TOP
|
特許
|
意匠
|
商標
特許ウォッチ
Twitter
他の特許を見る
10個以上の画像は省略されています。
公開番号
2025120634
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-08-18
出願番号
2024015571
出願日
2024-02-05
発明の名称
発光素子およびその製造方法
出願人
豊田合成株式会社
代理人
弁理士法人あいち国際特許事務所
主分類
H10H
20/819 20250101AFI20250808BHJP()
要約
【課題】所望の領域を発光させることが可能な発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体を用いた発光素子の製造方法は、基板10上にn型層11を形成する工程と、n型層11上に、所定のバンドギャップエネルギーの第1活性層12を形成する工程と、第1活性層12上に、第1中間層13を形成する工程と、第1中間層13上に、第1活性層12とは異なるバンドギャップエネルギーの第2活性層14を形成する工程と、第2活性層14側から第1中間層13に達する深さの第1溝を形成する工程と、第2活性層14上、第1溝の底面上、および前記第1溝の側面上に、p型層18を形成する工程と、p型層18のうち第2活性層14上の領域(18C)と第1溝の底面上の領域(18B)とを接続する領域(18E)の近傍をエッチングして第1凹部(33、34)を形成する工程と、を有する。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
III族窒化物半導体を用いた発光素子の製造方法において、
基板上に、n型のIII族窒化物半導体を含むn型層を形成するn型層形成工程と、
前記n型層上に、所定のバンドギャップエネルギーの第1活性層を形成する第1活性層形成工程と、
前記第1活性層上に、III族窒化物半導体を含む第1中間層を形成する第1中間層形成工程と、
前記第1中間層上に、前記第1活性層とは異なるバンドギャップエネルギーの第2活性層を形成する第2活性層形成工程と、
前記第2活性層側から前記第1中間層に達する深さの第1溝を形成する溝形成工程と、
前記第2活性層上、前記第1溝の底面上、および前記第1溝の側面上に、p型のIII族窒化物半導体を含むp型層を形成するp型層形成工程と、
前記p型層のうち前記第2活性層上の領域と前記第1溝の底面上の領域とを接続する領域の近傍をエッチングして第1凹部を形成するp型層エッチング工程と、を有する、発光素子の製造方法。
続きを表示(約 1,600 文字)
【請求項2】
前記第1凹部の深さは、前記p型層の厚さよりも小さい、請求項1に記載の発光素子の製造方法。
【請求項3】
前記第1凹部の深さは、前記p型層の厚さの-20nmから+20nmの範囲である、請求項1に記載の発光素子の製造方法。
【請求項4】
前記第2活性層上に、III族窒化物半導体を含む第2中間層を形成する第2中間層形成工程と、
前記第2中間層上に、前記第1活性層および前記第2活性層とは異なるバンドギャップエネルギーの第3活性層を形成する第2活性層形成工程と、を有し、
前記溝形成工程は、前記第3活性層側から前記第2中間層に達する深さの第2溝を形成し、
前記p型層形成工程は、前記第3活性層上、前記第1溝の底面上、前記第2溝の底面上、前記第1溝の側面上、および前記第2溝の側面上に、p型のIII族窒化物半導体を含む前記p型層を形成し、
前記p型層エッチング工程は、前記p型層のうち前記第3活性層上の領域と前記第2溝の底面上の領域とを接続する領域の近傍をエッチングして、前記第1凹部と同じ深さの第2凹部をさらに形成する、請求項1から請求項3までのいずれか1項に記載の発光素子の製造方法。
【請求項5】
前記p型層エッチング工程は、前記p型層のうち前記第1中間層上の領域と前記第3活性層上の領域とを接続する領域の近傍をエッチングして、前記第1凹部および前記第2凹部と同じ深さの第3凹部をさらに形成する、請求項4に記載の発光素子の製造方法。
【請求項6】
III族窒化物半導体を用いた発光素子において、
基板と、
前記基板上に設けられ、n型のIII族窒化物半導体を含むn型層と、
前記n型層上に設けられ、所定のバンドギャップエネルギーの第1活性層と、
前記第1活性層上に設けられ、III族窒化物半導体を含む第1中間層と、
前記第1中間層上に設けられ、前記第1活性層とは異なるバンドギャップエネルギーの第2活性層と、
前記第2活性層側から前記第1中間層に達する深さの第1溝と、
前記第2活性層上、前記第1溝の底面上、前記第1溝の側面上に設けられ、p型のIII族窒化物半導体を含むp型層と、
前記p型層のうち前記第2活性層上の領域と前記第1溝の底面上の領域とを接続する領域の近傍に設けられた第1凹部と、を有する、発光素子。
【請求項7】
前記第1凹部の深さは、前記p型層の厚さよりも小さい、請求項6に記載の発光素子。
【請求項8】
前記第1凹部の深さは、前記p型層の厚さの-20nmから+20nmの範囲である、請求項6に記載の発光素子。
【請求項9】
前記第2活性層上に設けられ、III族窒化物半導体を含む第2中間層と、
前記第2中間層上に設けられ、前記第1活性層および前記第2活性層とは異なるバンドギャップエネルギーの第3活性層と、
前記第3活性層側から前記第2中間層に達する深さの第2溝と、を有し、
前記p型層は、前記第3活性層上、前記第1溝の底面上、前記第2溝の底面上、前記第1溝の側面上、および前記第2溝の側面上に設けられ、
前記p型層のうち前記第3活性層上の領域と前記第2溝の底面上の領域とを接続する領域の近傍に設けられ、前記第1凹部と同じ深さの第2凹部をさらに有する、請求項6から請求項8のいずれか1項に記載の発光素子。
【請求項10】
前記p型層のうち前記第1溝の底面上の領域と前記第3活性層上の領域とを接続する領域の近傍に設けられ、前記第1凹部および前記第2凹部と同じ深さの第3凹部をさらに有する、請求項9に記載の発光素子。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、発光素子およびその製造方法に関する。
続きを表示(約 2,100 文字)
【背景技術】
【0002】
近年、ディスプレイの高精細化が求められており、1ピクセルを1~100μmオーダーの微細なLEDとするマイクロLEDディスプレイが注目されている。フルカラーとする方式は各種知られているが、たとえば青、緑、赤の各色を発光する3つの活性層を同一基板上に順に積層する方式が知られている。
【0003】
特許文献1には、同一基板上に複数のピクセルを配置したモノリシック型のマイクロLEDディスプレイが記載されている。特許文献1に記載のモノリシック型のマイクロLEDディスプレイは、基板上にn型層、第1活性層、第1中間層、第2活性層、第2中間層、第3活性層、キャップ層を基板側から順に積層し、キャップ層表面側から第2中間層に達する第1凹部と、キャップ層表面側から第1中間層に達する第2凹部とを設け、キャップ層、第1凹部の側面と底面、第2凹部の側面と底面に連続してp型層を設け、p型層上のうち、キャップ層の上部に当たる領域と、第1凹部に当たる領域と、第2凹部に当たる領域にそれぞれp側電極を設けた構成である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2021-158179号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかし、特許文献1の発光素子では、各サブピクセルのp型層が連続している。そのため、微細化によりサブピクセル間の距離が短くなると、p型層のうち各サブピクセル間を繋ぐ領域の抵抗も低くなる。すると、あるサブピクセルを発光させようとした場合にp型層を通して隣接するサブピクセルに電流が漏洩し、発光させたいサブピクセルとは異なるサブピクセルが発光してしまう場合があった。その結果、所望の発光色とならない場合や色純度が低下してしまう場合があった。
【0006】
本発明は、かかる背景に鑑みてなされたものであり、所望の領域を発光させることが可能な発光素子および発光素子の製造方法を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明の一態様は、
III族窒化物半導体を用いた発光素子の製造方法において、
基板上に、n型のIII族窒化物半導体を含むn型層を形成するn型層形成工程と、
前記n型層上に、所定のバンドギャップエネルギーの第1活性層を形成する第1活性層形成工程と、
前記第1活性層上に、III族窒化物半導体を含む第1中間層を形成する第1中間層形成工程と、
前記第1中間層上に、前記第1活性層とは異なるバンドギャップエネルギーの第2活性層を形成する第2活性層形成工程と、
前記第2活性層側から前記第1中間層に達する深さの第1溝を形成する溝形成工程と、
前記第2活性層上、前記第1溝の底面上、および前記第1溝の側面上に、p型のIII族窒化物半導体を含むp型層を形成するp型層形成工程と、
前記p型層のうち前記第2活性層上の領域と前記第1溝の底面上の領域とを接続する領域の近傍をエッチングして第1凹部を形成するp型層エッチング工程と、を有する、発光素子の製造方法にある。
【0008】
本発明の他態様は、
III族窒化物半導体を用いた発光素子において、
基板と、
前記基板上に設けられ、n型のIII族窒化物半導体を含むn型層と、
前記n型層上に設けられ、所定のバンドギャップエネルギーの第1活性層と、
前記第1活性層上に設けられ、III族窒化物半導体を含む第1中間層と、
前記第1中間層上に設けられ、前記第1活性層とは異なるバンドギャップエネルギーの第2活性層と、
前記第2活性層側から前記第1中間層に達する深さの第1溝と、
前記第2活性層上、前記第1溝の底面上、前記第1溝の側面上に設けられ、p型のIII族窒化物半導体を含むp型層と、
前記p型層のうち前記第2活性層上の領域と前記第1溝の底面上の領域とを接続する領域の近傍に設けられた第1凹部と、を有する発光素子にある。
【発明の効果】
【0009】
上記態様では、p型層のうち第2活性層上の領域と第1溝の底面上の領域とを接続する領域の近傍がエッチングされている。そのため、p型層が他の領域に比べて薄くなっている。またはp型層が物理的に分離されている。そのため、あるサブピクセルを発光させようとした場合にp型層を通して隣接するサブピクセルに電流が漏洩してしまうことを抑制することができる。その結果、意図したサブピクセルのみを発光させることができる。
【0010】
以上、上記態様によれば、所望の領域を発光させることが可能な発光素子および発光素子の製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
関連特許
日亜化学工業株式会社
発光装置
22日前
富士電機株式会社
半導体装置
1日前
富士電機株式会社
半導体装置
1日前
株式会社カネカ
固体撮像装置用基板
16日前
富士電機株式会社
半導体装置
1日前
富士電機株式会社
半導体装置
1日前
TDK株式会社
太陽電池
21日前
エイブリック株式会社
縦型ホール素子
10日前
住友電気工業株式会社
受光素子
1か月前
三菱電機株式会社
半導体装置
今日
ミツミ電機株式会社
半導体装置
10日前
日亜化学工業株式会社
発光装置
14日前
ミツミ電機株式会社
センサ装置
今日
株式会社半導体エネルギー研究所
半導体装置
28日前
株式会社半導体エネルギー研究所
半導体装置
10日前
ローム株式会社
半導体装置
23日前
ローム株式会社
窒化物半導体装置
21日前
株式会社半導体エネルギー研究所
発光デバイス
9日前
ローム株式会社
窒化物半導体装置
21日前
ローム株式会社
窒化物半導体装置
21日前
ローム株式会社
窒化物半導体装置
25日前
ローム株式会社
窒化物半導体装置
3日前
ローム株式会社
半導体装置
21日前
株式会社半導体エネルギー研究所
発光デバイス
10日前
エイブリック株式会社
保護回路及び半導体装置
9日前
株式会社カネカ
太陽電池モジュール
23日前
株式会社カネカ
太陽電池モジュール
23日前
豊田合成株式会社
太陽電池付き衣類
18日前
豊田合成株式会社
太陽電池モジュール
17日前
国立大学法人東京科学大学
半導体装置
17日前
個人
半導体メモリの構造とその動作法
17日前
富士通株式会社
量子ビットデバイスの製造方法
22日前
株式会社東海理化電機製作所
半導体装置
18日前
ルネサスエレクトロニクス株式会社
半導体装置
23日前
東ソー株式会社
撮像素子用光電変換素子
10日前
日亜化学工業株式会社
発光装置の製造方法
29日前
続きを見る
他の特許を見る