特許ウォッチ

公開番号2025110245
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-07-28
出願番号2024004070
出願日2024-01-15
発明の名称質量分析装置及び質量分析方法
出願人日本電子株式会社
代理人弁理士法人YKI国際特許事務所
主分類G01N 27/62 20210101AFI20250718BHJP(測定;試験)
要約【課題】質量分析装置において、時間的に隣接する2つのサイクル測定区間の間に無駄な時間が生じないようにする。
【解決手段】複数の化合物ピーク観測期間に基づいて、保持時間軸上に複数の測定区間Sa1～Sa5が設定される。時間的に隣接する2つの測定区間の間でブランク期間(余り時間)r1～r5が生じないように、各測定区間Sa1～Sa5の開始時期及び終了時期が補正され、これにより補正後の各測定区間Sb1～Sb5の実開始時刻及び実終了時刻が定められる。具体的には、i-1番目のサイクル測定区間の実終了時刻にi番目のサイクル測定区間の実開始時刻が合わせられる。
【選択図】図5
特許請求の範囲【請求項１】
保持時間軸上に設定される複数の化合物ピーク観測期間を管理するための第１のテーブルと、
前記複数の化合物ピーク観測期間に基づいて前記保持時間軸上に設定される複数のサイクル測定区間を管理するための第２のテーブルと、
時間的に隣接する２つのサイクル測定区間の間でブランク期間が生じないように、各サイクル測定区間の開始時刻及び終了時刻を補正することにより、前記各サイクル測定区間の実開始時刻及び実終了時刻を定めるプロセッサと、
を含むことを特徴とする質量分析装置。
続きを表示（約 1,700 文字）【請求項２】
請求項１記載の質量分析装置において、
前記プロセッサは、
ｉを１つずつ増加させながら（但しｉは２以上の整数）、
ｉ－１番目のサイクル測定区間の実終了時刻に基づいて、ｉ番目のサイクル測定区間の実開始時刻を定め、
前記ｉ番目のサイクル測定区間の実開始時刻及び前記ｉ番目のサイクル測定区間に適用されるサイクルタイムに従って、前記ｉ番目のサイクル測定区間の実終了時刻を定める、
ことを特徴とする質量分析装置。
【請求項３】
請求項２記載の質量分析装置において、
前記プロセッサは、
前記ｉ番目のサイクル測定区間の実終了時刻を、前記ｉ番目のサイクル測定区間の終了時刻よりも前に定める、
ことを特徴とする質量分析装置。
【請求項４】
請求項２記載の質量分析装置において、
前記プロセッサは、
前記ｉ番目のサイクル測定区間の実終了時刻を、前記ｉ番目のサイクル測定区間の終了時刻よりも後に定める、
ことを特徴とする質量分析装置。
【請求項５】
請求項２記載の質量分析装置において、
前記プロセッサは、
前記ｉ番目のサイクル測定区間内において予測される測定終了時刻と前記ｉ＋１番目のサイクル測定区間の開始時刻との間の差分時間を演算し、
前記差分時間に基づいて、前記ｉ番目のサイクル測定区間の実終了時刻を定める方法を選択する、
ことを特徴とする質量分析装置。
【請求項６】
請求項５記載の質量分析装置において、
前記プロセッサは、
前記方法として第１方法が選択された場合には、前記ｉ番目のサイクル測定区間の実終了時刻を、前記ｉ番目のサイクル測定区間の終了時刻よりも前に定め、
前記方法として第２方法が選択された場合には、前記ｉ番目のサイクル測定区間の実終了時刻を、前記ｉ番目のサイクル測定区間の終了時刻よりも後に定める、
ことを特徴とする質量分析装置。
【請求項７】
請求項１記載の質量分析装置において、
前記プロセッサは、補正モードを実行する機能及び非補正モードを実行する機能を有し、
前記補正モードでは、前記ブランク期間が生じないように、前記各サイクル測定区間の開始時刻及び終了時刻を補正することにより前記各サイクル測定区間の実開始時刻及び実終了時刻が定められ、
前記非補正モードでは、前記各サイクル測定区間の開始時刻及び終了時刻が補正されることなくそれらがそのまま採用される、
ことを特徴とする質量分析装置。
【請求項８】
請求項７記載の質量分析装置において、
前記プロセッサは、前記各サイクル測定区間に適用されるサイクルタイムに基づいて、前記補正モード又は前記非補正モードを選択する、
ことを特徴とする質量分析装置。
【請求項９】
請求項８記載の質量分析装置において、
前記プロセッサは、
前記サイクルタイムが閾値よりも小さい場合に前記補正モードを選択し、
前記サイクルタイムが前記閾値よりも大きい場合に前記非補正モードを選択する、
ことを特徴とする質量分析装置。
【請求項１０】
請求項１～９のいずれか１項に記載の質量分析装置において、
試料から生成されたイオンに対して第１質量分析を適用する第１質量分析器と、
前記第１質量分析器を通過したイオンを蓄積及び排出するコリジョンセルと、
前記コリジョンセルから排出されたイオンに対して第２質量分析を適用する第２質量分析器と、
前記第２質量分析器を通過したイオンを検出する検出器と、
を含み、
前記プロセッサは、前記各サイクル測定期間に対して適用される測定シーケンスに従って、前記第１質量分析器、前記コリジョンセル及び前記第２質量分析器の動作を制御する、
ことを特徴とする質量分析装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、質量分析装置及び質量分析方法に関し、特に、複数のサイクル測定区間を設定する技術に関する。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
質量分析システムは、例えば、ガスクロマトグラフ及び質量分析装置により構成される（例えば特許文献１を参照）。ガスクロマトグラフにおいて試料から複数の化合物が分離される。質量分析装置において、分離された各化合物に対する質量分析が実施される。
【０００３】
例えば、第１質量分析器及び第２質量分析器を有する質量分析装置は、ＳＲＭ（Selected Reaction Monitoring）モードを有する。そのモードはＭＲＭ（Multiple Reaction Monitoring）モードとも呼ばれる。ＳＲＭモードは、複数の質量電荷比を循環的に順次選択するという観点から見て、ＳＩＭ（Selected Ion Monitoring）モードに類似する。
【０００４】
ＳＲＭモードでは、例えば、保持時間軸上に設定される複数の化合物ピーク観測期間に基づいて、保持時間軸上に複数のサイクル測定区間（以下、場合により、単に測定区間という。）が設定される。各測定区間において、複数種類のイオンを時分割で検出するための測定シーケンスが繰り返し実行される。測定シーケンスの繰り返し周期は、サイクルタイム（ループタイム）とも呼ばれる。サイクルタイムは、測定シーケンスを一回実行するのに要する時間である。
【０００５】
測定シーケンスを構成する複数のイオン検出工程では、複数のトランジションに対応する複数の動作条件が設定される。トランジションは、第１質量分析器で選択されるプリカーサーイオンの質量電荷比、及び、第２質量分析器で選択されるプロダクトイオンの質量電荷比の組み合わせに相当する。なお、ＳＲＭモード以外のモード（例えばＳＩＭモード）においても、複数の化合物ピーク観測期間に基づいて複数の測定区間が設定され得る。
【０００６】
各測定区間において、当該測定区間の時間長がサイクルタイムの整数倍に一致しない場合、当該測定区間の最後に、サイクルタイムよりも短い余り時間が生じてしまう。余り時間は、測定が行われないブランク時間であり、無駄な時間である。
【０００７】
特許文献２には、化合物ピーク観測期間（測定イベントの長さ）を調整する技術が開示されている。特許文献３には、イオン検出時間（イベント時間）を調整する技術が開示されている。特許文献４には、イオン検出時間（dwell time）を調整する技術が開示されている。特許文献１～４のいずれにも、時間的に隣接する２つの測定区間の間で無駄な時間が生じないようにする技術は開示されていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
特開２０１９－２１１３０１号公報
特開２０１２－１３２７９９号公報
国際公開第２０１６／００２０４６号
米国特許第１０８９２１５２号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明の目的は、時間的に隣接する２つのサイクル測定区間の間に無駄な時間が生じないようにすることにある。あるいは、本発明の目的は、各サイクル測定区間の開始時刻及び終了時刻を最適化することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明に係る質量分析装置は、保持時間軸上に設定される複数の化合物ピーク観測期間を管理するための第１のテーブルと、前記複数の化合物ピーク観測期間に基づいて前記保持時間軸上に設定される複数のサイクル測定区間を管理するための第２のテーブルと、時間的に隣接する２つのサイクル測定区間の間でブランク期間が生じないように、各サイクル測定区間の開始時刻及び終了時刻を補正することにより、前記各サイクル測定区間の実開始時刻及び実終了時刻を定めるプロセッサと、を含むことを特徴とする。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許