TOP特許意匠商標
特許ウォッチ Twitter
10個以上の画像は省略されています。
公開番号2025122481
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-08-21
出願番号2024018009
出願日2024-02-08
発明の名称情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
出願人キヤノン株式会社
代理人弁理士法人秀和特許事務所
主分類G06V 10/82 20220101AFI20250814BHJP(計算;計数)
要約【課題】解析対象の画像が入力される機械学習モデルにおいて、解析処理の精度低下を低減する。
【解決手段】本開示に係る情報処理装置は、被検体の第1および第2の軸に沿った第1および第2の断層画像群を取得する画像取得手段と、前記第1および前記第2の断層画像群に対して、解析対象物に関する特徴量の解析性能を示す第1および第2のマップを取得するマップ取得手段と、前記第1および前記第2の断層画像群を含む空間座標ごとに、前記第1のマップと前記第2のマップとを比較する比較手段と、前記第1および第2の断層画像群を第1および第2の機械学習モデルに入力し、出力される特徴量を第1および第2の解析データ群として取得する解析データ取得手段と、前記第1および前記第2の解析データ群を統合して前記比較手段による比較結果に基づく統合データを取得する統合データ取得手段とを備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項1】
被検体の第1の軸に沿った第1の断層画像群と、前記被検体の第2の軸に沿った第2の断層画像群とを取得する画像取得手段と、
前記第1の断層画像群に対して、解析対象物に関する特徴量の解析性能を示す第1のマップを取得し、前記第2の断層画像群に対して、前記解析対象物に関する特徴量の解析性能を示す第2のマップを取得するマップ取得手段と、
前記第1の断層画像群と前記第2の断層画像群を含む空間座標ごとに、前記第1のマップと前記第2のマップとを比較する比較手段と、
前記第1の断層画像群を、前記解析対象物に関する特徴量を出力する第1の機械学習モデルに入力し、前記第1の機械学習モデルから出力される特徴量を第1の解析データ群として取得し、前記第2の断層画像群を、前記解析対象物に関する特徴量を出力する第2の機械学習モデルに入力し、前記第2の機械学習モデルから出力される特徴量を第2の解析データ群として取得する解析データ取得手段と、
前記第1の解析データ群と前記第2の解析データ群を統合して前記比較手段による比較結果に基づく統合データを取得する統合データ取得手段と、
を備えることを特徴とする情報処理装置。
続きを表示(約 1,000 文字)【請求項2】
前記第1の機械学習モデルと前記第2の機械学習モデルは、前記被検体の断層画像に対するパディング処理と畳み込み処理とを実行することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
【請求項3】
前記統合データ取得手段は、前記比較結果に基づいて前記第1の解析データ群と前記第2の解析データ群を統合することにより、前記比較結果に基づく統合データを取得することを特徴とする請求項1または2に記載の情報処理装置。
【請求項4】
前記画像取得手段は、前記第1の断層画像群と前記第2の断層画像群を、同一の3次元画像から取得することを特徴とする請求項1または2に記載の情報処理装置。
【請求項5】
前記画像取得手段は、前記第1の断層画像群と前記第2の断層画像群を、前記被検体を撮像した異なる3次元画像から取得することを特徴とする請求項1または2に記載の情報処理装置。
【請求項6】
前記第1の機械学習モデルと前記第2の機械学習モデルとは、同一の機械学習モデルであることを特徴とする請求項1または2に記載の情報処理装置。
【請求項7】
前記第1の機械学習モデルは、前記第1の断層画像群に対して前記解析対象物に関する特徴量の解析性能が高くなるように訓練されており、
前記第2の機械学習モデルは、前記第2の断層画像群に対して前記解析対象物に関する特徴量の解析性能が高くなるように訓練されている、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の情報処理装置。
【請求項8】
前記解析データ取得手段は、前記比較結果に基づいて、前記統合データ取得手段が前記第1の解析データ群と前記第2の解析データ群の統合に使用しない、前記第2の解析データ群の一部を取得しないことを特徴とする請求項1または2に記載の情報処理装置。
【請求項9】
前記第2の解析データ群の前記一部は、前記空間座標のうち、前記第2のマップが示す解析性能よりも前記第1のマップが示す解析性能の方が高い空間座標に対応する前記第2の解析データ群のデータであることを特徴とする請求項8に記載の情報処理装置。
【請求項10】
前記第1の解析データ群と前記第2の解析データ群は、前記第1の断層画像群と前記第2の断層画像群における前記解析対象物の特徴量に関する異常らしさの程度の分布を示すデータ群であることを特徴とする請求項1または2に記載の情報処理装置。
(【請求項11】以降は省略されています)

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、情報処理装置、情報処理方法およびプログラムに関する。
続きを表示(約 4,600 文字)【背景技術】
【0002】
近年、画像分類、物体検出、セマンティックセグメンテーション等を行う画像処理分野のアプリケーションにおいて、畳み込みニューラルネットワーク(CNN;Convolutional Neural Network)が採用されている。CNNは、畳み込み処理を繰り返し実行する深層学習技術の一種であり、例えば、非特許文献1、2において画像処理を精度よく行うことができる。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【0003】
Kaiming He, Xiangyu Zhang, Shaoqing Ren, Jian Sun, "Deep Residual Learning for Image Recognition", <https://arxiv.org/abs/1512.03385>(2015年12月10日公開)
Jonathan Long, Evan Shelhamer, Trevor Darrell, "Fully Convolutional Networks for Semantic Segmentation", <https://arxiv.org/abs/1411.4038>(2014年11月14日公開)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、多くのCNNに含まれるパディング処理(入力画像の周囲を所定の値で補うことで出力画像のサイズを調整する処理)に起因する課題が生じる。例えば、CNNにおいて、画像の中央に存在する分類対象や検出対象に対しては精度よく処理できるが、画像の辺縁領域に存在する分類対象や検出対象に対しては精度が低下するという課題がある。これは、パディング処理等において精度の向上に貢献しないデータが生成され、生成されたデータが畳み込み処理の結果に取り込まれることが原因である。
【0005】
本開示の技術は、上記に鑑みてなされたものであり、解析対象の画像が入力される機械学習モデルにおいて、解析処理の精度低下を低減することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本開示に係る情報処理装置は、被検体の第1の軸に沿った第1の断層画像群と、前記被検体の第2の軸に沿った第2の断層画像群とを取得する画像取得手段と、前記第1の断層画像群に対して、解析対象物に関する特徴量の解析性能を示す第1のマップを取得し、前記第2の断層画像群に対して、前記解析対象物に関する特徴量の解析性能を示す第2のマップを取得するマップ取得手段と、前記第1の断層画像群と前記第2の断層画像群を含む空間座標ごとに、前記第1のマップと前記第2のマップとを比較する比較手段と、前記第1の断層画像群を、前記解析対象物に関する特徴量を出力する第1の機械学習モデルに入力し、前記第1の機械学習モデルから出力される特徴量を第1の解析データ群として取得し、前記第2の断層画像群を、前記解析対象物に関する特徴量を出力する第2の機械学習モデルに入力し、前記第2の機械学習モデルから出力される特徴量を第2の解析データ群として取得する解析データ取得手段と、前記第1の解析データ群と前記第2の解析データ群を統合して前記比較手段による比較結果に基づく統合データを取得する統合データ取得手段と、を備えることを特徴とする情報処理装置を含む。また、本開示に係る情報処理装
置は、被検体の第1の軸に沿った第1の断層画像群と、前記被検体の第2の軸に沿った第2の断層画像群とを取得する画像取得手段と、前記第1の断層画像群に対応する、解析対象物に関する特徴量の解析性能を示す第1のマップを取得し、前記第2の断層画像群に対応する、前記解析対象物に関する特徴量の解析性能を示す第2のマップを取得するマップ取得手段と、前記第1の断層画像群と前記第2の断層画像群を含む空間座標ごとに、前記第1のマップと前記第2のマップとを比較する比較手段と、前記第1の断層画像群を、前記解析対象物に関する特徴量を出力する第1の機械学習モデルに入力し、前記第1の機械学習モデルから出力される特徴量を第1の解析データ群として取得し、前記第2の断層画像群を、前記解析対象物に関する特徴量を出力する第2の機械学習モデルに入力し、前記第2の機械学習モデルから出力される特徴量を第2の解析データ群として取得する解析データ取得手段と、前記第1のマップの解析性能と前記第2のマップの解析性能を用いて、前記第1の解析データ群の特徴量と前記第2の解析データ群の特徴量を調整して、調整された前記第1の解析データ群と前記第2の解析データ群を統合して前記比較手段による比較結果に基づく統合データを取得する統合データ取得手段と、を備えることを特徴とする情報処理装置を含む。また、本開示に係る情報処理装置は、被検体の第1の軸に沿った第1の断層画像群と、前記被検体の第2の軸に沿った第2の断層画像群とを取得する画像取得手段と、前記第1の断層画像群を、解析対象物に関する特徴量を出力する第1の機械学習モデルに入力し、前記第1の機械学習モデルから出力される特徴量を第1の解析データ群として取得し、前記第2の断層画像群を、前記解析対象物に関する特徴量を出力する第2の機械学習モデルに入力し、前記第2の機械学習モデルから出力される特徴量を第2の解析データ群として取得する解析データ取得手段と、前記第1の断層画像群と前記第2の断層画像群を含む空間座標のうち所定の領域に対応する空間座標の前記第1の解析データ群の特徴量を前記第2の解析データ群の特徴量で置換することで、前記第1の解析データ群と前記第2の解析データ群を統合して統合データを取得する統合データ取得手段と、を備えることを特徴とする情報処理装置を含む。
【0007】
また、本開示に係る情報処理方法は、被検体の第1の軸に沿った第1の断層画像群と、前記被検体の第2の軸に沿った第2の断層画像群とを取得するステップと、前記第1の断層画像群に対応する、解析対象物に関する特徴量の解析性能を示す第1のマップを取得し、前記第2の断層画像群に対応する、前記解析対象物に関する特徴量の解析性能を示す第2のマップを取得するステップと、前記第1の断層画像群と前記第2の断層画像群を含む空間座標ごとに、前記第1のマップと前記第2のマップとを比較するステップと、前記第1の断層画像群を、前記解析対象物に関する特徴量を出力する第1の機械学習モデルに入力し、前記第1の機械学習モデルから出力される特徴量を第1の解析データ群として取得し、前記第2の断層画像群を、前記解析対象物に関する特徴量を出力する第2の機械学習モデルに入力し、前記第2の機械学習モデルから出力される特徴量を第2の解析データ群として取得するステップと、前記第1の解析データ群と前記第2の解析データ群を統合して前記第1のマップと前記第2のマップの比較結果に基づく統合データを取得するステップと、を含むことを特徴とする情報処理方法を含む。また、本開示に係る情報処理方法は、被検体の第1の軸に沿った第1の断層画像群と、前記被検体の第2の軸に沿った第2の断層画像群とを取得するステップと、前記第1の断層画像群に対応する、解析対象物に関する特徴量の解析性能を示す第1のマップを取得し、前記第2の断層画像群に対応する、前記解析対象物に関する特徴量の解析性能を示す第2のマップを取得するステップと、前記第1の断層画像群と前記第2の断層画像群を含む空間座標ごとに、前記第1のマップと前記第2のマップとを比較するステップと、前記第1の断層画像群を、前記解析対象物に関する特徴量を出力する第1の機械学習モデルに入力し、前記第1の機械学習モデルから出力される特徴量を第1の解析データ群として取得し、前記第2の断層画像群を、前記解析対象物に関する特徴量を出力する第2の機械学習モデルに入力し、前記第2の機械学習モデルから出力される特徴量を第2の解析データ群として取得するステップと、前記第1のマップの解析性能と前記第2のマップの解析性能を用いて、前記第1の解析データ群の
特徴量と前記第2の解析データ群の特徴量を調整して、調整された前記第1の解析データ群と前記第2の解析データ群を統合して前記第1のマップと前記第2のマップの比較結果に基づく統合データを取得するステップと、を含むことを特徴とする情報処理方法を含む。また、本開示に係る情報処理方法は、被検体の第1の軸に沿った第1の断層画像群と、前記被検体の第2の軸に沿った第2の断層画像群とを取得するステップと、前記第1の断層画像群を、解析対象物に関する特徴量を出力する第1の機械学習モデルに入力し、前記第1の機械学習モデルから出力される特徴量を第1の解析データ群として取得し、前記第2の断層画像群を、前記解析対象物に関する特徴量を出力する第2の機械学習モデルに入力し、前記第2の機械学習モデルから出力される特徴量を第2の解析データ群として取得するステップと、前記第1の断層画像群と前記第2の断層画像群を含む空間座標のうち所定の領域に対応する空間座標の前記第1の解析データ群の特徴量を前記第2の解析データ群の特徴量で置換することで、前記第1の解析データ群と前記第2の解析データ群を統合して統合データを取得するステップと、を含むことを特徴とする情報処理方法を含む。
【発明の効果】
【0008】
本開示の技術によれば、解析対象の画像が入力される機械学習モデルにおいて、解析処理の精度低下を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
第1実施形態に係る情報処理装置の構成の一例を示す図
断層画像と異常尤度マップの関係を示す図
パディング処理の画像への影響範囲を説明する図
出力テンソルに対するパディング処理の画像への影響を説明する図
出力テンソルに対するパディング処理の画像への影響を説明する別の図
解析性能マップを設定する処理の一例を示すフローチャート
第1実施形態における統合解析データの生成処理を示すフローチャート
第1実施形態における画像データの処理を模式的に説明する図
第1実施形態における解析性能の分布を模式的に説明する図
一変形例における解析性能の分布を模式的に説明する図
一変形例における統合解析データの生成処理を示すフローチャート
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、本開示の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本開示は以下の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。また、以下で説明する図面において、同じ機能を有する構成には、同一の符号が付され、その説明は省略または簡略化される場合がある。
(【0011】以降は省略されています)

この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する

関連特許

キヤノン株式会社
移動体
8日前
キヤノン株式会社
発光装置
7日前
キヤノン株式会社
光学機器
2日前
キヤノン株式会社
発光装置
2日前
キヤノン株式会社
撮像装置
9日前
キヤノン株式会社
撮像装置
今日
キヤノン株式会社
電子機器
今日
キヤノン株式会社
記録装置
9日前
キヤノン株式会社
現像装置
18日前
キヤノン株式会社
乳酸センサ
14日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
18日前
キヤノン株式会社
カートリッジ
9日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
16日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
16日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
8日前
キヤノン株式会社
電子写真装置
15日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
15日前
キヤノン株式会社
画像表示装置
8日前
キヤノン株式会社
撮像システム
10日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
15日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
4日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
3日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
18日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
7日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
14日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
15日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
7日前
キヤノン株式会社
画像形成システム
1日前
キヤノン株式会社
プログラム、方法
今日
キヤノン株式会社
制御装置、制御方法
今日
キヤノン株式会社
演算装置、演算方法
2日前
キヤノン株式会社
光学系および撮像装置
9日前
キヤノン株式会社
光学系および撮像装置
2日前
キヤノン株式会社
光学装置及び撮像装置
17日前
キヤノン株式会社
光学装置及び撮像装置
8日前
キヤノン株式会社
保護カバー及び撮像装置
3日前
続きを見る