特許ウォッチ

公開番号2025079627
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-05-22
出願番号2023192424
出願日2023-11-10
発明の名称光パルス試験器及びプログラム
出願人横河電機株式会社,横河計測株式会社
代理人個人,個人,個人,個人
主分類G01M 11/00 20060101AFI20250515BHJP(測定;試験)
要約【課題】光パルス試験器により測定された光パワーの波形解析をより容易に行えるようにする。
【解決手段】プログラムは、コンピュータを、光ファイバに入射されたパルス光の戻り光の時間的変化を示す波形を取得し、前記波形に基づいて、前記光ファイバにおけるイベントを検出し、前記波形と、前記検出されたイベントを示す図柄と、を表示部(15)に表示させる、制御部(11)を備え、前記制御部(11)は、前記パルス光の進行方向の表示を含む画像を、前記図柄として、前記表示部(15)に表示させる、情報処理装置(10)として動作させるプログラム。
【選択図】図4
特許請求の範囲【請求項１】
コンピュータを、
光ファイバに入射されたパルス光の戻り光の時間的変化を示す波形を取得し、
前記波形に基づいて、前記光ファイバにおけるイベントを検出し、
前記波形と、前記検出されたイベントを示す図柄と、を表示部に表示させる、
制御部を備え、
前記制御部は、前記パルス光の進行方向の表示を含む画像を、前記図柄として、前記表示部に表示させる、
情報処理装置として動作させるプログラム。
続きを表示（約 1,800 文字）【請求項２】
前記制御部は、
前記光ファイバの第１方向に入射されたパルス光の戻り光の時間的変化を示す第１波形を取得し、
前記光ファイバの第２方向に入射されたパルス光の戻り光の時間的変化を示す第２波形を取得し、
前記第１波形に基づいて、前記光ファイバにおけるイベントである第１イベントを検出し、
前記第２波形に基づいて、前記光ファイバにおけるイベントである第２イベントを検出し、
検出された前記第１イベントと同じ位置で検出された前記第２イベントと、とを互いに対応付け、
前記第１波形と、前記第２波形と、互いに対応付けられた前記第１イベント及び前記第２イベントを示す図柄と、前記第２イベントに対応付けられていない前記第１イベントを示す図柄と、前記第１イベントに対応付けられていない前記第２イベントを示す図柄と、を前記表示部に表示させる、
請求項１に記載のプログラム。
【請求項３】
前記制御部は、互いに対応付けられた前記第１イベント及び前記第２イベントを示す前記図柄として、前記第１方向及び前記第２方向の表示を含む画像を、前記表示部に表示させる、請求項２に記載のプログラム。
【請求項４】
前記制御部は、
前記第２イベントに対応付けられていない前記第１イベントを示す前記図柄として、前記第１方向の表示を含む画像を、前記表示部に表示させ、
前記第１イベントに対応付けられていない前記第２イベントを示す前記図柄として、前記第２方向の表示を含む画像を、前記表示部に表示させる、
請求項２に記載のプログラム。
【請求項５】
前記制御部は、前記第１方向の表示を含む画像、及び、前記第２方向の表示含む画像を強調して、前記表示部に表示させる、請求項４に記載のプログラム。
【請求項６】
前記制御部は、前記図柄の近傍に、当該図柄により示される前記イベントに関する物理量と、前記イベントの種類との少なくともいずれかを表示させる、請求項１に記載のプログラム。
【請求項７】
光ファイバにパルス光を入射し、戻り光の時間的変化を測定する光パルス試験器であって、
前記戻り光の時間的変化を示す波形を取得し、
前記波形に基づいて、前記光ファイバにおけるイベントを検出し、
前記波形と、前記検出されたイベントを示す図柄と、を表示部に表示させる、
制御部を備え、
前記制御部は、前記パルス光の進行方向の表示を含む画像を、前記図柄として、前記表示部に表示させる、
光パルス試験器。
【請求項８】
前記制御部は、
前記光ファイバの第１方向に入射されたパルス光の戻り光の時間的変化を示す第１波形を取得し、
前記光ファイバの第２方向に入射されたパルス光の戻り光の時間的変化を示す第２波形を取得し、
前記第１波形に基づいて、前記光ファイバにおけるイベントである第１イベントを検出し、
前記第２波形に基づいて、前記光ファイバにおけるイベントである第２イベントを検出し、
検出された前記第１イベントと同じ位置で検出された前記第２イベントと、とを互いに対応付け、
前記第１波形と、前記第２波形と、互いに対応付けられた前記第１イベント及び前記第２イベントを示す図柄と、前記第２イベントに対応付けられていない前記第１イベントを示す図柄と、前記第１イベントに対応付けられていない前記第２イベントを示す図柄と、を前記表示部に表示させる、
請求項７に記載の光パルス試験器。
【請求項９】
前記制御部は、互いに対応付けられた前記第１イベント及び前記第２イベントを示す前記図柄として、前記第１方向及び前記第２方向の表示を含む画像を、前記表示部に表示させる、請求項８に記載の光パルス試験器。
【請求項１０】
前記制御部は、
前記第２イベントに対応付けられていない前記第１イベントを示す前記図柄として、前記第１方向の表示を含む画像を、前記表示部に表示させ、
前記第１イベントに対応付けられていない前記第２イベントを示す前記図柄として、前記第２方向の表示を含む画像を、前記表示部に表示させる、
請求項８に記載の光パルス試験器。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、光パルス試験器及びプログラムに関する。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
光ファイバは、光を伝搬するための光導波路であり、光信号によるデータの通信回線として広く使用されている。光ファイバよる通信網は、インターネットを支える重要な通信インフラの一つである。そのため、敷設した光ファイバのメンテナンスは非常に重要であり、様々な光ファイバの評価が行われている。光ファイバの評価対象には、例えば、光ファイバの距離、光ファイバ内の伝送損失、及び、光ファイバ同士の接続箇所における損失等が含まれる。
【０００３】
光ファイバの特性を測定するための技術として、光パルス試験器（ＯＴＤＲ：Optical Time Domain Reflectometer）が知られている。光パルス試験器は、測定対象の光ファイバの片端からパルス光を入射し、後方散乱光及びフレネル反射などの戻り光のパワーを時間領域で測定し、測定された光パワーの表示及び解析等を行う。
【０００４】
光パルス試験器は、一般に、戻り光による光のパワーを縦軸、パルス光を入射してからの戻り光が返ってくるまでの時間差から求めた距離を横軸として、戻り光の光パワーの波形を出力する。測定対象の光ファイバに、融着点、コネクタ接続点、分岐点、曲げ点、及び、切断点等のイベントが存在すると、戻り光の光パワーの波形は、そのようなイベントの位置でイベントの種類に応じた特徴的な形状を示す。そこで、戻り光の光パワーの波形解析においては、これらの特徴的な形状を検出し、その位置を測定することで、光ファイバにおける切断箇所、コネクタ接続部、及び、融着不良等の位置を特定できる。
【０００５】
特許文献１、２には、光パルス試験器により測定された光パワーの波形に基づきイベントを検出及び表示する技術が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
特開２０１６－０５３５４２号公報、
特開平１１－３２６１２６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、従来の構成は、光パワーの波形解析が容易となるように、検出したイベントを分かりやすく表示するという観点から改善の余地があった。特に、測定対象の光ファイバに対して順方向及び逆方向からパルス光を入射し、各方向から測定した戻り光の波形を照合してイベントを解析する双方向解析をより容易にするという点で、従来の構成は改善の余地があった。
【０００８】
そこで、本開示は、光パルス試験器により測定された光パワーの波形解析をより容易に行えるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
幾つかの実施形態に係るプログラムは、
（１）コンピュータを、
光ファイバに入射されたパルス光の戻り光の時間的変化を示す波形を取得し、
前記波形に基づいて、前記光ファイバにおけるイベントを検出し、
前記波形と、前記検出されたイベントを示す図柄と、を表示部に表示させる、
制御部を備え、
前記制御部は、前記パルス光の進行方向の表示を含む画像を、前記図柄として、前記表示部に表示させる、
情報処理装置として動作させる。
【００１０】
このように、プログラムに基づき動作するコンピュータの制御部は、光ファイバに入射されたパルス光の戻り光の時間的変化を示す波形と、波形に基づき検出されたイベントを示す図柄とを表示部に表示させる。ここで、制御部は、パルス光の進行方向の表示を含む画像を、イベントを示す図柄として表示部に表示させる。したがって、ユーザは、イベントの存在だけでなく、パルス光の進行方向も容易に確認して、光パワーの波形解析を容易に行うことが可能である。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許