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公開番号2025138721
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-25
出願番号2025105845,2024017961
出願日2025-06-23,2020-11-10
発明の名称情報処理装置、撮像装置、情報処理方法、及びプログラム
出願人富士フイルム株式会社
代理人弁理士法人太陽国際特許事務所
主分類G01S 17/894 20200101AFI20250917BHJP(測定;試験)
要約【課題】測距対象として意図しない光沢性物体からの反射光に起因する誤測距を回避することができる情報処理装置、撮像装置、情報処理方法、及びプログラムを提供する。
【解決手段】情報処理装置は、プロセッサと、プロセッサに接続又は内蔵されたメモリと、を含み、プロセッサは、光照射器が光を測距対象領域に向けて面照射した照射タイミングと、光の測距対象領域からの反射光を受光器が受光した受光タイミングとに基づいて測距対象領域内の物体までの第1距離を測定し、光照射器による面照射に対応する受光期間に、受光器に含まれる特定画素が異なるタイミングで複数の信号を生成する場合、プロセッサは、複数の信号の関係に基づいて第1距離を測定する。
【選択図】図14
特許請求の範囲【請求項１】
プロセッサと、
前記プロセッサに接続又は内蔵されたメモリと、を含み、
前記プロセッサは、光照射器が光を測距対象領域に向けて面照射した照射タイミングと、前記光の前記測距対象領域からの反射光を受光器が受光した受光タイミングとに基づいて前記測距対象領域内の物体までの第１距離を測定し、
前記面照射に対応する受光期間に、前記受光器に含まれる特定画素が異なるタイミングで複数の信号を生成する場合、前記プロセッサは、前記特定画素によって生成された前記複数の信号であって、第１閾値以上の第１強度を有する第１信号と、前記第１閾値未満であり、かつ、前記第１閾値よりも小さな第２閾値以上の第２強度を有する第２信号とが含まれている前記複数の信号の関係に基づいて前記第１距離を測定し、
前記第１閾値は、光沢性物体からの前記反射光の強度の下限値として定められた値であり、
前記第２閾値は、前記物体を想定した標準的被写体からの前記反射光の強度の下限値として定められた値であり、
前記複数の信号に、基準閾値を上回る強度を有する信号が複数含まれている場合、前記プロセッサは、前記複数の信号のうちの前記強度が２番目に大きな信号に対応する前記反射光を前記受光器が受光した前記受光タイミングに基づき前記第１距離を測定する
情報処理装置。
続きを表示（約 1,000 文字）【請求項２】
前記複数の信号の関係とは、前記複数の信号の強度の時系列分布である
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記プロセッサは、前記複数の信号に、前記第１信号と、前記第２信号とが含まれている場合、特定の処理を実行する
請求項１又は請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記第１閾値及び前記第２閾値は、環境光によるノイズ成分に基づいて定められている
請求項３に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記第１閾値は、前記受光タイミングが遅くなるほど減少する値である
請求項４に記載の情報処理装置。
【請求項６】
前記特定の処理は、前記第２信号に対応する前記反射光を前記特定画素が受光した前記受光タイミングに基づき前記第１距離を測定する処理である
請求項４又は請求項５に記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記特定の処理は、前記複数の信号の強度に前記第１強度が含まれていることを通知する処理を含む
請求項４から請求項６の何れか一項に記載の情報処理装置。
【請求項８】
前記特定の処理は、前記測距対象領域が第１撮像器によって撮像されることで得られた画像に基づいて前記物体までの第２距離を測定する画像使用型測距を含む
請求項４から請求項７の何れか一項に記載の情報処理装置。
【請求項９】
前記プロセッサは、前記照射タイミングと前記受光タイミングとに基づいて前記第１距離を測定する動作に並行して、前記測距対象領域が第２撮像器によって撮像されることで得られた画像に基づいて前記物体までの第２距離を測定する画像使用型測距を行い、
前記特定の処理は、前記画像使用型測距の測距結果に基づく処理を含む
請求項４から請求項７の何れか一項に記載の情報処理装置。
【請求項１０】
前記画像使用型測距は、位相差画素から前記画像として得られた位相差画像に従って前記第２距離を測定する位相差画像使用測距、ステレオ撮像方式で前記画像として得られたステレオ画像に従って前記第２距離を測定するステレオ画像使用測距、及び前記画像から検出された物画像であって、大きさが既知の物を示す物画像に従って前記第２距離を測定する物画像使用測距のうちの少なくとも１つである
請求項８又は請求項９に記載の情報処理装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示の技術は、情報処理装置、撮像装置、情報処理方法、及びプログラムに関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、レーザ光発信装置と、レーザ光発信装置から発射されたレーザ光を計測対象に対して送信し、計測対象からの反射光を集光する光学系を備えたレーザ測距装置が開示されている。特許文献１に記載にレーザ測距装置は、光学系受信視野の透過位置と大きさとを視野内で任意に変更可能な視野制限機構を備え、受信視野内の視野制限機構を経た位置の計測対象内の計測目標までの距離を計測する。
【０００３】
特許文献２には、車両の進行方向に向けて電磁波を出射し、電磁波の反射波に基づいて物体を検知する物体検知装置が開示されている。特許文献２に記載の物体検知装置は、電磁波を、水平方向と垂直方向に、スキャン範囲においてスキャンしつつ出射する出射手段と、電磁波の反射波を受信する受信手段と、受信手段により受信された反射波のレベルを取得する取得手段と、反射波のレベルが最大となる領域の垂直方向の位置と、スキャン範囲の垂直方向の中心の位置に基づいて第１のズレ補正量を演算する演算手段と、演算手段により演算された第１のズレ補正量に基づいて、スキャン範囲の垂直方向の中心の位置を補正するとともに、反射波により物体からの距離を計測する補正手段と、を備えている。また、特許文献２に記載の物体検知装置の出射手段は、スキャン範囲の垂直方向の中心の位置を中心とする中心領域において、水平方向のうちの所定の方向である第１の方向にスキャンし、中心領域の上の領域において、第１の方向と逆方向である第２の方向にスキャンしつつ出射する第１のスキャン処理と、中心領域において第１の方向にスキャンし、中心領域の下の領域において第２の方向にスキャンしつつ出射する第２のスキャン処理とを行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２００３－０５７３４３号公報
特開２００６－３４９６９４号公報
【発明の概要】
【０００５】
本開示の技術に係る一つの実施形態は、測距対象として意図しない光沢性物体からの反射光に起因する誤測距を回避することができる情報処理装置、撮像装置、情報処理方法、及びプログラムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示の技術に係る第１の態様は、プロセッサと、プロセッサに接続又は内蔵されたメモリと、を含み、プロセッサが、光照射器が光を測距対象領域に向けて面照射した照射タイミングと、光の測距対象領域からの反射光を受光器が受光した受光タイミングとに基づいて測距対象領域内の物体までの第１距離を測定し、第１距離が、光照射器による面照射に対応する受光期間内の複数の受光タイミングに受光器によって生成された複数の信号のうち、複数の信号の関係と複数の信号の強度とに基づいて選択された信号に対応する受光タイミングと照射タイミングとに基づいてプロセッサによって測定される情報処理装置である。
【０００７】
本開示の技術に係る第２の態様は、第１距離の測定に用いられる受光タイミングが、複数の信号のうちの強度が２番目に大きな信号に関する反射光を受光器が受光したタイミン
グである第１の態様に係る情報処理装置である。
【０００８】
本開示の技術に係る第３の態様は、プロセッサが、複数の信号の強度に、第１閾値以上の第１強度と、第１閾値未満であり、かつ、第１閾値よりも小さな第２閾値以上の第２強度とが含まれている場合に、特定の処理を実行する第１の態様又は第２の態様に係る情報処理装置である。
【０００９】
本開示の技術に係る第４の態様は、第１閾値及び第２閾値が、環境光によるノイズ成分に基づいて定められている第３の態様に係る情報処理装置である。
【００１０】
本開示の技術に係る第５の態様は、第１閾値が、受光タイミングが遅くなるほど減少する値である第３の態様又は第４の態様に係る情報処理装置である。
（【００１１】以降は省略されています）

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