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公開番号
2025111860
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-07-31
出願番号
2024005742
出願日
2024-01-18
発明の名称
半導体装置
出願人
ミネベアパワーデバイス株式会社
代理人
ポレール弁理士法人
主分類
H10D
62/10 20250101AFI20250724BHJP()
要約
【課題】ターミネーション領域102に設けられたフィールドプレート7の端部における電界の集中を緩和し、耐圧を高める。
【解決手段】半導体素子を有するアクティブ領域101と、アクティブ領域101を囲むターミネーション領域102とを有する半導体装置100であって、ターミネーション領域102は、第1導電型のドリフト層1と、ドリフト層1の表面の一部に形成された第2導電型のフィールドリミッティング層3と、ドリフト層1とフィールドリミッティング層3とを覆うフィールド絶縁膜8と、フィールドリミッティング層3に電気的に接続されたフィールドプレート7と、を有する。フィールドプレート7は、フィールド絶縁膜8の表面に、フィールドリミッティング層3の外側まで延在して形成されており、フィールド絶縁膜8は、フィールドプレート7に重なる領域において、フィールドプレート7の端部に近づくほど厚さが厚くなっている。
【選択図】図2
特許請求の範囲
【請求項1】
半導体素子を有するアクティブ領域と、前記アクティブ領域を囲むターミネーション領域とを有する半導体装置であって、
前記ターミネーション領域は、第1導電型のドリフト層と、前記ドリフト層の表面の一部に形成された第2導電型のフィールドリミッティング層と、前記ドリフト層と前記フィールドリミッティング層とを覆うフィールド絶縁膜と、前記フィールドリミッティング層に電気的に接続されたフィールドプレートとを有し、
前記フィールドプレートは、前記フィールド絶縁膜の表面に、前記フィールドリミッティング層の外側まで延在して形成されており、
前記フィールド絶縁膜は、前記フィールドプレートに重なる領域において、前記フィールドプレートの端部に近づくほど厚さが厚くなっていることを特徴とする半導体装置。
続きを表示(約 530 文字)
【請求項2】
請求項1において、
前記フィールドプレートに重なる領域において、前記フィールドプレートの端部に近づくほど、前記フィールド絶縁膜の表面が階段状に高くなることを特徴とする半導体装置。
【請求項3】
請求項2において、
前記階段状の段数が3段以上であることを特徴とする半導体装置。
【請求項4】
請求項1において、
前記フィールドプレートに重なる領域において、前記フィールドプレートの端部に近づくほど、前記フィールド絶縁膜の表面が曲線状に高くなることを特徴とする半導体装置。
【請求項5】
請求項1において、
前記フィールドプレートに重なる領域、かつ、前記フィールドリミッティング層の外側において、前記フィールドプレートの端部に近づくほど、前記フィールド絶縁膜の表面が高くなることを特徴とする半導体装置。
【請求項6】
請求項1において、
前記フィールド絶縁膜は、前記フィールドリミッティング層に重なる位置に、前記フィールドリミッティング層と前記フィールドプレートとを電気的に接続するためのコンタクトホールを有することを特徴とする半導体装置。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体装置に関する。
続きを表示(約 1,300 文字)
【背景技術】
【0002】
半導体装置では、耐圧を確保するために、ターミネーション領域において電界を緩和する構造が設けられている。その一例として、フィールドリミッティング層と、フィールドリミッティング層に電気的に接続されたフィールドプレートとを用いるものがある。フィールドプレートは、フィールドリミッティング層の端部での電界集中を避けるために、フィールドリミッティング層の端部よりも外側まで延在して形成されている。
【0003】
このような技術を開示するものとしては、例えば、特許文献1の図1、図2などが挙げられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2003-158258号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
フィールドリミッティング層の端部とフィールドプレートの端部との間の距離が長いほど、フィールドリミッティング層の端部でのフィールドプレートによる電界緩和効果は強くなる。
【0006】
しかしながら、この距離が長いほど、フィールドプレートの端部を回り込む等電位線の曲率半径が小さくなるため、フィールドプレートの端部に電界が集中し易くなり、耐圧が低下するという課題がある。
【0007】
本発明が解決しようとする課題は、ターミネーション領域に設けられたフィールドプレートの端部における電界の集中を緩和し、耐圧を高めることができる半導体装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上記した課題を解決するために、本発明の半導体装置は、半導体素子を有するアクティブ領域と、前記アクティブ領域を囲むターミネーション領域とを有する半導体装置であって、前記ターミネーション領域は、第1導電型のドリフト層と、前記ドリフト層の表面の一部に形成された第2導電型のフィールドリミッティング層と、前記ドリフト層と前記フィールドリミッティング層とを覆うフィールド絶縁膜と、前記フィールドリミッティング層に電気的に接続されたフィールドプレートとを有し、前記フィールドプレートは、前記フィールド絶縁膜の表面に、前記フィールドリミッティング層の外側まで延在して形成されており、前記フィールド絶縁膜は、前記フィールドプレートに重なる領域において、前記フィールドプレートの端部に近づくほど厚さが厚くなっていることを特徴とする。
【発明の効果】
【0009】
本発明の半導体装置によれば、ターミネーション領域に設けられたフィールドプレートの端部における電界の集中を緩和し、耐圧を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
実施例1の半導体装置の上面図。
図1のA-A’の断面図。
比較例の半導体装置の断面図。
実施例1の接続部の断面図。
実施例2の半導体装置の断面図。
【発明を実施するための形態】
(【0011】以降は省略されています)
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