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公開番号2025118092
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-08-13
出願番号2024013197
出願日2024-01-31
発明の名称データの補正方法
出願人トヨタ自動車株式会社
代理人個人
主分類G01N 23/2055 20180101AFI20250805BHJP(測定;試験)
要約【課題】ピークのブロード化及び非対称化を抑制するX線回析のデータの補正方法を提供すること。
【解決手段】データの補正方法は、X線解析装置で取得された2次元検出像から、発散の影響を除外した理想的な2次元像を構成するステップと、理想的な2次元像の強度情報に基づいて、X線解析装置で取得された2次元検出像の補正を行うステップと、を備える。これにより、X線解析装置で取得される2次元検出像を、理想的な2次元像の強度情報に基づいて補正することができる。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
Ｘ線解析装置で取得された２次元検出像から、発散の影響を除外した理想的な２次元像を構成するステップと、
前記理想的な２次元像の強度情報に基づいて、前記Ｘ線解析装置で取得された２次元検出像の補正を行うステップと、を備える、
データ補正方法。
続きを表示（約 180 文字）【請求項２】
Ｘ線回析装置で取得された２次元検出像の中心軸付近を細く切り出し、当該領域を距離（＝θ）方向に積分して１次元の積分データを構成するステップをさらに備え、
前記理想的な２次元像を構成するステップは、前記Ｘ線解析装置で取得された２次元検出像から構成された、前記１次元の積分データを用いて実行される、
請求項１に記載のデータ補正方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、データの補正方法に関する。
続きを表示（約 1,200 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、モノクロメータ及びＸ線検査器を２θ回転方向に対して直角方向に回転させることにより、アンブレラ効果による影響を抑制して、信頼性の高いＸ線測定結果を得ることができるＸ線装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０００－０３５４０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
Ｘ線回析法（X-ray diffraction: XRD）において、スリット幅を広くするとＸ線強度が増大して短時間で測定が可能であるが、ピークのブロード化および非対称化によって測定分解能が低下するという問題がある。
【０００５】
本開示は、Ｘ線回析法においてスリット幅を広くした場合であっても、ピークのブロード化及び非対称化を抑制するＸ線回析のデータの補正方法を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示にかかるデータの補正方法は、Ｘ線解析装置で取得された２次元検出像から、発散の影響を除外した理想的な２次元像を構成するステップと、前記理想的な２次元像の強度情報に基づいて、前記Ｘ線解析装置で取得された２次元検出像の補正を行うステップと、を備える。
これにより、Ｘ線解析装置で取得される２次元検出像を、理想的な２次元像の強度情報に基づいて補正することができる。
【発明の効果】
【０００７】
本開示よれば、ピークのブロード化及び非対称化を抑制するＸ線回析のデータの補正方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
本開示にかかるＸ線回析画像の補正の手順を示した図である。
本開示にかかる詳細な２次元像の補正手順の詳細な内容を示した図である。
本開示にかかるデータ補正の詳細な原理を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
実施の形態１
以下、図面を参照して本実施の形態に係るＸ線回析の補正方法について説明する。図１は、Ｘ線回析のデータの補正方法の手順の一例を示した図である。以下では、補正装置１が補正方法を実行するものとして説明する。典型的には、補正装置１には、コンピュータを用いることができる。
【００１０】
図１に示すように、補正装置１は、Ｘ線解析装置によって取得された２次元検出像に基づき、発散の影響を除外した理想的な２次元像を構成し（ステップＳ１１）、構成された前記理想的な２次元像の強度情報に基づいて、Ｘ線解析装置により取得された２次元検出像を補正する（ステップＳ１２）。
（【００１１】以降は省略されています）

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