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公開番号2025122392
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-08-21
出願番号2024017840
出願日2024-02-08
発明の名称偏光特性測定装置及び光スペクトラムアナライザ
出願人アンリツ株式会社
代理人個人,個人,個人,個人,個人,個人
主分類G01J 4/04 20060101AFI20250814BHJP(測定;試験)
要約【課題】本開示は、信号光の広ダイナミックレンジ分光と偏光状態の測定を可能にすることを目的とする。
【解決手段】本開示は、被測定光を予め定められた波長で分光する回折格子と、回折格子で分光された波長ごとに被測定光を4つの光束に分岐し、分岐したそれぞれの光束から方位角0度の直線偏光成分のパワーI₀と方位角90度の直線偏光成分のパワーI₉₀と方位角45度の直線偏光成分のパワーI₄₅と1/4波長板と偏光子を用いて検出した円偏光成分のパワーI_q45とに基づいて、ストークスパラメータを測定するストークスパラメータ測定部(12)と、を備え、1/4波長板の高速軸および低速軸のいずれか一方が回折格子の刻線方向に対して45度の角度を成すことを特徴とする、偏光特性測定装置および光スペクトラムアナライザである。
【選択図】図2

特許請求の範囲【請求項１】
被測定光を予め定められた波長で分光する回折格子（１１ｇ）と、
前記回折格子で分光された波長ごとに被測定光を４つの光束に分岐し、該分岐したそれぞれの光束から、方位角０度の直線偏光成分のパワーＩ
０
と方位角９０度の直線偏光成分のパワーＩ
９０
と方位角４５度の直線偏光成分のパワーＩ
４５
と１／４波長板と偏光子を用いて検出した円偏光成分のパワーＩ
ｑ４５
とに基づいて、ストークスパラメータを測定するストークスパラメータ測定部（１２）と、
を備え、
前記１／４波長板の高速軸および低速軸のいずれか一方が前記回折格子の刻線方向に対して４５度の角度を成すことを特徴とする、
偏光特性測定装置。
続きを表示（約 580 文字）【請求項２】
請求項１の偏光特性測定装置（９１）と、
前記回折格子を回動する回動部（１５）と、
前記回動部を制御して測定対象の波長を選択する波長制御部（１６）と、
前記偏光特性測定装置で取得した波長ごとのストークスパラメータを記憶する記憶部（１８）と、
前記記憶部に記憶した波長ごとのストークスパラメータを表示する表示部（１９）と、
を備えた光スペクトラムアナライザ。
【請求項３】
回折格子（１１ｇ）が、被測定光を予め定められた波長で分光し、
ストークスパラメータ測定部（１２）が、前記回折格子で分光された波長ごとに被測定光を４つの光束に分岐し、該分岐したそれぞれの光束から方位角０度の直線偏光成分のパワーＩ
０
と方位角９０度の直線偏光成分のパワーＩ
９０
と方位角４５度の直線偏光成分のパワーＩ
４５
と１／４波長板と偏光子を用いて検出した円偏光成分のパワーＩ
ｑ４５
とに基づいて、ストークスパラメータを測定する、
偏光特性測定方法であって、
前記１／４波長板の高速軸および低速軸のいずれか一方が前記回折格子の刻線方向に対して４５度の角度を成すことを特徴とする、
偏光特性測定方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、偏光特性測定装置及び光スペクトラムアナライザに関する。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
ストークスパラメータ測定部を備え、ＷＤＭ（ＷａｖｅｌｅｎｇｔｈＤｉｖｉｓｉｏｎＭｕｌｔｉｐｌｅｘｉｎｇ）信号などの信号光の光スペクトル及び偏光状態が測定できる光スペクトラムアナライザが提案されている（例えば、特許文献１参照。）。特許文献１の段落００１７の記載の通り、波長ごとに分光する分光器は、エタロン分光器のような偏光依存性の少ないものが好ましい。
【０００３】
しかし、エタロン分光器は、広ダイナミックレンジでの分光が難しい。この点、回折格子を用いた分光器は、広ダイナミックレンジで分光することが可能である。しかし、回折格子はＰ偏光とＳ偏光とで回折効率が大きく異なるため、信号光の偏光状態を正確に測定することができなくなる問題がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２０１０－００２１９０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本開示は、信号光の広ダイナミックレンジ分光と偏光状態の測定を可能にすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示の偏光特性測定装置は、
被測定光を予め定められた波長で分光する回折格子（１１ｇ）と、
回折格子で分光された波長ごとに被測定光を４つの光束に分岐し、分岐したそれぞれの光束から方位角０度の直線偏光成分のパワーＩ
０
と方位角９０度の直線偏光成分のパワーＩ
９０
と方位角４５度の直線偏光成分のパワーＩ
４５
と１／４波長板と偏光子を用いて検出した円偏光成分のパワーＩ
ｑ４５
とに基づいて、ストークスパラメータを測定するストークスパラメータ測定部（１２）と、
を備え、
１／４波長板の高速軸および低速軸のいずれか一方が回折格子の刻線方向に対して４５度の角度を成すことを特徴とする。
【０００７】
本開示の光スペクトラムアナライザは、
本開示の偏光特性測定装置（９１）と、
回折格子を回動する回動部（１５）と、
前記回動部を制御して測定対象の波長を選択する波長制御部（１６）と、
前記偏光特性測定装置で取得した波長ごとのストークスパラメータを記憶する記憶部（１８）と、
前記記憶部に記憶した波長ごとのストークスパラメータを表示する表示部（１９）と、
を備える。
【０００８】
本開示の偏光特性測定方法は、
回折格子（１１ｇ）が、被測定光を予め定められた波長で分光し、
ストークスパラメータ測定部（１２）が、回折格子で分光された波長ごとに被測定光を４つの光束に分岐し、分岐したそれぞれの光束から方位角０度の直線偏光成分のパワーＩ
０
と方位角９０度の直線偏光成分のパワーＩ
９０
と方位角４５度の直線偏光成分のパワーＩ
４５
と１／４波長板と偏光子を用いて検出した円偏光成分のパワーＩ
ｑ４５
とに基づいて、ストークスパラメータを測定する、
偏光特性測定方法であって、
前記１／４波長板の高速軸および低速軸のいずれか一方が前記回折格子の刻線方向に対して４５度の角度を成すことを特徴とする。
【０００９】
なお、上記各開示は、可能な限り組み合わせることができる。
【発明の効果】
【００１０】
本開示によれば、信号光の広ダイナミックレンジ分光と偏光状態の測定を可能にすることができる。
【図面の簡単な説明】
（【００１１】以降は省略されています）

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