特許ウォッチ

公開番号2025131021
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-09
出願番号2024028496
出願日2024-02-28
発明の名称測定装置、測定装置の制御プログラム、および、コンピュータプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
出願人株式会社小糸製作所
代理人弁理士法人アルファ国際特許事務所
主分類G01S 17/42 20060101AFI20250902BHJP(測定;試験)
要約【課題】ポリゴンミラーを備えるスキャン方式の測定装置に比べて、投受光のためのメカ構成が少ない分だけ、メカ構成に起因する不具合が生じることを抑制する。
【解決手段】測定装置は、一列状または格子状に配置された複数の発光部を有する投光器と、一列状または格子状に配置され、複数の発光部のそれぞれに対応する、複数の受光部を有する受光器と、コントローラと、を備える。コントローラは、複数の発光部を、互いに異なる発光タイミングで順次発光させ、複数の受光部のそれぞれに、各受光部に対応する各発光部から出射され、測定対象に反射して戻ってきた反射光を受光させ、互いに対応する各発光部の発光タイミングと各受光部の受光タイミングとに基づき、測定対象に関する処理を行う。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
一列状または格子状に配置された複数の発光部を有する投光器と、
一列状または格子状に配置され、前記複数の発光部のそれぞれに対応する、複数の受光部を有する受光器と、
コントローラと、を備える測定装置であって、
前記コントローラは、
前記複数の発光部を、互いに異なる発光タイミングで順次発光させ、
前記複数の受光部のそれぞれに、前記各受光部に対応する前記各発光部から出射され、測定対象に反射して戻ってきた反射光を受光させ、
互いに対応する前記各発光部の発光タイミングと前記各受光部の受光タイミングとに基づき、前記測定対象に関する処理を行う、測定装置。
続きを表示（約 1,600 文字）【請求項２】
請求項１に記載の測定装置であって、
前記複数の受光部は、第１のグループに属する複数の前記受光部と、前記第１のグループとは異なる第２のグループに属する複数の前記受光部と、を含み、
前記コントローラは、共通メモリと、前記測定対象に関する測定を行う共通処理部と、を有し、
前記コントローラは、
第１の期間において、前記第１のグループに属する複数の前記受光部の受光タイミングに応じた受光データ群を前記共通メモリに書き込んで、
前記第１の期間よりも後の第２の期間において、前記共通処理部に、前記共通メモリに書き込まれた前記第１のグループの前記受光データ群を読み出して前記測定対象に関する測定を行わせ、前記第２のグループに属する複数の前記受光部の受光タイミングに応じた受光データ群を、前記共通メモリに書き込む、測定装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の測定装置であって、
前記コントローラは、
前記複数の発光部のうち、少なくとも１つの発光部について、温度と発光強度との特性に基づき、温度変化の前後で発光強度の差が小さくなるように、前記少なくとも１つの発光部に印加する電圧を調整する、測定装置。
【請求項４】
請求項１または請求項２に記載の測定装置であって、
前記コントローラは、
前記複数の発光部のうち、少なくとも第１の発光部と第２の発光部とについて、それぞれの発光強度を取得し、
取得した前記第１の発光部の発光強度と前記第２の発光部の発光強度とに基づき、前記第１の発光部と前記第２の発光部との発光強度差が小さくなるように、前記第１の発光部と前記第２の発光部との少なくとも一方に印加する電圧を調整する、測定装置。
【請求項５】
請求項１または請求項２に記載の測定装置であって、
前記受光部は、ＳＰＡＤであり、
前記コントローラは、
前記複数の受光部のうち、少なくとも１つの受光部について、温度と降伏電圧との特性に基づき、温度変化の前後で光子検出効率の差が小さくなるように、前記少なくとも１つの受光部に印加する電圧を調整する、測定装置。
【請求項６】
一列状または格子状に配置された複数の発光部を有する投光器と、
一列状または格子状に配置され、前記複数の発光部のそれぞれに対応する、複数の受光部を有する受光器と、を備える測定装置が有するコンピュータに、
前記複数の発光部を、互いに異なる発光タイミングで順次発光させ、
前記複数の受光部のそれぞれに、前記各受光部に対応する前記各発光部から出射され、測定対象に反射して戻ってきた反射光を受光させ、
互いに対応する前記各発光部の発光タイミングと前記各受光部の受光タイミングとに基づき、前記測定対象に関する処理を行う、測定装置の制御プログラム。
【請求項７】
一列状または格子状に配置された複数の発光部を有する投光器と、
一列状または格子状に配置され、前記複数の発光部のそれぞれに対応する、複数の受光部を有する受光器と、を備える測定装置を制御するためのコンピュータプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、
前記複数の発光部を、互いに異なる発光タイミングで順次発光させ、
前記複数の受光部のそれぞれに、前記各受光部に対応する前記各発光部から出射され、測定対象に反射して戻ってきた反射光を受光させ、
互いに対応する前記各発光部の発光タイミングと前記各受光部の受光タイミングとに基づき、前記測定対象に関する処理を行う、コンピュータプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本明細書に開示される技術は、測定装置に関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
ＡＤ（ＡｕｔｏｎｏｍｏｕｓＤｒｉｖｉｎｇ：自動運転）やＡＤＡＳ（ＡｄｖａｎｃｅｄＤｒｉｖｅｒ－ＡｓｓｉｓｔａｎｃｅＳｙｓｔｅｍｓ：先進運転支援システム）の進展に伴い、車両の走行時における周囲環境の把握や自己位置推定に用いる測定装置の一つとして、ＬｉＤＡＲ（ＬｉｇｈｔＤｅｔｅｃｔｉｏｎＡｎｄＲａｎｇｉｎｇ）の開発研究が進められている。
【０００３】
測定装置の中には、ポリゴンミラーを用いるスキャン方式の測定装置が知られている。この測定装置では、レーザ光源からのレーザ光を、ポリゴンミラーに反射させて測定対象に照射し、レーザ光が測定対象に反射して戻ってくる反射光を受光する。測定対象上におけるレーザ光の照射位置を、ポリゴンミラーの回転に伴って所定の走査方向に移動させることにより、走査方向における測定対象に関する情報（形状等）を取得することができる（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
国際公開第２０２０／１１７９１２号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記スキャン方式の測定装置では、例えばポリゴンミラー、そのポリゴンミラーを回転させるための回転機構や、その回転機構に動力を伝える駆動モータなどのメカ構成が必須である。このため、スキャン方式の測定装置では、メカ構成に起因する不具合が生じやすいなど、改善の余地があった。
【０００６】
本明細書では、上述した課題を解決することが可能な技術を開示する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本明細書に開示される技術は、例えば、以下の形態として実現することが可能である。
【０００８】
（１）本明細書に開示される測定装置は、一列状または格子状に配置された複数の発光部を有する投光器と、一列状または格子状に配置され、前記複数の発光部のそれぞれに対応する、複数の受光部を有する受光器と、コントローラと、を備える。前記コントローラは、前記複数の発光部を、互いに異なる発光タイミングで順次発光させ、前記複数の受光部のそれぞれに、前記各受光部に対応する前記各発光部から出射され、測定対象に反射して戻ってきた反射光を受光させ、互いに対応する前記各発光部の発光タイミングと前記各受光部の受光タイミングとに基づき、前記測定対象に関する処理を行う。本測定装置によれば、ポリゴンミラーを備えるスキャン方式の測定装置に比べて、投受光のためのメカ構成が少ない分だけ、メカ構成に起因する不具合が生じることを抑制することができる。
【０００９】
（２）上記測定装置において、前記複数の受光部は、第１のグループに属する複数の前記受光部と、前記第１のグループとは異なる第２のグループに属する複数の前記受光部と、を含み、前記コントローラは、共通メモリと、前記測定対象に関する測定を行う共通処理部と、を有し、前記コントローラは、第１の期間において、前記第１のグループに属する複数の前記受光部の受光タイミングに応じた受光データ群を前記共通メモリに書き込んで、前記第１の期間よりも後の第２の期間において、前記共通処理部に、前記共通メモリに書き込まれた前記第１のグループの前記受光データ群を読み出して前記測定対象に関する測定を行わせ、前記第２のグループに属する複数の前記受光部の受光タイミングに応じた受光データ群を、前記共通メモリに書き込む構成としてもよい。本測定装置によれば、測定対象に関する測定のためのメモリの小型化や構成の共通化を図ることができる。
【００１０】
（３）上記測定装置において、前記コントローラは、前記複数の発光部のうち、少なくとも１つの発光部について、温度と発光強度との特性に基づき、温度変化の前後で発光強度の差が小さくなるように、前記少なくとも１つの発光部に印加する電圧を調整する構成としてもよい。本測定装置によれば、発光部の温度変化に起因する発光強度のバラツキを抑制することができる。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許