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公開番号2025085885
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-06-06
出願番号2023199573
出願日2023-11-27
発明の名称半導体装置
出願人ローム株式会社
代理人弁理士法人 佐野特許事務所
主分類G06F 15/78 20060101AFI20250530BHJP(計算;計数)
要約【課題】信号処理を担う内部回路に対し耐圧を超える電圧が入力されることを回避する。
【解決手段】半導体装置(10)は、入力電圧(Vin)を受ける入力端子(IN)と、入力端子に接続され、入力電圧が加わる又は入力電圧の分圧が加わる特定ノード(115)を有する分圧回路(110)と、特定ノードに接続され、特定ノードの電圧に応じた信号を生成する信号生成回路(120)と、設定情報に基づき分圧回路の状態を特定ノードに入力電圧が加わる第1状態又は特定ノードに入力電圧の分圧が加わる第2状態に制御する制御回路(130)と、入力端子に接続され、入力電圧が閾電圧(Vth)よりも高いとき、制御回路の制御内容に依らず強制的に分圧回路の状態を第2状態に制御する強制分圧指示回路(140)と、を備える。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項1】
入力電圧を受けるよう構成された入力端子と、
前記入力端子に接続され、前記入力電圧が加わる又は前記入力電圧の分圧が加わる特定ノードを有する分圧回路と、
前記特定ノードに接続され、前記特定ノードの電圧に応じた信号を生成するよう構成された信号生成回路と、
設定情報に基づき前記分圧回路の状態を前記特定ノードに前記入力電圧が加わる第1状態又は前記特定ノードに前記入力電圧の分圧が加わる第2状態に制御するよう構成された制御回路と、
前記入力端子に接続され、前記入力電圧が閾電圧よりも高いとき、前記制御回路の制御内容に依らず強制的に前記分圧回路の状態を前記第2状態に制御するよう構成された強制分圧指示回路と、を備える
、半導体装置。
続きを表示(約 1,200 文字)【請求項2】
前記設定情報に基づき前記制御回路から出力される第1信号と、前記入力電圧及び前記閾電圧間の比較結果に基づき前記強制分圧指示回路から出力される第2信号とに応じて、前記分圧回路の状態を前記第1状態又は前記第2状態に設定するよう構成された駆動回路を更に備え、
前記駆動回路は、前記入力電圧が前記閾電圧よりも高いことが前記第2信号にて示されるとき、前記制御回路の制御よりも前記強制分圧指示回路の制御を優先することで前記分圧回路の状態を前記第2状態に設定する
、請求項1に記載の半導体装置。
【請求項3】
前記制御回路は、前記分圧回路の状態を前記第1状態に制御するとき、第1レベルの前記第1信号を出力し、前記分圧回路の状態を前記第2状態に制御するとき、第2レベルの前記第1信号を出力し、
前記駆動回路は、
前記第1信号が前記第2レベルを有する場合には前記第2信号に依らず前記分圧回路の状態を前記第2状態に設定し、
前記第1信号が前記第1レベルを有する場合において、前記入力電圧が前記閾電圧よりも低いことが前記第2信号にて示されるときには前記分圧回路の状態を前記第1状態に設定し、前記入力電圧が前記閾電圧よりも高いことが前記第2信号にて示されるときには前記分圧回路の状態を前記第2状態に設定する
、請求項2に記載の半導体装置。
【請求項4】
前記分圧回路は、前記入力端子とグランドとの間に設けられた第1抵抗、第2抵抗及び切替スイッチの直列回路を有し、前記第1抵抗は前記入力端子及び前記特定ノード間に設けられ、前記第2抵抗及び前記切替スイッチは前記特定ノード及びグランド間に設けられ、
前記第1状態において前記切替スイッチはオフに設定され、前記第2状態において前記切替スイッチはオンに設定される
、請求項1~3の何れかに記載の半導体装置。
【請求項5】
前記分圧回路は、前記第1抵抗に並列接続された短絡スイッチを更に有し、
前記第1状態において前記短絡スイッチはオンに設定され、前記第2状態において前記短絡スイッチはオフに設定される
、請求項4に記載の半導体装置。
【請求項6】
前記信号生成回路は、前記特定ノードの電圧をデジタル信号に変換するよう構成されたAD変換器を有し、
前記制御回路は、前記デジタル信号に応じた信号を出力する
、請求項1~3の何れかに記載の半導体装置。
【請求項7】
前記信号生成回路は、前記特定ノードの電圧を判定電圧と比較するよう構成されたコンパレータを有し、
前記制御回路は、前記コンパレータの比較結果に応じた信号を出力する
、請求項1~3の何れかに記載の半導体装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本開示は、半導体装置に関する。
続きを表示(約 1,900 文字)【背景技術】
【0002】
入力端子を備え、入力端子への入力電圧に応じた信号処理を行う半導体装置がある。例えば、入力電圧が所定の上限電圧よりも高いか又は所定の下限電圧より低いかを監視し、監視結果に応じた信号を出力する半導体装置がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2011-204164号公報
【0004】
[概要]
この種の半導体装置において、信号処理を担う内部回路に対し耐圧を超える電圧が入力されることは回避されるべきである。
【0005】
本開示の一態様に係る半導体装置は、入力電圧を受けるよう構成された入力端子と、前記入力端子に接続され、前記入力電圧が加わる又は前記入力電圧の分圧が加わる特定ノードを有する分圧回路と、前記特定ノードに接続され、前記特定ノードの電圧に応じた信号を生成するよう構成された信号生成回路と、設定情報に基づき前記分圧回路の状態を前記特定ノードに前記入力電圧が加わる第1状態又は前記特定ノードに前記入力電圧の分圧が加わる第2状態に制御するよう構成された制御回路と、前記入力端子に接続され、前記入力電圧が閾電圧よりも高いとき、前記制御回路の制御内容に依らず強制的に前記分圧回路の状態を前記第2状態に制御するよう構成された強制分圧指示回路と、を備える。
【図面の簡単な説明】
【0006】
図1は、本開示の実施形態に係るシステムの全体構成図である。
図2は、本開示の実施形態に係り、半導体装置の要部の構成図である。
図3は、本開示の実施形態に係り、半導体装置の要部の変形構成図である。
図4は、本開示の実施形態に係り、半導体装置の要部の変形構成図である。
図5は、本開示の実施形態に属する第1実施例に係り、半導体装置の要部の構成図である。
図6は、本開示の実施形態に属する第2実施例に係り、半導体装置の要部の構成図である。
図7は、本開示の実施形態に属する第3実施例に係り、半導体装置に複数の入力端子が設けられる場合における対応回路図である。
図8は、本開示の実施形態に属する第5実施例に係り、半導体装置における分圧回路の変形構成図である。
【0007】
[詳細な説明]
以下、本開示の実施形態の例を、図面を参照して具体的に説明する。参照される各図において、同一の部分には同一の符号を付し、同一の部分に関する重複する説明を原則として省略する。尚、本明細書では、記述の簡略化上、情報、信号、物理量、機能部、回路、素子又は部品等を参照する記号又は符号を記すことによって、該記号又は符号に対応する情報、信号、物理量、機能部、回路、素子又は部品等の名称を省略又は略記することがある。
【0008】
まず、本開示の実施形態の記述にて用いられる幾つかの用語について説明を設ける。グランドとは、基準となる0V(ゼロボルト)の電位を有する基準導電部(reference conductor)を指す又は0Vの電位そのものを指す。基準導電部は金属等の導体を用いて形成されて良い。0Vの電位をグランド電位と称することもある。本開示の実施形態において、特に基準を設けずに示される電圧はグランドから見た電位を表す。
【0009】
レベルとは電位のレベルを指し、任意の注目した信号又は電圧についてハイレベルはローレベルよりも高い電位を有する。任意の注目した信号について、注目した信号がハイレベルを有するとき、注目した信号の反転信号はローレベルを有し、注目した信号がローレベルを有するとき、注目した信号の反転信号はハイレベルを有する。
【0010】
MOSFETに例示されるFET(電界効果トランジスタ)として構成された任意のトランジスタについて、オン状態とは、当該トランジスタのドレイン及びソース間が導通している状態を指し、オフ状態とは、当該トランジスタのドレイン及びソース間が非導通となっている状態(遮断状態)を指す。FETに分類されないトランジスタについても同様である。MOSFETは、特に記述無き限り、エンハンスメント型のMOSFETであると解される。MOSFETは“metal-oxide-semiconductor field-effect transistor”の略称である。また、特に記述なき限り、任意のMOSFETにおいて、バックゲートはソースに短絡されていると考えて良い。以下、任意のトランジスタについて、オン状態、オフ状態を、単に、オン、オフと表現することもある。
(【0011】以降は省略されています)

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