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公開番号2025129479
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-05
出願番号2024026135
出願日2024-02-26
発明の名称電磁波試験装置、及び電磁波試験方法
出願人TDK株式会社
代理人個人,個人,個人
主分類G01R 29/10 20060101AFI20250829BHJP(測定;試験)
要約【課題】反射箱内において低周波数帯を用いた放射イミュニティ試験を行う場合に、接地された金属製の載置台上の電界強度の均一性を向上させることができる電磁波試験装置を提供する。
【解決手段】反射箱と、前記反射箱内に設置され、前記反射箱の共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させるアンテナと、第1辺と、前記第1辺と対向する第2辺とを含む面であって供試体が載置される導体製の載置面を有する平板形状の載置台と、グランド電位の物体と前記第1辺との間を電気的に接続する第1接地部と、前記物体と前記第2辺との間を電気的に接続する第2接地部と、を備える電磁波試験装置。
【選択図】図3
特許請求の範囲【請求項１】
反射箱と、
前記反射箱内に設置され、前記反射箱の共振周波数未満の周波数の電磁波を放射させるアンテナと、
第１辺と、前記第１辺と対向する第２辺とを含む面であって供試体が載置される導体製の載置面を有する平板形状の載置台と、
グランド電位の物体と前記第１辺との間を電気的に接続する第１接地部と、
前記物体と前記第２辺との間を電気的に接続する第２接地部と、
を備える電磁波試験装置。
続きを表示（約 1,400 文字）【請求項２】
前記載置面と直交する方向のうち前記反射箱の床面に向かう方向に向かって前記載置台を見た場合の前記載置台の形状は、前記第１辺と前記第２辺とを長辺として有する長方形状である、
請求項１に記載の電磁波試験装置。
【請求項３】
前記物体は、前記反射箱の床面である、
請求項１に記載の電磁波試験装置。
【請求項４】
前記物体は、前記反射箱の側壁面である、
請求項１に記載の電磁波試験装置。
【請求項５】
前記第１接地部は、前記物体と前記第１辺とを電気的に接続する複数の第１接地部材を含み、
前記第２接地部は、前記物体と前記第２辺とを電気的に接続する複数の第２接地部材を含む、
請求項１に記載の電磁波試験装置。
【請求項６】
前記複数の第２接地部材の数は、前記複数の第１接地部材の数と同じであり、
前記複数の第１接地部材のそれぞれは、前記第１辺及び前記第２辺のそれぞれと直交する方向のうちの前記載置面と平行な方向において、前記複数の第２接地部材のいずれかと重複することなく対向している、
請求項５に記載の電磁波試験装置。
【請求項７】
前記第１接地部は、前記物体と前記第１辺とを電気的に接続する１つの第１接地部材を含み、
前記第２接地部は、前記物体と前記第２辺とを電気的に接続する１つの第２接地部材を含む、
請求項１に記載の電磁波試験装置。
【請求項８】
前記載置面と直交する方向のうち前記反射箱の床面に向かう方向を第１方向とし、
前記床面上の領域のうち前記第１方向に向かって前記第１辺が前記床面に射影される領域と前記第１辺とを互いに対向する２つの辺として有する長方形状の仮想的な面を第１面とし、
前記第１面と直交する方向のうち前記第１辺から前記第２辺に向かう方向を第２方向とし、
前記第１面の面積に対する、前記第２方向に向かって前記第１面を見た場合における前記第１接地部の面積の割合は、２５％以上である、
請求項１に記載の電磁波試験装置。
【請求項９】
前記載置面と直交する方向のうち前記反射箱の床面に向かう方向に向かって前記載置台を見た場合、前記第１接地部は、前記第１辺と前記第２辺とのそれぞれと平行な仮想的な直線のうち前記第１辺と前記第２辺との間の中央に位置する中心線と前記第１辺との間に位置し、前記第１辺と重なっておらず、
前記載置面と直交する方向のうち前記反射箱の床面に向かう方向に向かって前記載置台を見た場合、前記第２接地部は、前記中心線と前記第２辺との間に位置し、前記第２辺と重なっていない、
請求項１に記載の電磁波試験装置。
【請求項１０】
前記載置面と直交する方向のうち前記反射箱の床面に向かう方向に向かって前記載置台を見た場合、前記中心線と前記第１辺との間の最短距離を１とすると、前記中心線から前記第１接地部までの最短距離は、０．６以上１未満の範囲内に含まれる距離であり、
前記載置面と直交する方向のうち前記反射箱の床面に向かう方向に向かって前記載置台を見た場合、前記中心線と前記第２辺との間の最短距離を１とすると、前記中心線から前記第２接地部までの最短距離は、０．６以上１未満の範囲内に含まれる距離である、
請求項９に記載の電磁波試験装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、電磁波試験装置、及び電磁波試験方法に関する。
続きを表示（約 2,000 文字）【背景技術】
【０００２】
反射箱を用いて放射イミュニティ試験を行う電磁波試験装置についての研究、開発が行われている。放射イミュニティ試験は、供試体として反射箱内に設置された電子機器に対して均一で強度が強い電界を印加し、当該電子機器が正常に動作するか否かを確認する試験のことである。なお、本明細書において、電界は、磁界、電磁界のいずれかに読み替えられてもよい。
【０００３】
反射箱は、例えば、金属製の空洞共振器と、空洞共振器内に電磁波を放射するアンテナ装置と、アンテナ装置から放射された電磁波を攪拌する電磁攪拌器とにより構成される。そして、反射箱は、空洞共振器内における電磁波の共振現象により、供試体に印加される電界を発生させる。このようにして発生した電界の強度の分布には、空洞共振器の寸法に起因した強度のばらつきが現れてしまう。すなわち、空洞共振器によって発生させた電界の強度の分布は、不均一な分布となってしまう。このため、電磁攪拌器は、空洞共振器内の電磁波を攪拌し、空洞共振器によって発生させた電界の強度の分布を均一な分布に近づける。これにより、反射箱は、試験品質の高い放射イミュニティ試験をユーザに行わせることができる。本明細書では、説明の便宜上、このように反射箱内における共振現象を用いて放射イミュニティ試験を行う方法を、反射箱法と称して説明する。
【０００４】
反射箱法において、空洞共振器の共振周波数は、空洞共振器の寸法に反比例することが知られている。このため、反射箱法による放射イミュニティ試験では、反射箱内において共振現象を用いて発生させる電界の周波数を低くするほど、反射箱の容積を大きくしなければならなかった。
【０００５】
一方、反射箱の代わりに電波暗室を用いた放射イミュニティ試験では、電波暗室内において、低周波数帯の電界が電子機器に印加される。低周波数帯は、反射箱として機能する最低周波数（Lowest Usable Frequency；ＬＵＦ）未満の周波数帯、反射箱の最低次の共振周波数（すなわち、第１共振周波数）未満の周波数帯等のことである。このような低周波数帯の電界を用いた放射イミュニティ試験を反射箱内において行おうとすると、反射箱の寸法は、１０ｋｍ程度となってしまう。このような寸法の反射箱は、設置する場所の自由度を制限してしまうため、望ましくない。このため、近年、反射箱には、低周波数帯を用いた放射イミュニティ試験を行える装置を有し、且つ、電気機器を入れることができる程度の大きさであることが望まれてきていた。
【０００６】
反射箱内において低周波数帯を用いた放射イミュニティ試験を行える装置としては、伝送線路システム(Transmission Line System；ＴＬＳ)と呼ばれる装置が知られている。伝送線路システムとしては、ＴＥＭ（Transverse Electro-Magnetic）プレートアンテナ、ストリップライン等のアンテナから電界を電子機器へ印加する装置等が知られている。本明細書では、説明の便宜上、伝送線路システムを用いて放射イミュニティ試験を行う方法を、伝送線路システム法と称して説明する。
【０００７】
ここで、電波暗室を用いた放射イミュニティ試験を行う対象となる供試体を載置する載置台として、天板と、天板の底面側に設けられ天板を支持する脚部と、天板の表面に設けられ金属製材料からなる接地板と、電波暗室の壁面金属板に接地板を接続する接続腕部材とを備え、天板には、内側部分から外縁部分に向けて延び外縁部分が開口して接続腕部材を進退可能に収容する収容部が設けられ、接続腕部材は、収容部に沿って延びて収容部内に移動可能に取付けられ接地板に接続された腕部と、腕部の先端側に設けられ収容部から突出して電波暗室の壁面金属板に接続される接続部とによって構成された載置台が知られている（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
特開２０１０－１２７８７０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、特許文献１に記載されたような載置台を、反射箱内において低周波数帯を用いた放射イミュニティ試験で使用する方法は、これまでに確立されていなかった。
【００１０】
本開示は、このような事情を考慮してなされたもので、反射箱内において低周波数帯を用いた放射イミュニティ試験を行う場合に、接地された金属製の載置台上の電界強度の均一性を向上させることができる電磁波試験装置、及び電磁波試験方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
（【００１１】以降は省略されています）

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