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公開番号2025139118
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-26
出願番号2024037888
出願日2024-03-12
発明の名称電子回路及び電子回路のテスト方法
出願人ローム株式会社
代理人弁理士法人太陽国際特許事務所
主分類H04L 1/24 20060101AFI20250918BHJP(電気通信技術)
要約【課題】CRC回路自体の誤りを検知し、品質の高いCRC符号によるデータ誤り検出を行う電子回路を提供する。
【解決手段】電子回路は、入力データに対してCRC演算を実行するCRC演算回路と、CRC演算回路の出力のエラーの有無を検出するエラー検出部と、CRC演算回路のテストのためのテストデータ、CRC演算回路の初期値を複数のシフトレジスタに設定するための初期値データ及びCRC演算回路の出力の期待値をエラー検出部に設定するための期待値データを保持するデータ保持部と、CRC演算回路のテスト時に初期値データを複数のシフトレジスタに設定し、テストデータをCRC演算回路に入力するテスト制御部と、を備え、データ保持部は、テストデータ、初期値データ及び期待値データの組を複数保持する。
【選択図】図5
特許請求の範囲【請求項１】
複数のシフトレジスタからなり、入力データに対してＣＲＣ演算を実行するＣＲＣ演算回路と、
前記ＣＲＣ演算回路の出力のエラーの有無を検出するエラー検出部と、
前記ＣＲＣ演算回路のテストのためのテストデータ、前記ＣＲＣ演算回路の初期値を前記複数のシフトレジスタに設定するための初期値データ及び前記ＣＲＣ演算回路の出力の期待値を前記エラー検出部に設定するための期待値データを保持するデータ保持部と、
前記ＣＲＣ演算回路のテスト時に前記初期値データを前記複数のシフトレジスタに設定し、前記テストデータを前記ＣＲＣ演算回路に入力するテスト制御部と、
を備え、
前記データ保持部は、前記テストデータ、前記初期値データ及び前記期待値データの組を複数保持する、電子回路。
続きを表示（約 760 文字）【請求項２】
複数の前記ＣＲＣ演算回路及び前記エラー検出部を備える、請求項１に記載の電子回路。
【請求項３】
複数のシフトレジスタからなり、入力データに対してＣＲＣ演算を実行するＣＲＣ演算回路と、
前記ＣＲＣ演算回路の出力のエラーの有無を検出するエラー検出部と、
前記ＣＲＣ演算回路のテストのためのテストデータ、前記ＣＲＣ演算回路の初期値を前記複数のシフトレジスタに設定するための初期値データ及び前記ＣＲＣ演算回路の出力の期待値を前記エラー検出部に設定するための期待値データを保持するデータ保持部と、
前記ＣＲＣ演算回路のテスト時に前記初期値を前記複数のシフトレジスタに設定し、前記テストデータを前記ＣＲＣ演算回路に入力するテスト制御部と、
を備え、
前記データ保持部は、前記テストデータ、前記初期値データ及び前記期待値データの組を複数保持する電子回路のテスト方法であって、
前記初期値を前記複数のシフトレジスタに設定する工程と、
前記期待値を前記エラー検出部に設定する工程と、
前記テストデータを前記ＣＲＣ演算回路に入力する工程と、
前記ＣＲＣ演算回路の出力と前記期待値とが一致しない場合に前記エラー検出部からエラー信号を出力する工程と、
を含む電子回路のテスト方法。
【請求項４】
前記電子回路は複数の前記ＣＲＣ演算回路及び前記エラー検出部を備え、
前記テストデータを前記ＣＲＣ演算回路に入力する工程は、前記ＣＲＣ演算回路のいずれかが外部から送信されたデータに対するＣＲＣ演算を実行している間に前記テストデータの前記ＣＲＣ演算回路に入力する工程を含む、請求項３に記載の電子回路のテスト方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、電子回路及び電子回路のテスト方法に関する。
続きを表示（約 1,900 文字）【背景技術】
【０００２】
通信経路において、データの正当性を保証するのに、一般にＣＲＣ符号を用いた誤り検出回路が広く用いられている。しかし、ＣＲＣ（ＣｙｃｌｉｃＲｅｄｕｎｄａｎｃｙＣｈｅｃｋ；巡回冗長検査）でのエラー検出のみでは、通信経路に問題が起こったのか、通信システム内（データ生成回路及びＣＲＣ回路）で不具合が起こったのか切り分けができず、ＣＲＣ回路に不具合がある場合でも、正確なデータを通信できているにもかかわらず、エラーとして判定されてしまう。また、通信経路のノイズ等での突発的なエラーを想定して、送信側と受信側との間でデータ再送を繰り返すことが考えられ、迅速にシステム異常判断を行うことができない。
【０００３】
特許文献１は、装置内監視方式に関し、特にデジタル多重化端局装置などに用いられ自己診断機能を有する装置内監視方式に関する技術を開示している。一般に装置内監視方式では、監視パターン信号を送信側に挿入し、伝送路を介した受信側で誤り検出しているが、特許文献１で開示された発明では、送信装置に２つの監視パターン生成回路を搭載し、受信装置で２つの誤り検出回路で誤り検出し、監視系を並列配置することで、誤検出を防止し、検出出力精度及び信頼性の向上を図っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開平５－３００７１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、従来の技術では、通信システム内部のＣＲＣ回路の故障によるエラー判断に時間が掛かっていた。
【０００６】
本開示は、上記の点に鑑みてなされたものであり、ＣＲＣ回路自体の誤りを検知し、品質の高いＣＲＣ符号によるデータ誤り検出を行う電子回路及び電子回路のテスト方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本開示のある観点によれば、複数のシフトレジスタからなり、入力データに対してＣＲＣ演算を実行するＣＲＣ演算回路と、前記ＣＲＣ演算回路の出力のエラーの有無を検出するエラー検出部と、前記ＣＲＣ演算回路のテストのためのテストデータ、前記ＣＲＣ演算回路の初期値を前記複数のシフトレジスタに設定するための初期値データ及び前記ＣＲＣ演算回路の出力の期待値を前記エラー検出部に設定するための期待値データを保持するデータ保持部と、前記ＣＲＣ演算回路のテスト時に前記初期値データを前記複数のシフトレジスタに設定し、前記テストデータを前記ＣＲＣ演算回路に入力するテスト制御部と、を備え、前記データ保持部は、前記テストデータ、前記初期値データ及び前記期待値データの組を複数保持する、電子回路が提供される。
【０００８】
上記電子回路は、複数の前記ＣＲＣ演算回路及び前記エラー検出部を備えてもよい。
【０００９】
本開示の別の観点によれば、複数のシフトレジスタからなり、入力データに対してＣＲＣ演算を実行するＣＲＣ演算回路と、前記ＣＲＣ演算回路の出力のエラーの有無を検出するエラー検出部と、前記ＣＲＣ演算回路のテストのためのテストデータ、前記ＣＲＣ演算回路の初期値を前記複数のシフトレジスタに設定するための初期値データ及び前記ＣＲＣ演算回路の出力の期待値を前記エラー検出部に設定するための期待値データを保持するデータ保持部と、前記ＣＲＣ演算回路のテスト時に前記初期値を前記複数のシフトレジスタに設定し、前記テストデータを前記ＣＲＣ演算回路に入力するテスト制御部と、を備え、前記データ保持部は、前記テストデータ、前記初期値データ及び前記期待値データの組を複数保持する電子回路のテスト方法であって、前記初期値を前記複数のシフトレジスタに設定する工程と、前記期待値を前記エラー検出部に設定する工程と、前記テストデータを前記ＣＲＣ演算回路に入力する工程と、前記ＣＲＣ演算回路の出力と前記期待値とが一致しない場合に前記エラー検出部からエラー信号を出力する工程と、を含む電子回路のテスト方法が提供される。
【００１０】
上記電子回路のテスト方法は、前記電子回路は複数の前記ＣＲＣ演算回路及び前記エラー検出部を備え、前記テストデータを前記ＣＲＣ演算回路に入力する工程は、前記ＣＲＣ演算回路のいずれかが外部から送信されたデータに対するＣＲＣ演算を実行している間に前記テストデータの前記ＣＲＣ演算回路に入力する工程を含んでもよい。
【発明の効果】
（【００１１】以降は省略されています）

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