TOP特許意匠商標
特許ウォッチ Twitter
公開番号2025122838
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-08-22
出願番号2024018532
出願日2024-02-09
発明の名称画像処理システムおよび画像処理方法
出願人オムロン株式会社
代理人弁理士法人深見特許事務所
主分類G01N 21/88 20060101AFI20250815BHJP(測定;試験)
要約【課題】検査対象面上の異物を選択的に検出可能な画像処理システムを提供する。
【解決手段】画像処理システムは、検査対象面に第1入射角で第1光を照射する1以上の照明装置と、検査対象面に、第1入射角よりも小さい第2入射角で第1光とは異なる色の第2光を照射する第1照明装置と、第1光および第2光が照射された状態で、検査対象面の各位置の反射光について受光量を検知する撮影装置と、撮影装置の検知結果に基づいて、検査対象面の各位置について、第1光の色に対応する第1波長範囲の受光量と第2光の色に対応する第2波長範囲の受光量との差に応じた成分を表す検査画像を生成する生成部とを備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項1】
画像処理システムであって、
検査対象面に第1入射角で第1光を照射する1以上の照明装置と、
前記検査対象面に、前記第1入射角よりも小さい第2入射角で前記第1光とは異なる色の第2光を照射する第1照明装置と、
前記第1光および前記第2光が照射された状態で、前記検査対象面の各位置の反射光について受光量を検知する撮影装置と、
前記撮影装置の検知結果に基づいて、前記検査対象面の各位置について、前記第1光の色に対応する第1波長範囲の受光量と前記第2光の色に対応する第2波長範囲の受光量との差に応じた成分を表す検査画像を生成する生成部とを備える、画像処理システム。
続きを表示(約 1,300 文字)【請求項2】
前記成分は、前記第1波長範囲の受光量に第1係数を乗じた量から、前記第2波長範囲の受光量に第2係数を乗じた量を差し引いた量を示し、
前記画像処理システムは、
前記第1係数および前記第2係数の少なくとも一方を調整する調整部をさらに備える、請求項1に記載の画像処理システム。
【請求項3】
前記成分は、前記第1波長範囲の受光量から、前記第2波長範囲の受光量を差し引いた量を示し、
前記画像処理システムは、
前記1以上の照明装置を制御して前記第1光の強度を第1係数倍に変更し、前記第1照明装置を制御して前記第2光の強度を第2係数倍に変更する制御部と、
前記第1係数および前記第2係数の少なくとも一方を調整する調整部とをさらに備える、請求項1に記載の画像処理システム。
【請求項4】
前記調整部は、ユーザインターフェイス画面への入力に応じて前記第1係数および前記第2係数の少なくとも一方を調整し、
前記ユーザインターフェイス画面は、画像表示領域を含み、
前記調整部は、前記検査対象面の各位置について前記第1波長範囲の受光量を表す第1画像と、前記検査対象面の各位置について前記第2波長範囲の受光量を表す第2画像と、前記検査対象面の各位置について前記第1波長範囲の受光量に前記第1係数を乗じた第1積を表す第3画像と、前記検査対象面の各位置について前記第2波長範囲の受光量に前記第2係数を乗じた第2積を表す第4画像と、前記検査対象面の各位置について前記第1積から前記第2積を差し引いた量を表す第5画像との中から選択された画像を前記画像表示領域に表示させる、請求項2または3に記載の画像処理システム。
【請求項5】
前記1以上の照明装置は、第2照明装置と第3照明装置とを含み、
前記撮影装置の光軸は、前記検査対象面に直交し、
前記第2照明装置および前記第3照明装置は、前記撮影装置の光軸に対して、互いに対称な位置に配置される、請求項1から3のいずれか1項に記載の画像処理システム。
【請求項6】
前記第2照明装置から照射される前記第1光の色は、前記第3照明装置から照射される前記第1光の色と異なる、請求項5に記載の画像処理システム。
【請求項7】
前記撮影装置はプリズム分光式カメラである、請求項1から3のいずれか1項に記載の画像処理システム。
【請求項8】
画像処理方法であって、
検査対象面に第1入射角で第1光を照射することと、
前記検査対象面に、前記第1入射角よりも小さい第2入射角で前記第1光とは異なる色の第2光を照射することと、
前記第1光および前記第2光が照射された状態で、前記検査対象面の各位置の反射光について受光量を検知することと、
検知結果に基づいて、前記検査対象面の各位置について、前記第1光の色に対応する第1波長範囲の受光量と前記第2光の色に対応する第2波長範囲の受光量との差に応じた成分を表す検査画像を生成することとを備える、画像処理方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本開示は、画像処理システムおよび画像処理方法に関する。
続きを表示(約 1,800 文字)【背景技術】
【0002】
従来、対象物を撮影することにより得られる画像を用いて対象物の表面の外観を検査する技術が開発されている。例えば、特開2012-251929号公報(特許文献1)は、対象物に異なる色の照明光を複数の方向から照射することにより、対象物の凹凸形状の不良を検出する技術を開示している。特開2018-36175号公報(特許文献2)にも同様の技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2012-251929号公報
特開2018-36175号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
特許文献1,2に記載の技術は、対象物の凹凸形状の不良の検出を目的としている。しかしながら、対象物の表面の外観の不良は、表面上の異物(例えば、金属片、糸くずなど)を含み得る。例えば、凹凸のあるパウチ上に異物が付着し得る。このような場合、ユーザは、パウチ上の異物を凹凸と区別して検出することを欲する。
【0005】
本開示は、このような実情を鑑みてなされたものであり、その目的は、検査対象面上の異物を選択的に検出可能な画像処理システムおよび画像処理方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本開示の一側面に係る画像処理システムは、1以上の照明装置と、第1照明装置と、撮影装置と、生成部とを備える。1以上の照明装置は、検査対象面に第1入射角で第1光を照射する。第1照明装置は、検査対象面に、第1入射角よりも小さい第2入射角で第1光とは異なる色の第2光を照射する。撮影装置は、第1光および第2光が照射された状態で、検査対象面の各位置の反射光について受光量を検知する。生成部は、撮影装置の検知結果に基づいて、検査対象面の各位置について、第1光の色に対応する第1波長範囲の受光量と第2光の色に対応する第2波長範囲の受光量との差に応じた成分を表す検査画像を生成する。
【0007】
この開示によれば、撮影装置は、相対的に大きい第1入射角で照射される第1光のうち、検査対象面上の異物によって拡散反射された光を受けやすい。そのため、第1光の色に対応する第1波長範囲の受光量は、異物が存在する箇所において多くなる。ただし、検査対象面に凹凸部が形成されている場合、凹凸部は、第1光を撮影装置に正反射させる面を有し得る。そのため、撮影装置は、凹凸部においても第1波長範囲の光を受け得る。さらに、撮影装置における分光感度に応じて、第1波長範囲は第2波長範囲と一部重複し得る。そのため、撮影装置は、検査対象面のうち平坦な領域において正反射された第2光の一部を第1波長範囲の光として受け得る。このように、撮影装置は、主に異物が存在する箇所において第1波長範囲の光を受けるが、異物以外の領域においても第1波長範囲の光をわずかに受け得る。一方、相対的に小さい第2入射角で照射される第2光の色に対応する第2波長範囲の受光量は、異物以外の領域(特に凹凸部)において多くなる。したがって、検査対象面の各位置について第1波長範囲の受光量と第2波長範囲の受光量との差に応じた成分を表す検査画像では、第1波長範囲の受光量を表す画像と比較して、異物が存在する箇所と異物以外の領域との輝度差が増大する。その結果、画像処理システムは、検査画像を用いることにより、検査対象面上の異物を選択的に検出できる。
【0008】
上述の開示において、成分は、第1波長範囲の受光量に第1係数を乗じた量から、第2波長範囲の受光量に第2係数を乗じた量を差し引いた量を示す。画像処理システムは、第1係数および第2係数の少なくとも一方を調整する調整部をさらに備える。
【0009】
この開示によれば、検査対象面の状況に応じて第1係数および第2係数が調整されることにより、異物の検出に適した検査画像が生成される。
【0010】
上述の開示において、成分は、前記第1波長範囲の受光量から、前記第2波長範囲の受光量を差し引いた量を示す。画像処理システムは、1以上の照明装置を制御して第1光の強度を第1係数倍に変更し、第1照明装置を制御して第2光の強度を第2係数倍に変更する制御部と、第1係数および第2係数の少なくとも一方を調整する調整部とをさらに備える。
(【0011】以降は省略されています)

特許ウォッチbot のツイートを見る
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する

関連特許

オムロン株式会社
制御装置
24日前
オムロン株式会社
電磁継電器
4日前
オムロン株式会社
無停電電源装置
1か月前
オムロン株式会社
導線折り曲げ治具
8日前
オムロン株式会社
搬送装置、搬送方法、プログラム
24日前
オムロン株式会社
回転制御システム及び回転制御方法
8日前
オムロン株式会社
トルク推定方法及びトルク推定装置
1か月前
オムロン株式会社
画像処理システムおよび画像処理方法
14日前
オムロン株式会社
非接触給電システム及びその制御方法
1か月前
オムロン株式会社
情報処理システム、方法およびプログラム
24日前
オムロン株式会社
安全監視装置、制御方法およびプログラム
29日前
オムロン株式会社
情報処理システム、方法およびプログラム
24日前
オムロン株式会社
外装ケースユニット、外装ケース及び電気設備
1か月前
オムロン株式会社
作業認識装置、作業認識方法およびプログラム
2日前
オムロン株式会社
情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
14日前
オムロン株式会社
整列制御装置、整列制御方法、およびプログラム
24日前
オムロン株式会社
雨滴検出装置の検査装置、検査用治具、検査方法
1か月前
オムロン株式会社
情報処理システム、情報処理方法及びプログラム
2日前
オムロン株式会社
風計測装置、風計測方法および風計測プログラム
18日前
オムロン株式会社
整流回路、整流回路の制御方法、及び電力システム
28日前
オムロン株式会社
雨滴検出装置およびその補正方法、補正プログラム
1か月前
オムロン株式会社
支援システム、支援装置、支援方法、及び支援プログラム
16日前
オムロン株式会社
センサ装置および対象物検知方法、対象物検知プログラム
17日前
オムロン株式会社
充電計画生成装置、電力開閉モジュール及び充電システム
1か月前
オムロン株式会社
センサ、センサの制御方法、プログラム及び安全監視システム
7日前
オムロン株式会社
制御装置、無人飛行体、飛行制御方法、および飛行制御プログラム
1か月前
オムロン株式会社
情報処理装置、情報処理方法、情報処理プログラム、情報処理システム
29日前
オムロン株式会社
ペン型入力装置、描画態様変更方法、および、描画態様変更プログラム
1か月前
オムロン株式会社
光電センサ及びしきい値補正方法
14日前
オムロン株式会社
学習済みモデル生成装置、制御装置、学習済みモデル生成方法、及び学習済みモデル生成プログラム
1か月前
オムロン株式会社
ティーチングのための装置、ティーチングのための装置の制御方法およびティーチングのための装置のプログラム
28日前
オムロン株式会社
制御対象に対する予測制御のための学習装置、制御装置、機械学習プログラム、制御プログラム、機械学習方法、および制御方法
24日前
個人
微小振動検出装置
7日前
ユニパルス株式会社
力変換器
28日前
株式会社イシダ
X線検査装置
7日前
三菱電機株式会社
計測器
22日前
続きを見る