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公開番号2025110145
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-07-28
出願番号2024003916
出願日2024-01-15
発明の名称測定装置、測定方法及びプログラム
出願人日本電気株式会社
代理人個人
主分類G01S 17/34 20200101AFI20250718BHJP(測定;試験)
要約【課題】測定時間の増加を抑えることができる測定装置、測定方法及びプログラムを提供すること。
【解決手段】本開示にかかる測定装置は、所定の領域内に存在する複数の走査点の中から3次元データの測定対象となる走査点を選択する制御部と、レーザー光の波長を掃引することによって、選択された走査点の3次元データを測定する測定部と、を備え、制御部は、所定の領域内に存在する走査点の測定タイミングに応じて、選択する3次元データの測定対象となる走査点を変更する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
所定の領域内に存在する複数の走査点の中から3次元データの測定対象となる走査点を選択する制御部と、
レーザー光の波長を掃引することによって、選択された前記走査点の3次元データを測定する測定部と、
前記制御部は、
前記所定の領域内に存在する前記走査点の測定タイミングに応じて、選択する前記3次元データの測定対象となる走査点を変更する、測定装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記制御部は、
異なる前記測定タイミングにおいて、3次元データの変化量が少ない走査点を推定し、前記3次元データの変化量が少ない走査点の測定を省略する、請求項１に記載の測定装置。
【請求項３】
前記制御部は、
第１の測定タイミングにおいて測定が省略された前記走査点について、前記第１の測定タイミングの後に実施される第２の測定タイミングにおいて測定を再開する、請求項２に記載の測定装置。
【請求項４】
前記制御部は、
前記所定の領域の画像データに含まれる物体のうち、移動する前記物体上の前記走査点を、前記3次元データの変化量が少ない走査点と推定する、請求項２又は３に記載の測定装置。
【請求項５】
前記測定部は、
同一のモード領域内において掃引された前記レーザー光の波長を用いて、選択された前記走査点の3次元データを測定する、請求項１に記載の測定装置。
【請求項６】
前記制御部は、
前記レーザー光の波長の掃引される範囲が前記同一のモード領域内に収まるように、前記レーザー光の光源へ入力される制御電流の値を制御する、請求項５に記載の測定装置。
【請求項７】
前記モード領域は、制御電流に含まれるフロントミラー電流及びリアミラー電流の値に対応付けられる、請求項６に記載の測定装置。
【請求項８】
所定の領域内に存在する複数の走査点の中から3次元データの測定対象となる走査点を選択し、
レーザー光の波長を掃引することによって、選択された前記走査点の3次元データを測定し、
前記走査点を選択する際に、
前記所定の領域内に存在する前記走査点の測定タイミングに応じて、選択する前記3次元データの測定対象となる走査点を変更する、測定方法。
【請求項９】
前記走査点を選択する際に、
異なる前記測定タイミングにおいて、3次元データの変化量が少ない走査点を推定し、前記3次元データの変化量が少ない走査点の測定を省略する、請求項８に記載の測定方法。
【請求項１０】
所定の領域内に存在する複数の走査点の中から3次元データの測定対象となる走査点を選択し、
レーザー光の波長を掃引することによって、選択された前記走査点の3次元データを測定し、
前記走査点を選択する際に、
前記所定の領域内に存在する前記走査点の測定タイミングに応じて、選択する前記3次元データの測定対象となる走査点を変更する、ことをコンピュータに実行させるプログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、測定装置、測定方法及びプログラムに関する。
続きを表示（約 1,200 文字）【背景技術】
【０００２】
近年、測定対象の位置や形状を３次元で特定する技術として、ＬｉＤＡＲ（Light Ranging and Detection）を利用することが検討されている。ＬｉＤＡＲの一種である波長掃引ＬｉＤＡＲは、光の干渉性を利用して測定対象の高速３次元画像化ができる。例えば、波長可変光源を用いた波長掃引ＬｉＤＡＲはリアルタイム空間中位置測定が必要な自動運転分野に置いて重要な技術として用いられている。
【０００３】
特許文献１には、時間の経過とともに波長を変更してサンプルの走査を行うシステムの構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
米国特許第11175388号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ここで、LIDARを用いて測定対象を測定する場合、複数の走査点の3次元データを測定する必要がある。そのため、走査点の数が増加するにつれて、測定時間が増加するという問題がある。
【０００６】
本開示の目的は、測定時間の増加を抑えることができる測定装置、測定方法及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本開示の第１の態様にかかる測定装置は、所定の領域内に存在する複数の走査点の中から3次元データの測定対象となる走査点を選択する制御部と、レーザー光の波長を掃引することによって、選択された前記走査点の3次元データを測定する測定部と、前記制御部は、前記所定の領域内に存在する前記走査点の測定タイミングに応じて、選択する前記3次元データの測定対象となる走査点を変更する。
【０００８】
本開示の第２の態様にかかる測定方法は、所定の領域内に存在する複数の走査点の中から3次元データの測定対象となる走査点を選択し、レーザー光の波長を掃引することによって、選択された前記走査点の3次元データを測定し、前記走査点を選択する際に、前記所定の領域内に存在する前記走査点の測定タイミングに応じて、選択する前記3次元データの測定対象となる走査点を変更する。
【０００９】
本開示の第３の態様にかかるプログラムは、所定の領域内に存在する複数の走査点の中から3次元データの測定対象となる走査点を選択し、レーザー光の波長を掃引することによって、選択された前記走査点の3次元データを測定し、前記走査点を選択する際に、前記所定の領域内に存在する前記走査点の測定タイミングに応じて、選択する前記3次元データの測定対象となる走査点を変更する、ことをコンピュータに実行させる。
【発明の効果】
【００１０】
本開示により、測定時間の増加を抑えることができる測定装置、測定方法及びプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
（【００１１】以降は省略されています）

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