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公開番号2025099203
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-07-03
出願番号2023215669
出願日2023-12-21
発明の名称シーケンスパターン発生装置とそのシーケンス同期方法
出願人アンリツ株式会社
代理人弁理士法人日誠国際特許事務所
主分類H04L 7/00 20060101AFI20250626BHJP(電気通信技術)
要約【課題】複数の出力のシーケンスパターンの送信開始タイミングを揃えることで、複数レーンの評価を同時に行なわせることができるシーケンスパターン発生装置を提供すること。
【解決手段】それぞれ2つのデータ信号の出力を持つプライマリモジュール2およびセカンダリモジュール3と、プライマリモジュール2とセカンダリモジュール3を跨った出力のシーケンスの開始を同期させる場合、プライマリモジュール2とセカンダリモジュール3のクロックの位相を合わせ、プライマリモジュール2のプライマリデータ発生部26とセカンダリモジュール3のセカンダリデータ発生部36のクロックの位相がロックしてから、プライマリデータ発生部26とセカンダリデータ発生部36にシーケンスを開始させる装置制御部16と、を備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
少なくとも１つのデータ信号の出力を持つモジュール（２、３）を少なくとも１つ装着可能で、前記データ信号の出力の総数が２つ以上となるシーケンスパターン発生装置（１）であって、
前記モジュールを跨った出力のシーケンスの開始を同期させる場合、同期対象となっている出力を持つ全ての前記モジュールのクロックの位相を合わせ、前記モジュールのデータ発生部（２６、３６）のクロックの位相がロックしてから、シーケンスを開始させる装置制御部（１６）を備えるシーケンスパターン発生装置。
続きを表示（約 260 文字）【請求項２】
少なくとも１つのデータ信号の出力を持つモジュール（２、３）を少なくとも１つ装着可能で、前記データ信号の出力の総数が２つ以上となるシーケンスパターン発生装置（１）のシーケンス同期方法であって、
前記モジュールを跨った出力のシーケンスの開始を同期させる場合、同期対象となっている出力を持つ全ての前記モジュールのクロックの位相を合わせるステップと、
前記モジュールのデータ発生部（２６、３６）のクロックの位相がロックしてから、シーケンスを開始させるステップと、を備えるシーケンス同期方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、ユーザが設定する任意のシーケンスパターンを生成して出力するシーケンスパターン発生装置に関する。
続きを表示（約 1,400 文字）【背景技術】
【０００２】
近年、各種のディジタル通信装置は、ユーザ数の増加やマルチメディア通信の普及に伴い、より大容量の伝送能力が求められている。そして、これらのディジタル通信装置におけるディジタル信号の品質評価の指標として、受信データのうち符号誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率（Bit Error Rate）が知られている。
【０００３】
そして、上述したビット誤り率を測定する誤り率測定装置では、試験対象となる被試験デバイスに対して固定データを含むテスト信号を送信し、被試験デバイスを介して入力される被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較して被測定信号の誤り率を測定している。
【０００４】
この種の誤り率測定装置では、近年の高速データ通信に対応した被試験デバイスにテスト信号として入力される所定パルスパターンのデータ信号を発生するパルスパターン発生装置が用いられている。
【０００５】
特許文献１には、複数のデータ信号の位相状態を一定に保つため、基準クロック信号の周波数に応じてマスター側位相差目標値の設定とともに記憶部の補正データを用いてスレーブ側位相差目標値を設定するパルスパターン発生装置が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
特許第５４３２３５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ＵＳＢ（Universal Serial Bus）やＰＣＩｅ（Peripheral Component Interconnect Express）などのハイスピードシリアルバス（High Speed Serial Bus）の規格では、Link Training ＆ Status State Machine（ＬＴＳＳＭ）と呼ばれるステートマシーンを持ち、これによりデバイス間の通信の初期化やリンク速度の調整などを管理している。
【０００８】
また、従来の誤り率測定装置は、パルスパターン発生器（ＰＰＧ：Pulse Pattern Generator）から規格が定める特定パターンを高速に切り替えることによってＰＣＩｅＧＥＮ１～５、ＵＳＢ３．１のＬＴＳＳＭを制御し、特定のステートに遷移させる機能（シーケンスパターン機能）を備えている。なお、被測定物（ＤＵＴ：Device Under Test）をステート遷移させるパターンは、規格で定められており、それらのパターンの出力順をシーケンスパターン機能により組み合わせて出力できる。
【０００９】
ＰＣＩｅの規格においてレーン数はx1、x2、x4、x8、x16などのバリエーションで定義されており、レーンごとに定義されたパターンを送信し、ＤＵＴをステート遷移させる。レーン数はＤＵＴによって異なっている。
【００１０】
x1のようにひとつのレーンであれば他のレーンの動作を考慮する必要はないが、例えばx2やx4のように複数レーンを持つＤＵＴを同時にステート遷移させるためには、ＤＵＴに入力するパターンの、レーン間での位相ずれの時間の許容値である許容Skewが定義されているため、その許容Skewに応じたずれの範囲内で各レーンのシーケンスパターンをＤＵＴに送信する必要がある。
（【００１１】以降は省略されています）

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