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公開番号2025085381
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-06-05
出願番号2023199221
出願日2023-11-24
発明の名称情報処理装置及び情報処理方法
出願人キヤノン株式会社
代理人個人,個人,個人,個人
主分類H04N 25/683 20230101AFI20250529BHJP(電気通信技術)
要約【課題】異常画素をより好適に補正し得る情報処理装置を提供する。
【解決手段】複数の行及び複数の列をなすように配された複数の画素における隣接する2つの画素の画素値の差が第1範囲内である場合に前記2つの画素が同一の第1連結画素群に属すると判定する第1連結部と、注目画素と前記注目画素の近傍に配された近傍画素とを含む近傍画素群の中で、前記注目画素の画素値の順位が第2範囲の上限よりも高いか又は前記第2範囲の下限よりも低い場合に第1条件を満たすと判定する画素値判定部と、前記注目画素を含む前記第1連結画素群に属する画素の数が第1閾値以下である場合に第2条件を満たすと判定する第1連結数判定部と、前記第1条件及び前記第2条件を少なくとも満たす場合に前記注目画素の画素値を補正し、前記第1条件を満たさない場合又は前記第2条件を満たさない場合に前記注目画素の画素値を補正しない補正部と、を有する。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項１】
複数の行及び複数の列をなすように配された複数の画素における隣接する２つの画素の画素値の差が第１範囲内である場合に前記２つの画素が同一の第１連結画素群に属すると判定する第１連結部と、
注目画素と前記注目画素の近傍に配された近傍画素とを含む近傍画素群の中で、前記注目画素の画素値の順位が第２範囲の上限よりも高いか又は前記第２範囲の下限よりも低い場合に第１条件を満たすと判定する画素値判定部と、
前記注目画素を含む前記第１連結画素群に属する画素の数が第１閾値以下である場合に第２条件を満たすと判定する第１連結数判定部と、
前記第１条件及び前記第２条件を少なくとも満たす場合に前記注目画素の画素値を補正し、前記第１条件を満たさない場合又は前記第２条件を満たさない場合に前記注目画素の画素値を補正しない補正部と、
を有することを特徴とする情報処理装置。
続きを表示（約 1,800 文字）【請求項２】
前記第２範囲の上限は２位であり、前記第２範囲の下限は前記近傍画素群に含まれる画素の数から１を減じた数の順位である
ことを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記第１閾値は２以上である
ことを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記近傍画素は、前記注目画素と同一の行又は隣接する行、かつ、前記注目画素と同一の列又は隣接する列に配されている
ことを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記近傍画素群は、前記注目画素と前記注目画素を囲うように配された複数の前記近傍画素とを含む
ことを特徴とする請求項４に記載の情報処理装置。
【請求項６】
隣接する２つの第１画素と第２画素において、前記第１画素の画素値と、前記第１画素の近傍に配された近傍画素を含む近傍画素群の代表値との差が第３範囲外であり、かつ、前記第２画素の画素値と、前記第２画素の近傍に配された近傍画素を含む近傍画素群の代表値との差が第４範囲外である場合に、前記第１画素と前記第２画素とが同一の第２連結画素群に属すると判定する第２連結部と、
前記注目画素を含む前記第２連結画素群に属する画素の数が第２閾値よりも大きい場合に第３条件を満たすと判定する第２連結数判定部と、
を更に有し、
前記補正部は、前記第１条件及び前記第２条件をいずれも満たし、かつ前記第３条件を満たさない場合に、前記注目画素の画素値を補正し、
前記補正部は、前記第１条件を満たさない場合、前記第２条件を満たさない場合、又は前記第３条件を満たす場合に、前記注目画素の画素値を補正しない
ことを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記第２閾値は２以上である
ことを特徴とする請求項６に記載の情報処理装置。
【請求項８】
前記代表値は、前記近傍画素群に含まれる複数の画素の画素値の中央値である
ことを特徴とする請求項６に記載の情報処理装置。
【請求項９】
隣接する２つの第１画素と第２画素において、前記第１画素の画素値と、前記第１画素の近傍に配された近傍画素を含む近傍画素群の代表値との差が第３範囲外であり、かつ、前記第２画素の画素値と、前記第２画素の近傍に配された近傍画素を含む近傍画素群の代表値との差が第４範囲外である場合に、前記第１画素と前記第２画素とが同一の第２連結画素群に属すると判定する第２連結部と、
前記注目画素を含む前記第２連結画素群に属する画素の数が第２閾値よりも大きい場合に第３条件を満たすと判定する第２連結数判定部と、
前記注目画素の画素値が第３閾値以上である場合又は第４閾値以下である場合に第４条件を満たすと判定する突出判定部と、
を更に有し、
前記補正部は、前記第１条件及び前記第２条件をいずれも満たし、かつ前記第３条件を満たさない場合に、前記注目画素の画素値を補正し、
前記補正部は、前記第１条件、前記第２条件、前記第３条件及び前記第４条件をいずれも満たす場合にも、前記注目画素の画素値を補正し、
前記補正部は、前記第１条件を満たさない場合、前記第２条件を満たさない場合、又は前記第４条件を満たさない場合に、前記注目画素の画素値を補正しない
ことを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項１０】
前記注目画素を含む所定範囲内の複数の画素において、ある画素の画素値と、その近傍に配された近傍画素を含む近傍画素群の代表値との差が第５範囲外であるような画素の数が第５閾値よりも大きい場合に、第５条件を満たすと判定する密度判定部を更に有し、
前記補正部は、前記第１条件及び前記第２条件をいずれも満たし、かつ前記第５条件を満たさない場合に、前記注目画素の画素値を補正し、
前記補正部は、前記第１条件を満たさない場合、前記第２条件を満たさない場合、又は前記第５条件を満たす場合に、前記注目画素の画素値を補正しない
ことを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報処理装置及び情報処理方法に関する。
続きを表示（約 2,500 文字）【背景技術】
【０００２】
デジタルカメラ等の撮像装置には、入射光を光電変換して電気信号に変換する撮像素子が複数個配列されているものがある。複数の撮像素子を含む撮像装置においては、複数の撮像素子の一部の信号の出力特性が他の撮像素子と異なる場合があり、複数の撮像素子の一部が異常に高い信号又は低い信号を出力する場合もある。
【０００３】
このような撮像素子から出力される異常な信号を補正せずにそのまま用いると異常画素により画質が低下する場合がある。そのため、引用文献１乃至３では、異常画素を検出して補正する手法が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２００５－２３６７４９号公報
特開２００４－０１５１９１号公報
特開２００５－２２３７９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
異常画素の発生比率及び分布は多様であり、様々な発生態様を考慮して動的に異常画素を補正する手法が求められる。
【０００６】
本発明は、異常画素をより好適に補正し得る情報処理装置及び情報処理方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本明細書の一開示によれば、複数の行及び複数の列をなすように配された複数の画素における隣接する２つの画素の画素値の差が第１範囲内である場合に前記２つの画素が同一の第１連結画素群に属すると判定する第１連結部と、注目画素と前記注目画素の近傍に配された近傍画素とを含む近傍画素群の中で、前記注目画素の画素値の順位が第２範囲の上限よりも高いか又は前記第２範囲の下限よりも低い場合に第１条件を満たすと判定する画素値判定部と、前記注目画素を含む前記第１連結画素群に属する画素の数が第１閾値以下である場合に第２条件を満たすと判定する第１連結数判定部と、前記第１条件及び前記第２条件を少なくとも満たす場合に前記注目画素の画素値を補正し、前記第１条件を満たさない場合又は前記第２条件を満たさない場合に前記注目画素の画素値を補正しない補正部と、を有することを特徴とする情報処理装置が提供される。
【０００８】
本明細書の一開示によれば、複数の行及び複数の列をなすように配された複数の画素における隣接する２つの画素の画素値の差が第１範囲内である場合に前記２つの画素が同一の第１連結画素群に属すると判定するステップと、注目画素と前記注目画素の近傍に配された近傍画素とを含む近傍画素群の中で、前記注目画素の画素値の順位が第２範囲の上限よりも高いか又は前記第２範囲の下限よりも低い場合に第１条件を満たすと判定するステップと、前記注目画素を含む前記第１連結画素群に属する画素の数が第１閾値以下である場合に第２条件を満たすと判定するステップと、前記第１条件及び前記第２条件を少なくとも満たす場合に前記注目画素の画素値を補正するステップと、を有し、前記第１条件が満たされていない場合、又は前記第２条件が満たされていない場合に、前記注目画素の画素値が補正されないことを特徴とする情報処理方法が提供される。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、異常画素をより好適に補正し得る情報処理装置及び情報処理方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
第１実施形態に係る情報処理装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
第１実施形態に係る情報処理装置の補正処理機能に関する機能ブロック図である。
第１実施形態に係る画素の配列を模式的に示す図である。
第１実施形態に係る情報処理装置により実行される補正処理を示すフローチャートである。
第１実施形態に係る補正処理における画素値及び画素状態の例を模式的に示す図である。
第１実施形態に係る補正処理における画素値、画素状態及びデータ保持方法の例を模式的に示す図である。
第１実施形態に係る補正処理における閾値の例を示すグラフである。
第１実施形態に係る補正処理における画素値及び画素状態の例を模式的に示す図である。
第２実施形態に係る情報処理装置の補正処理機能に関する機能ブロック図である。
第２実施形態に係る情報処理装置により実行される補正処理を示すフローチャートである。
第２実施形態に係る補正処理における画素値の例を模式的に示す図である。
第２実施形態に係る補正処理における閾値の例を示すグラフである。
第２実施形態の変形例に係る画素の配列を模式的に示す図である。
第３実施形態に係る情報処理装置の補正処理機能に関する機能ブロック図である。
第３実施形態に係る情報処理装置により実行される補正処理を示すフローチャートである。
第３実施形態に係る補正処理における画素値の例を模式的に示す図である。
第４実施形態に係る情報処理装置の補正処理機能に関する機能ブロック図である。
第４実施形態に係る情報処理装置により実行される補正処理を示すフローチャートである。
第４実施形態に係る補正処理における画素値の例を模式的に示す図である。
第５実施形態に係る光電変換装置の全体構成を示す概略図である。
第５実施形態に係るセンサ基板の構成例を示す概略ブロック図である。
第５実施形態に係る回路基板の構成例を示す概略ブロック図である。
第５実施形態に係る光電変換部及び画素信号処理部の１画素分の構成例を示す概略ブロック図である。
第５実施形態に係るアバランシェフォトダイオードの動作を説明する図である。
第６実施形態に係る機器のブロック図である。
第７実施形態に係る機器のブロック図である。
【発明を実施するための形態】
（【００１１】以降は省略されています）

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