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公開番号2025098590
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-07-02
出願番号2023214826
出願日2023-12-20
発明の名称リプル値補正装置、コンピュータプログラム、リプル値補正方法及びリプル値補正システム
出願人星和電機株式会社
代理人個人,個人
主分類G01R 31/00 20060101AFI20250625BHJP(測定;試験)
要約【課題】電解コンデンサの周辺温度に関わらず同じ温度でのリプル値を得ることができるリプル値補正装置、コンピュータプログラム、リプル値補正方法及びリプル値補正システムを提供する。
【解決手段】リプル値補正装置は、制御部を備え、制御部は、電源機構に含まれる電解コンデンサのリプル値及び周辺温度を取得し、取得したリプル値及び周辺温度、並びに複数の温度で画定される温度帯の任意の基準温度でのリプル値に対する基準温度以外の他の温度でのリプル値の比率である補正係数を温度毎に定めた補正情報に基づいて、周辺温度でのリプル値を基準温度でのリプル値に補正する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
制御部を備え、
前記制御部は、
電源機構に含まれる電解コンデンサのリプル値及び周辺温度を取得し、
取得したリプル値及び周辺温度、並びに複数の温度で画定される温度帯の任意の基準温度でのリプル値に対する前記基準温度以外の他の温度でのリプル値の比率である補正係数を温度毎に定めた補正情報に基づいて、前記周辺温度でのリプル値を前記基準温度でのリプル値に補正する、
リプル値補正装置。
続きを表示（約 1,500 文字）【請求項２】
前記制御部は、
複数の周辺温度毎に電解コンデンサの異なる時点でのリプル値を収集し、
収集したリプル値に基づいてリプル値の統計値を算出し、
複数の周辺温度で画定される温度帯の任意の周辺温度でのリプル値の統計値に対する前記周辺温度以外の他の周辺温度でのリプル値の統計値の比率を算出し、
算出した比率に基づいて前記補正情報を生成する、
請求項１に記載のリプル値補正装置。
【請求項３】
前記制御部は、
前記電解コンデンサの複数の周辺温度でのリプル値を取得し、
取得した周辺温度で画定される温度帯が前記補正情報に含まれていない場合、取得した周辺温度でのリプル値の比率である補正係数及び前記補正情報に含まれる補正係数に基づいて、前記温度帯を含む補正情報を生成する、
請求項１に記載のリプル値補正装置。
【請求項４】
前記制御部は、
経年変化後の前記電解コンデンサの複数の周辺温度でのリプル値を取得し、
取得した周辺温度で画定される温度帯での前記周辺温度でのリプル値の比率である補正係数及び前記温度帯での前記補正情報に含まれる補正係数に基づいて、前記経年変化後の前記補正情報を更新する、
請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のリプル値補正装置。
【請求項５】
前記制御部は、
取得した周辺温度で画定される温度帯での前記周辺温度でのリプル値の比率である補正係数及び前記温度帯での前記補正情報に含まれる補正係数に基づいて、前記補正情報に含まれる前記温度帯での補正係数を更新する、
請求項４に記載のリプル値補正装置。
【請求項６】
前記制御部は、
取得した周辺温度で画定される温度帯での前記周辺温度でのリプル値の比率である補正係数及び前記温度帯以外の他の温度帯での前記補正情報に含まれる補正係数に基づいて、前記補正情報に含まれる前記他の温度帯での補正係数を更新する、
請求項４に記載のリプル値補正装置。
【請求項７】
前記制御部は、
取得した周辺温度で画定される温度帯よりも低い低温度帯が前記補正情報に含まれる場合、前記温度帯で最も低い複数の周辺温度でのリプル値の比率である補正係数及び前記低温度帯での前記補正情報に含まれる補正係数に基づいて、前記補正情報に含まれる前記低温度帯での補正係数を更新する、
請求項４に記載のリプル値補正装置。
【請求項８】
前記制御部は、
取得した周辺温度で画定される温度帯よりも高い高温度帯が前記補正情報に含まれる場合、前記温度帯で最も高い複数の周辺温度でのリプル値の比率である補正係数及び前記高温度帯での前記補正情報に含まれる補正係数に基づいて、前記補正情報に含まれる前記高温度帯での補正係数を更新する、
請求項４に記載のリプル値補正装置。
【請求項９】
前記制御部は、
取得した周辺温度で画定される温度帯が前記補正情報に含まれない場合、前記補正情報に含まれる補正係数及び前記周辺温度でのリプル値の比率である補正係数に基づいて、前記温度帯を含むように前記補正情報に含まれる補正係数を更新する、
請求項４に記載のリプル値補正装置。
【請求項１０】
前記制御部は、
補正されたリプル値に基づいて前記電解コンデンサ又は前記電源機構の劣化を判定する、
請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のリプル値補正装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、リプル値補正装置、コンピュータプログラム、リプル値補正方法及びリプル値補正システムに関する。
続きを表示（約 1,800 文字）【背景技術】
【０００２】
電気機器や電子機器、システム機器など様々な機器は電源機構（電源装置も含む）を備えている。これらの電源機構は、一般的に小型軽量化のためスイッチング回路で構成されるとともに、スイッチング回路の動作で生じるノイズやリプル電圧（リプル電流）を低減するため電解コンデンサを備える。
【０００３】
しかし、電解コンデンサの特性劣化によるリプル値の増大は、電源機構や電源機構を備える機器の不具合の原因となるため、電解コンデンサの劣化状態を把握することは重要である。また、電解コンデンサの特性は電解コンデンサの周辺温度の影響を受ける。特許文献１には、電解コンデンサのリプル値を検出するとともに、電解コンデンサの周辺温度を検出し、検出したリプル値に温度補正値を取り込むことによりリアルタイムで寿命を判定する判定信号を出力する寿命検出装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２０１０－１９３６２７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、特許文献１の装置にあっては、検出したリプル値に算出された温度補正値を結合するため、劣化判定のためのリプル値は電解コンデンサの温度に依存する。このため、同じ温度での劣化判定を行うことができない。
【０００６】
本発明は、斯かる事情に鑑みてなされたものであり、電解コンデンサの周辺温度に関わらず同じ温度でのリプル値を得ることができるリプル値補正装置、コンピュータプログラム、リプル値補正方法及びリプル値補正システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本願は上記課題を解決する手段を複数含んでいるが、その一例を挙げるならば、リプル値補正装置は、制御部を備え、前記制御部は、電源機構に含まれる電解コンデンサのリプル値及び周辺温度を取得し、取得したリプル値及び周辺温度、並びに複数の温度で画定される温度帯の任意の基準温度でのリプル値に対する前記基準温度以外の他の温度でのリプル値の比率である補正係数を温度毎に定めた補正情報に基づいて、前記周辺温度でのリプル値を前記基準温度でのリプル値に補正する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、電解コンデンサの周辺温度に関わらず同じ温度でのリプル値を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
本実施形態のリプル値補正システムの構成の一例を示す図である。
補正テーブルの一例を示す図である。
補正テーブルの生成方法の一例を示す図である。
補正テーブルの拡張方法の一例を示す図である。
電解コンデンサのリプル値の経年変化の一例を示す図である。
補正テーブルの更新方法の第１例を示す図である。
補正テーブルの更新方法の第２例を示す図である。
補正テーブルの更新方法の第３例を示す図である。
補填処理の一例を示す図である。
電源機構又は電解コンデンサの劣化判定の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明を実施の形態を示す図面に基づいて説明する。図１は本実施形態のリプル値補正システムの構成の一例を示す図である。リプル値補正システムは、リプル値補正装置５０及び電源機構１００を備える。電源機構１００は、いわゆる電源装置でもよく、電気機器や電子機器、システム機器など様々な機器に組み込まれる電源機構でもよく、あるいは当該機器とは別個に構成されて使用される電源機構でもよい。電源機構１００は、電解コンデンサ１１０を備える。電源機構１００が備える電解コンデンサ１１０の数や場所については特段の限定はない。電源機構１００は、不図示の温度デンサにより電解コンデンサ１１０の周辺温度を検出し、検出した周辺温度をリプル値補正装置５０へ出力する。リプル値補正装置５０は、電源機構１００の電解コンデンサ１１０のリプル値（リプル電圧）をリアルタイムで取得することができる。リプル値補正装置５０は、電源機構１００の内部に組み込む構成でもよい。
（【００１１】以降は省略されています）

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