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公開番号
2025153901
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-10-10
出願番号
2024056610
出願日
2024-03-29
発明の名称
銀粉末の評価方法、および該評価方法を含む銀粉末の製造方法
出願人
ノリタケ株式会社
代理人
個人
,
個人
主分類
G01N
13/00 20060101AFI20251002BHJP(測定;試験)
要約
【課題】銀粉末を用いたときに、該銀粉末から銀イオンが基材に拡散する程度を簡便に評価することができる技術を提供する。
【解決手段】ここで開示される技術によると、銀粉末の評価方法が開示される。この銀粉末の評価方法は、銀粉末をガラス基板上で加熱することと、加熱後のガラス基板における着色状態を観察することと、着色状態に基づいてガラス基板における銀イオンの拡散の程度を評価することと、を包含する。
【選択図】なし
特許請求の範囲
【請求項1】
銀粉末の評価方法であって、
前記銀粉末をガラス基板上で加熱すること;
前記加熱後のガラス基板における着色状態を観察すること;および、
前記着色状態に基づいて前記ガラス基板における銀イオンの拡散の程度を評価すること;
を包含する、評価方法。
続きを表示(約 560 文字)
【請求項2】
前記加熱することにおいて、前記銀粉末を、銀コロイドの産生可能な温度域で加熱することを含む、請求項1に記載の評価方法。
【請求項3】
前記ガラス基板は、少なくともSiO
2
を含む、請求項1に記載の評価方法。
【請求項4】
前記ガラス基板は、アルカリ金属元素とアルカリ土類金属元素との少なくともいずれか一方を含んでいる、請求項1に記載の評価方法。
【請求項5】
前記評価することにおいて、前記加熱前の前記ガラス基板上の前記銀粉末を配置した領域の円相当径D0と、前記加熱後の前記ガラス基板上において着色のあった領域の円相当径D1と、について、以下の数式(X):
拡散率(%)={(D1-D0)/D0}×100 (X)
を用いて得られた拡散率が20%以下である銀粉末を良品と評価する、請求項1に記載の評価方法。
【請求項6】
銀粉末の製造方法であって、
銀粉末を用意すること;
前記用意された前記銀粉末を、請求項1~5のいずれか一項に記載の評価方法で評価すること;
前記評価することにおける評価の結果に基づいて、良品の前記銀粉末を選別すること;
を包含する、製造方法。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本開示は、銀粉末の評価方法、および該評価方法を含む銀粉末の製造方法に関する。
続きを表示(約 1,800 文字)
【背景技術】
【0002】
特開2019-36435号公報で開示された導電性ペーストは、導電性粉末と、バインダ樹脂と、有機溶剤とを含んでいる。この導電性ペーストにおいて、有機溶剤は、Fedorsの溶解度パラメータが9.0(cal/cm
3
)
0.5
以下である第1の溶剤と、Fedorsの溶解度パラメータが10.0(cal/cm
3
)
0.5
以上である第2の溶剤と、を含む混合溶剤である。有機溶剤のFedorsの溶解度パラメータは、9.0(cal/cm
3
)
0.5
以上10.1(cal/cm
3
)
0.5
以下である。同公報には、第1の溶剤は、シートアタックの発生を抑えるために有用であるところ、単独で使用した場合には導電性粉末の透過を生じ易いと記載されている。第2の溶剤に関しては、導電性粉末の透過を抑制するために有用であるが、単独で使用した場合にはシートアタックを生じ易い溶剤である旨が記載されている。そして、同文献に記載の技術によれば、第1の溶剤の長所と第2の溶剤の長所とが好適に発揮されることにより、シートアタックの発生と導電性粉末の透過とが共に抑制された電極を好適に形成することができるとのことである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2019-36435号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
電子部品の内部電極を形成するため、例えば、銀粉末が用いられることがある。電子部品を製造するプロセスは、銀粉末を焼結させるため、該銀粉末に熱処理を施す工程を含みうる。熱処理によって、例えば、銀粉末から銀イオンが発生し、基材に拡散する傾向があることは、従来から知られていた。熱処理にともなって発生した銀イオンの拡散は、例えば、内部電極間の短絡等に繋がる可能性があるため、好ましくない。しかし、銀粉末を用いたときに該銀粉末から基材に銀イオンが拡散する程度、電子部品における短絡の可能性等を、銀粉末を用いた製造対象物の製造以前に評価する方法は、従来なかった。
【0005】
かかる事情を鑑み、本発明者は、銀粉末を用いたときに該銀粉末から銀イオンが基材に拡散する程度を簡便に評価したい、と考えている。
【課題を解決するための手段】
【0006】
ここで開示される技術によると、銀粉末の評価方法が開示される。この評価方法は、銀粉末をガラス基板上で加熱することと、加熱後のガラス基板における着色状態を観察することと、着色状態に基づいてガラス基板における銀イオンの拡散の程度を評価することと、を包含する。かかる構成によると、銀粉末を用いたときに該銀粉末から銀イオンが基材(ガラス基板)に拡散する程度を簡便に評価することができる。
【0007】
ここで開示される評価方法の好ましい一態様では、加熱することにおいて、銀粉末を、銀コロイドの産生可能な温度域で加熱することを含む。かかる構成によると、評価の精度を高めることができる。
【0008】
ここで開示される評価方法の好ましい一態様では、ガラス基板は、少なくともSiO
2
を含む。かかる構成によると、評価の再現性を高めることができる。
【0009】
ここで開示される評価方法の好ましい一態様では、ガラス基板は、アルカリ金属元素とアルカリ土類金属元素との少なくともいずれか一方を含んでいる。かかる構成によると、評価の再現性を高めることができる。
【0010】
ここで開示される評価方法の好ましい一態様では、評価することにおいて、加熱前のガラス基板上の銀粉末を配置した領域の円相当径D0と、加熱後のガラス基板上において着色のあった領域の円相当径D1と、について、以下の数式(X):
拡散率(%)={(D1-D0)/D0}×100 (X)
を用いて得られた拡散率が20%以下である銀粉末を良品と評価する。かかる構成によると、銀粉末の実使用において不具合が生じるリスクを低減することができる。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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