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公開番号
2025124481
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-08-26
出願番号
2024020567
出願日
2024-02-14
発明の名称
積層電子部品
出願人
TDK株式会社
代理人
個人
,
個人
,
個人
主分類
H01G
4/30 20060101AFI20250819BHJP(基本的電気素子)
要約
【課題】静電容量の低下を抑制しつつクラックの発生を抑制することができる積層電子部品を提供する。
【解決手段】積層電子部品1は、複数の誘電体層3と、積層方向D1に沿って複数の誘電体層3と交互に積層された複数の電極層4と、を備える。積層方向D1と交差する平面上において電極層4に形成されている複数の電極途切れ部の面積円相当径の分布の歪度は、1以上2以下である。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
複数の誘電体層と、
積層方向に沿って前記複数の誘電体層と交互に積層された複数の電極層と、を備え、
前記積層方向と交差する平面上において前記電極層に形成されている複数の電極途切れ部の面積円相当径の分布の歪度は、1以上2以下である、積層電子部品。
続きを表示(約 300 文字)
【請求項2】
前記複数の途切れ部の面積円相当径の中央値は、1.5μm以下である、請求項1に記載の積層電子部品。
【請求項3】
前記複数の途切れ部の面積円相当径の中央値は、0.5μm以下である、請求項1に記載の積層電子部品。
【請求項4】
前記複数の途切れ部の面積円相当径の標準偏差は、0.3μm以上1.5μm以下である、請求項1~3のいずれか一項に記載の積層電子部品。
【請求項5】
前記平面上における前記電極層の面積に対する前記複数の途切れ部の面積の比率は、5%以上15%以下である、請求項1~3のいずれか一項に記載の積層電子部品。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、積層電子部品に関する。
続きを表示(約 1,500 文字)
【背景技術】
【0002】
特許文献1には、積層電子部品の一種である積層セラミックコンデンサが記載されている。特許文献1に記載された積層セラミックコンデンサは、誘電体層と内部電極層とが交互に積層されて構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2016-160133号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明は、静電容量の低下を抑制しつつクラックの発生を抑制することができる積層電子部品を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明の積層電子部品は、[1]「複数の誘電体層と、積層方向に沿って前記複数の誘電体層と交互に積層された複数の電極層と、を備え、前記積層方向と交差する平面上において前記電極層に形成されている複数の電極途切れ部の面積円相当径の分布の歪度は、1以上2以下である、積層電子部品」である。
【0006】
この積層電子部品では、電極層に形成されている複数の電極途切れ部(空隙)(以下、単に途切れ部とも記載する)の面積円相当径の分布の歪度が、1以上2以下となっている。すなわち、電極層に、多くの小さな途切れ部と、少ない大きな途切れ部とが形成されている。電極層に途切れ部が形成されている場合、誘電体層と電極層との間の線膨張係数の違いに起因して焼成時に発生する応力が緩和され、クラックの発生が抑制され得る。途切れ部が小さい場合、浮遊容量の影響が比較的大きくなるため静電容量は大きく低下しにくいが、応力緩和効果は比較的小さい。一方、途切れ部が大きい場合、浮遊容量の影響が比較的小さくなるため静電容量が低下し得るが、応力緩和効果は比較的大きい。この積層電子部品では、電極層に多くの小さな途切れ部と少ない大きな途切れ部とが形成されていることで、静電容量の低下を抑制しつつクラックの発生を抑制することができる。
【0007】
本発明の積層電子部品は、[2]「前記複数の途切れ部の面積円相当径の中央値は、1.5μm以下である、[1]に記載の積層電子部品」であってもよい。この場合、電極層に小さな途切れ部を多く配置することができ、静電容量の低下を効果的に抑制することができる。
【0008】
本発明の積層電子部品は、[3]「前記複数の途切れ部の面積円相当径の中央値は、0.5μm以下である、[1]に記載の積層電子部品」であってもよい。この場合、電極層に小さな途切れ部を多く配置することができ、静電容量の低下を効果的に抑制することができる。
【0009】
本発明の積層電子部品は、[4]「前記複数の途切れ部の面積円相当径の標準偏差は、0.3μm以上1.5μm以下である、[1]~[3]のいずれかに記載の積層電子部品」であってもよい。この場合、当該標準偏差が0.3μm以上であることで、クラックの発生を確実に抑制することができる。また、当該標準偏差が1.5μm以下であることで、静電容量の低下を確実に抑制することができる。
【0010】
本発明の積層電子部品は、[5]「前記平面上における前記電極層の面積に対する前記複数の途切れ部の面積の比率は、5%以上15%以下である、[1]~[4]のいずれかに記載の積層電子部品」であってもよい。この場合、当該比率が5%以上であることで、クラックの発生を確実に抑制することができる。また、当該比率が15%以下であることで、静電容量の低下を確実に抑制することができる。
【発明の効果】
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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