特許ウォッチ

公開番号2025080106
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-05-23
出願番号2023193131
出願日2023-11-13
発明の名称電子部品
出願人TDK株式会社
代理人個人,個人,個人
主分類H01G 2/10 20060101AFI20250516BHJP(基本的電気素子)
要約【課題】ピンホールの形成状態に基づく良否判定を精度良く実施できる電子部品を提供する。
【解決手段】電子部品1は、主面2a,2aを有するセラミック素体2と、主面2a,2aのそれぞれに設けられた電極部3,3と、電極部3,3のそれぞれに電気的に接続されたリード端子4,4と、セラミック素体2、電極部3,3、及びリード端子4,4の基端部分を覆うように設けられた外装樹脂5とを備え、外装樹脂5は、互いに色が異なる内層11及び外層12による2層構造をなしており、内層11の色は、それぞれ0～255の値をとるL^*a^*b^*色空間Sにおける外層12の色に対して最も色差を有する離間色からの色差が150以内の色となっている。
【選択図】図3

特許請求の範囲【請求項１】
一対の主面を有するセラミック素体と、
前記一対の主面のそれぞれに設けられた一対の電極部と、
前記一対の電極部のそれぞれに電気的に接続された一対のリード端子と、
前記セラミック素体、前記一対の電極部、及び前記一対のリード端子の基端部分を覆うように設けられた外装樹脂と、を備え、
前記外装樹脂は、互いに色が異なる内層及び外層による２層構造をなしており、
前記内層の色は、それぞれ０～２５５の値をとるＬ
＊
ａ
＊
ｂ
＊
色空間における前記外層の色に対して最も色差を有する離間色からの色差が１５０以内の色となっている、電子部品。
続きを表示（約 490 文字）【請求項２】
前記内層の色は、前記離間色からの色差が１００以内の色となっている、請求項１記載の電子部品。
【請求項３】
前記外層の色は、前記Ｌ
＊
ａ
＊
ｂ
＊
色空間の頂点に位置する頂点色からの色差が５０以内の色となっている、請求項１記載の電子部品。
【請求項４】
前記外層の色は、前記Ｌ
＊
ａ
＊
ｂ
＊
色空間の辺部に位置する辺部色からの色差が５０以内の色となっている、請求項１記載の電子部品。
【請求項５】
前記外装樹脂において、少なくとも前記セラミック素体よりも前記一対のリード端子側の部分では、前記内層の厚さが前記外層の厚さよりも大きくなっている、請求項１～４のいずれか一項記載の電子部品。
【請求項６】
前記外装樹脂において、少なくとも前記セラミック素体よりも前記一対のリード端子側の部分では、前記外層の厚さが前記内層の厚さよりも大きくなっている、請求項１～４のいずれか一項記載の電子部品。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、コンデンサ等の電子部品に関する。
続きを表示（約 1,900 文字）【背景技術】
【０００２】
従来の電子部品として、例えば特許文献１に記載のセラミック電子部品がある。この従来の電子部品は、セラミック素体と、セラミック素体に設けられた外部電極と、外部電極に接続されたリード端子と、セラミック素体及び外部電極を覆う外装樹脂とを備えて構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２００１－２７４０３７公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述のような電子部品では、その製造過程において、外装樹脂に細い穴（以下「ピンホール」と称す）が形成される場合がある。ピンホールの形成のメカニズムには不明な部分が多く、現状ではピンホールの形成自体の抑制は難しい。このため、製造された電子部品に対して外観検査を実施し、外装樹脂におけるピンホールの形成状態に基づく良品・不良品の判定が行われている。外観検査では、例えばピンホールが確認できないものは良品として判定され、ピンホールの深さが確認できる程度のものであれば限度内良品として判定されるが、ピンホールの深さが確認できないものは、電子部品の信頼性を確保する観点から、不良品として判定される。
【０００５】
電子部品の外観検査には、例えば良品モデルを用いたＡＩ画像検査が用いられる。この手法では、例えば良品データのみを学習することで、良品の閾値を最適化した良品モデルを生成し、外観検査の良否判定に利用する。しかしながら、この手法では、入力画像と出力画像との色差の合計を異常度とするため、面積が小さい異常や良品画像との色差が小さい異常については、十分な判定精度が得られにくい傾向がある。電子部品におけるピンホールは、上記の面積が小さい異常及び良品画像との色差が小さい異常の双方に該当するため、検査精度を向上できる技術が望まれている。
【０００６】
本開示は、上記課題の解決のためになされたものであり、ピンホールの形成状態に基づく良否判定を精度良く実施できる電子部品を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本開示の要旨は、以下に示すとおりである。
［１］一対の主面のそれぞれに一対の電極部を有するセラミック素体と、前記一対の主面のそれぞれに設けられた一対の電極部と、前記一対の電極部のそれぞれに電気的に接続された一対のリード端子と、前記セラミック素体、前記一対の電極部、及び前記一対のリード端子の基端部分を覆うように設けられた外装樹脂と、を備え、前記外装樹脂は、互いに色が異なる内層及び外層による２層構造をなしており、前記内層の色は、それぞれ０～２５５の値をとるＬ
＊
ａ
＊
ｂ
＊
色空間における前記外層の色に対して最も色差を有する離間色からの色差が１５０以内の色となっている、電子部品。
【０００８】
この電子部品では、外装樹脂を内層及び外層で構成すると共に、Ｌ
＊
ａ
＊
ｂ
＊
色空間における外層の色から最も離れた離間色を基準として、内層の色が規定されている。この電子部品では、外層と内層との間に十分な色差があるため、画像処理において外層の色から離れた色をカウントすることで、ピンホールの形成状態を確認できる。このとき、離間色に対する内層の色の色差が１５０以内であることで、２値分類に関する評価指標であるＡＵＣを１に近づけることが可能となる。したがって、この電子部品では、ピンホールの形成状態に基づく良否判定を精度良く実施できる。
【０００９】
［２］前記内層の色は、前記離間色からの色差が１００以内の色となっている、請求項１記載の電子部品。この場合、２値分類に関する評価指標であるＡＵＣをより確実に１に近づけることが可能となる。したがって、ピンホールの形成状態に基づく良否判定を一層精度良く実施できる。
【００１０】
［３］前記外層の色は、前記Ｌ
＊
ａ
＊
ｂ
＊
色空間の頂点に位置する頂点色からの色差が５０以内の色となっている、請求項１記載の電子部品。この場合、外層の色と離間色との色差を十分に確保でき、その結果、外層と内層との間の色差を確保し易くなる。したがって、ピンホールの形成状態に基づく良否判定の精度の更なる向上が図られる。また、内層に用いる樹脂材料の選択の自由度を確保できる。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許