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公開番号2025130034
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-05
出願番号2025011045
出願日2025-01-27
発明の名称コネクタおよびこれを含むコネクタ組立体
出願人モレックスエルエルシー,Molex, LLC
代理人個人,個人
主分類H01R 12/79 20110101AFI20250829BHJP(基本的電気素子)
要約【課題】コネクタを検査する時に、検査ピンによるコネクタの端子の破損を減少させ、且つ端子に対する検査の正確度を向上させることができる構造を提供する。
【解決手段】本開示の一実施形態によるコネクタであって、一端にFPCを収容するための開口部および他端に端子が収容されている複数のスロットを有するハウジングと、前記複数のスロットにそれぞれ結合している複数の端子とを含み、該複数の端子は、一端に前記FPCと接触する接触部から離れる方向に延長突出した検査部を含むことができる。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
コネクタであって、
一端にＦＰＣを収容するための開口部および他端に端子が収容されている複数のスロットを有するハウジングと、
前記複数のスロットにそれぞれ結合している複数の端子とを含み、
該複数の端子のそれぞれは、一端に前記ＦＰＣと接触する接触部と、該接触部から離れる方向に延長突出した検査部とを含む、コネクタ。
続きを表示（約 1,000 文字）【請求項２】
前記検査部は、前記開口部内に挿入された検査ピンが接触する検査面を含み、前記検査部の検査面は、検査ピンの挿入方向に交差している方向に沿って延びる、請求項１に記載のコネクタ。
【請求項３】
前記接触部は、前記ＦＰＣに接触する接触面を含み、
前記検査部は、前記接触部の他側から延びる、請求項１に記載のコネクタ。
【請求項４】
前記複数の端子のそれぞれは、前記ハウジングに収容されている固定部と、
前記接触部および検査部を前記固定部に連結する連結部とをさらに含み、
該連結部は、前記固定部に対して弾性変形可能である、請求項１に記載のコネクタ。
【請求項５】
前記接触部は、第１接触部と第１接触部から離隔した第２接触部を含み、
前記検査部は、前記第１接触部から離れる方向に延長突出し、
前記複数の端子のそれぞれは、
前記ハウジングに収容されている固定部と、
前記第１接触部および検査部を固定部に連結する第１連結部と、
前記第２接触部を固定部に連結し、前記第１連結部から離隔した第２連結部とをさらに含み、
前記第１および第２連結部は、それぞれ前記固定部に対して弾性変形可能である、請求項１に記載のコネクタ。
【請求項６】
前記ハウジングは、前記複数の端子のうち少なくとも一つをそれぞれ収容する複数の収容部を含み、
該複数の収容部のそれぞれは、
前記複数の端子のうち一つと少なくとも同じ幅を有し、複数の端子のうち一つを支持する第１スリットと、
該第１スリットと連通し、第１スリットの幅より広い幅を有する第２スリットとを含み、
前記検査部は、第２スリット内に延びる、請求項１に記載のコネクタ。
【請求項７】
前記複数の収容部のそれぞれは、
前記第２スリットに連通し、該第２スリットの幅より狭い幅を有する第３スリットをさらに含む、請求項６に記載のコネクタ。
【請求項８】
前記検査部は、連結部および固定部と実質的に同一線上に配置される、請求項６に記載のコネクタ。
【請求項９】
請求項１～８のいずれか１項に記載のコネクタと、
前記ＦＰＣとともに前記コネクタに結合している相対コネクタとを含む、コネクタ組立体。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、コネクタおよびこれを含むコネクタ組立体に関する。
続きを表示（約 1,900 文字）【背景技術】
【０００２】
ＦＰＣ（ＦｌｅｘｉｂｌｅＰｒｉｎｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔ）は、柔軟な絶縁フィルムの上に回路を形成した軟性印刷回路（フレキシブル印刷回路）であり、熱硬化性樹脂に回路を積層した硬性印刷回路基板（Rigid Printed Circuit Board ）とは異なり、その柔軟性および軽量特性のおかげで、各種の電子機器において広く用いられている回路である。コネクタは、ＦＰＣの接続端部がその内部に挿入されるように、一側が開放したコネクタである。例えば、コネクタは、絶縁ハウジングと複数の端子を有し、絶縁ハウジングは、一端にＦＰＣの接続端部を嵌入するための開口を有し、他端に複数の端子がそれぞれ結合している複数のスロットを有する。それぞれの端子は、一端にＦＰＣの接続端部と接触する接触部と、他端に回路基板と接触する固定部を有する。
【０００３】
一般的に、コネクタは、はんだ付けショート、断線などの有無および部品連続性の測定などの検査が行われ、その結果、合格品または不合格品の可否が判定される。検査方式の一例として、コネクタの個別端子にプローブ（または、検査ピン）（ｐｒｏｖｅｐｉｎ）を弾性的に接触して検査する方式がある。しかし、電子機器の小型化に伴い、コネクタの個別端子も小型化し、検査時にプローブが端子に加える力によって端子の端部が曲げ変形するか、またはＦＰＣの接続端部と直接密着する端子の接触面が、プローブとの接触によって損傷または摩耗する問題がある。プローブ検査によって端子自体の電気的性能には影響を与えないとしても、検査後、端子の接触面（コンタクト部）にスクラッチや摩耗または使用跡が発生すると、製品の認証条件が厳格な自動車の製造分野では、合格品として認証され難い可能性がある。したがって、端子の変形がなく、端子の接触面に損傷がない検査が求められる。
【０００４】
そのため、端子の材料が有する強度より低い強度を有する材料で形成されたプローブを備えた検査装備を用いてコンタクトする検査、プローブで端子の接触面の側面にコンタクトする検査、プローブがコンタクトする際に押圧力を最小化した検査装備を用いてコンタクトする検査などが知られているが、装備の入れ替え費用などの高い費用がかかり、それにもかかわらず、依然としてコネクタ端子の変形のリスクがあった。
【０００５】
一方、韓国登録特許公報第１０－１３５３９２５号は、検査ピンが基板と連結される端子の一部に直接接触せず、コネクタの外部において検査ピンが検査を行うことができるように、コネクタの端子とは個別に連続性チェックのための連続性チェック突出部をさらに形成し、プローブが連続性チェック突出部と直接接触して検査を行う端子構造について開示している。しかし、韓国登録特許公報第１０－１３５３９２５号に開示されている構造は、検査ピンが、ＦＰＣと直接接触する端子に対する検査を行うものではないため、検査の正確度が劣る問題がある。また、韓国登録特許公報第１０－１３５３９２５号に開示されている構造は、端子の連続性チェック突出部がコネクタの外部に露出し、コネクタの構造が過剰に大きくなる問題がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
韓国登録特許公報第１０－１３５３９２５号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本開示の様々な実施形態は、コネクタを検査する時に、検査ピンによるコネクタの端子の破損を減少させ、且つ端子に対する検査の正確度を向上させることができる構造を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本開示の一実施形態によるコネクタであって、一端にＦＰＣを収容するための開口部および他端に端子が収容されている複数のスロットを有するハウジングと、前記複数のスロットにそれぞれ結合している複数の端子とを含み、前記複数の端子のそれぞれは、一端に前記ＦＰＣと接触する接触部と、前記接触部から離れる方向に延長突出した検査部とを含むことができる。
【０００９】
一実施形態において、前記検査部は、前記開口部内に挿入された検査装置の検査ピンが接触する検査面を含み、前記検査部の検査面は、検査ピンの挿入方向に交差する方向に沿って延びることができる。
【００１０】
一実施形態において、前記接触部は、前記ＦＰＣに接触する接触面を含み、前記検査部は、前記接触部の他側から延びることができる。
（【００１１】以降は省略されています）

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