条件とのいずれかの条件が満たされる場合に、満たされる条件よりも後の条件を判断せずに、前記満たされる条件に従って前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを併合する処理と、
を含む、プログラム。
【請求項８】
請求項１または２に記載のプログラムであって、
前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを併合するための条件は、前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とが所定の並行関係にあることを示す並行条件が満たされないことを含む、プログラム。
【請求項９】
データ処理装置であって、
物体の互いに異なる部分を読取装置によって読み取ることによって得られる複数の読取画像のそれぞれを使用して、前記物体のうちの欠陥を表す部分である欠陥部分を検出する処理である欠陥検出処理を実行する検出部と、
前記欠陥検出処理によって検出される第１欠陥部分と第２欠陥部分とが併合条件を満たす場合に前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを１つの欠陥部分として併合する併合処理を実行する併合部と、
を備え、
前記併合処理は、前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とが第１併合条件を満たす場合に前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを併合する処理を含み、
前記第１併合条件は、
前記第１欠陥部分によって表される第１欠陥の延びる方向である第１欠陥方向と前記第２欠陥部分によって表される第２欠陥の延びる方向である第２欠陥方向とがなす角度が第１角度閾値以下であることと、
前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分との間の距離が第１距離閾値以下であることと、
を含む、データ処理装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本明細書は、物体の読取画像を使用して物体の欠陥を検出する技術に関する。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
物体を検査する種々の技術が提案されている。特許文献１は、アルミニウムシートやプラスチックシート等のウェブの表面を検査する技術を開示している。この技術では、表面欠陥検出器は、ウェブの表面に存在する欠陥部を検出してタイミング信号を出力する。停止制御手段は、タイミング信号に基づき、ウェブの搬送を減速した後に、ウェブの搬送路内に予め設定された目視検査位置に欠陥部を停止させる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開平２－０３８９５８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが、物体の読取画像を使用して物体の欠陥を検出する点については、工夫の余地があった。
【０００５】
本明細書は、物体の読取画像を使用して物体の欠陥を検出する技術を開示する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本明細書に開示された技術は、以下の適用例として実現することが可能である。
【０００７】
［適用例１］プログラムであって、物体の互いに異なる部分を読取装置によって読み取ることによって得られる複数の読取画像のそれぞれを使用して、前記物体のうちの欠陥を表す部分である欠陥部分を検出する処理である欠陥検出処理を実行する機能と、前記欠陥検出処理によって検出される第１欠陥部分と第２欠陥部分とが併合条件を満たす場合に前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを１つの欠陥部分として併合する併合処理を実行する機能と、を、コンピュータに実現させ、前記併合処理は、前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とが第１併合条件を満たす場合に前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分とを併合する処理を含み、前記第１併合条件は、前記第１欠陥部分によって表される第１欠陥の延びる方向である第１欠陥方向と前記第２欠陥部分によって表される第２欠陥の延びる方向である第２欠陥方向とがなす角度が第１角度閾値以下であることと、前記第１欠陥部分と前記第２欠陥部分との間の距離が第１距離閾値以下であることと、を含む、プログラム。
【０００８】
この構成によれば、同じ欠陥の互いに異なる部分を表す第１欠陥部分と第２欠陥部分とを併合できるので、物体の欠陥を適切に表す欠陥部分を得ることができる。
【０００９】
なお、本明細書に開示の技術は、種々の態様で実現することが可能であり、例えば、データ処理方法およびデータ処理装置、それらの方法または装置の機能を実現するためのコンピュータプログラム、そのコンピュータプログラムを記録した記録媒体（例えば、一時的ではない記録媒体）、等の形態で実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
一実施例としてのデータ処理装置を示す説明図である。
デジタルカメラ１１１－１１４と生地７００と搬送装置９００と光源１３０との斜視図である。
検査処理の例を表すフローチャートである。
（Ａ）－（Ｄ）は、処理される画像の例を表す図である。
欠陥部分の併合処理の例を表すフローチャートである。
（Ａ）－（Ｆ）は、併合処理の例を表す図である。
画面の例を表す図である。
検査処理の別の実施例を表すフローチャートである。
（Ａ）、（Ｂ）は、並行条件の別の実施例を表す図である。
併合処理の別の実施例を表すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
（【００１１】以降は省略されています）

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