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公開番号
2025117300
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-08-12
出願番号
2024012061
出願日
2024-01-30
発明の名称
半導体パッケージ用ステム、半導体パッケージ用ステムの製造方法、半導体パッケージ
出願人
新光電気工業株式会社
代理人
個人
,
個人
主分類
H01L
23/36 20060101AFI20250804BHJP(基本的電気素子)
要約
【課題】半導体パッケージ用ステムの放熱性を向上する。
【解決手段】本半導体パッケージ用ステムは、第1孔部と、前記第1孔部に連通し、前記第1孔部よりも内径が大きい第2孔部と、を含む貫通孔を備えたアイレットと、前記貫通孔内に配置されたリードと、前記第1孔部の内側面と前記リードの側面との間に配置され、前記第2孔部側に延伸する封着部材と、前記第2孔部の内側面と前記封着部材の外側面との間に配置される嵌めこみ部材と、を有し、前記嵌めこみ部材は、前記アイレットよりも剛性が高く、前記嵌めこみ部材の熱膨張係数は、前記封着部材の熱膨張係数よりも大きく、前記アイレットの熱膨張係数よりも小さい。
【選択図】図3
特許請求の範囲
【請求項1】
第1孔部と、前記第1孔部に連通し、前記第1孔部よりも内径が大きい第2孔部と、を含む貫通孔を備えたアイレットと、
前記貫通孔内に配置されたリードと、
前記第1孔部の内側面と前記リードの側面との間に配置され、前記第2孔部側に延伸する封着部材と、
前記第2孔部の内側面と前記封着部材の外側面との間に配置される嵌めこみ部材と、を有し、
前記嵌めこみ部材は、前記アイレットよりも剛性が高く、
前記嵌めこみ部材の熱膨張係数は、前記封着部材の熱膨張係数よりも大きく、前記アイレットの熱膨張係数よりも小さい、半導体パッケージ用ステム。
続きを表示(約 1,500 文字)
【請求項2】
前記封着部材は、ガラスから構成され、
前記嵌めこみ部材は、融点が900℃以上の金属接合材により、前記第2孔部と接合されている、請求項1に記載の半導体パッケージ用ステム。
【請求項3】
前記金属接合材は、高純度の銀を含む、請求項2に記載の半導体パッケージ用ステム。
【請求項4】
前記アイレットは、銅又は銅合金から構成され、
前記嵌めこみ部材は、鉄又は鉄合金から構成される、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の半導体パッケージ用ステム。
【請求項5】
前記アイレットの上面に金属ブロックが配置され、
前記第1孔部は、前記アイレットの上面に開口し、
前記第2孔部は、前記アイレットの下面に開口する、請求項1に記載の半導体パッケージ用ステム。
【請求項6】
前記アイレットの上面に金属ブロックが配置され、
前記第2孔部は、前記アイレットの上面に開口し、
前記第1孔部は、前記アイレットの下面に開口する、請求項1に記載の半導体パッケージ用ステム。
【請求項7】
前記アイレットの上面に、平面視で前記金属ブロック及び前記リードを囲むように環状に配置されたシール部をさらに有する、請求項5又は6に記載の半導体パッケージ用ステム。
【請求項8】
請求項7に記載の半導体パッケージ用ステムと、
前記金属ブロックに固定され、前記リードと電気的に接続された半導体素子と、
前記シール部上に接合されたキャップと、を有する、半導体パッケージ。
【請求項9】
第1孔部と、前記第1孔部に連通し、前記第1孔部よりも内径が大きい第2孔部と、を含む貫通孔を備えたアイレットと、リードと、ガラスから構成された中空の封着部材と、中空の嵌めこみ部材と、融点が900℃以上である中空の金属接合材と、を準備する工程と、
前記第2孔部に前記金属接合材及び前記嵌めこみ部材をこの順番で挿入し、前記第1孔部、前記金属接合材、及び前記嵌めこみ部材に前記封着部材を挿入し、前記封着部材に前記リードを挿入する工程と、
前記封着部材及び前記金属接合材を加熱して溶融させ、その後凝固させて、前記第1孔部の内側面と前記リードの側面、及び前記嵌めこみ部材の内側面と前記リードの側面を、前記封着部材により封着すると共に、前記第2孔部の内側面と前記嵌めこみ部材の外側面とを前記金属接合材により接合する工程と、を有し、
前記嵌めこみ部材は、前記アイレットよりも剛性が高く、
前記嵌めこみ部材の熱膨張係数は、前記封着部材の熱膨張係数よりも大きく、前記アイレットの熱膨張係数よりも小さい、半導体パッケージ用ステムの製造方法。
【請求項10】
第1孔部と、前記第1孔部に連通し、前記第1孔部よりも内径が大きい第2孔部と、を含む貫通孔を備えたアイレットと、リードと、ガラスから構成された中空の封着部材と、金属接合材として融点が900℃以上の金属を含むめっきが表面に施された中空の嵌めこみ部材と、を準備する工程と、
前記封着部材及び前記めっきを加熱して溶融させ、その後凝固させて、前記第1孔部の内側面と前記リードの側面、及び前記嵌めこみ部材の内側面と前記リードの側面を、前記封着部材により封着すると共に、前記第2孔部の内側面と前記嵌めこみ部材の外側面とを前記めっきにより接合する工程と、を有し、
前記嵌めこみ部材は、前記アイレットよりも剛性が高く、
前記嵌めこみ部材の熱膨張係数は、前記封着部材の熱膨張係数よりも大きく、前記アイレットの熱膨張係数よりも小さい、半導体パッケージ用ステムの製造方法。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体パッケージ用ステム、半導体パッケージ用ステムの製造方法、及び半導体パッケージに関する。
続きを表示(約 1,300 文字)
【背景技術】
【0002】
発光素子等の半導体素子を搭載する半導体パッケージ用ステムにおいて、例えば、鉄等から構成された円板状のアイレットに貫通孔を形成し、貫通孔内にリードを封着部材により気密封止する構造が知られている。
【0003】
また、半導体パッケージ用ステムの放熱性を向上するため、アイレットの材料として鉄等に代えて銅等が用いられる場合がある。しかし、銅は鉄よりも剛性が低いため、アイレットとリードとの間の気密性が低下するおそれがある。これは、アイレットの剛性が低いと、封着部材に対して十分な応力を掛けることができないことに起因する。
【0004】
そこで、このような問題を解決するため、アイレットと封着部材との間にアイレットよりも剛性の高いブッシュを介在させる構造が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
特開2016-100535号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
しかし、特許文献1に記載のブッシュは、アイレットの厚さ方向の全体に設けられるため、ブッシュを設けるために貫通孔の穴径を大きくする必要がある。そのため、アイレットの放熱面の面積が減少し、十分な放熱性が得られなかった。
【0007】
本発明は、上記の点に鑑みてなされたものであり、半導体パッケージ用ステムの放熱性の向上を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本半導体パッケージ用ステムは、第1孔部と、前記第1孔部に連通し、前記第1孔部よりも内径が大きい第2孔部と、を含む貫通孔を備えたアイレットと、前記貫通孔内に配置されたリードと、前記第1孔部の内側面と前記リードの側面との間に配置され、前記第2孔部側に延伸する封着部材と、前記第2孔部の内側面と前記封着部材の外側面との間に配置される嵌めこみ部材と、を有し、前記嵌めこみ部材は、前記アイレットよりも剛性が高く、前記嵌めこみ部材の熱膨張係数は、前記封着部材の熱膨張係数よりも大きく、前記アイレットの熱膨張係数よりも小さい。
【発明の効果】
【0009】
開示の技術によれば、半導体パッケージ用ステムの放熱性を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
第1実施形態に係る半導体パッケージ用ステムを例示する図(その1)である。
第1実施形態に係る半導体パッケージ用ステムを例示する図(その2)である。
第1実施形態に係る半導体パッケージ用ステムを例示する図(その3)である。
第1実施形態に係る半導体パッケージ用ステムの製造工程について説明する断面図である。
金属接合材にめっきを用いる例を示す図である。
第1実施形態の変形例1に係る半導体パッケージ用ステムを例示する断面図である。
第1実施形態の変形例2に係る半導体パッケージ用ステムを例示する図である。
第2実施形態に係る半導体パッケージを例示する断面図である。
【発明を実施するための形態】
(【0011】以降は省略されています)
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